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通过定量FTA分析降低制造设备中故障的可能性
用于断层和潜在的对策。本研究论文的目的是计算最高事件的概率 - 使用FTA的过程失败，并提出了一种技术，以优先考虑根据制造商的要求，并减少了最高事件故障的可能性。我们已经构建了一棵定性故障树，以使用Koch KBS-PL机器在水泡包装中生产出办公组件。我们定义了顶级事件G - 在机械Koch KBS-PL机械上包装和密封的办公组件的生产。然后，我们定义了导致最佳事件的事件，直到个人故障因素。基于故障树与故障概率之间的联系，我们进行了定量分析以确定单个事件故障的概率。我们发现G失败的可能性为5.04％。随后，我们确定了哪些因素最明显地降低了因子G失败的可能性。这些是：E - 进料速率，F - 冷却，Al - 不正确的设置和D - 折断。已经证明，通过控制这4个因素，我们可以将最高事件G失败的可能性降低到2.36％，前提是采取了有效的措施。最终提案满足了几家制造商的要求，以快速，高效且具有成本效益的解决方案。我们创建了一个建议，可以节省时间，具有最少的软件和硬件要求，并且易于使用。这优先考虑措施设计的因素。该提案的效率和有效性是我们确定了断层树中最弱点，最大程度地导致最高事件失败。
定量推理：概率，统计...
本课程的大多数包括使用数学技术来研究现实问题。因此，您将期望您写出清晰的数学和合理的论点，也可以解释您获得的结果。通常，您将被分配一个现实生活中的问题。然后，您必须将其转变为数学问题，使用类工具解决此问题，然后最终回答现实世界中的问题。这是一项谨慎的工作，需要培训。因此，每当您进行锻炼（在家中或在课堂上），您应该始终在干净的纸上写下所有内容，而无需使用快捷方式，就好像它是作业作业一样。您不仅会测试和磨练自己的技能，而且还可以帮助您记住材料。
BAB III METODE PENELITIAN -UPI存储库
穆罕默德·达德（Muhammad Daud），2023年实施椭圆密码学（ECC）加密和隐身术在保护印度尼西亚大学教育形象的信息中传播频谱| repository.upi.edu | Library.upi.edu
博士A. MOHANBABU ME，博士，助理教授（高级），SRM 科学技术学院，Bharathi Salai，Ramapuram，钦奈，泰米尔纳德邦
Dr. A. MOHANNBABU ME，博士，助理教授（高级），SRM 科学技术学院，Bharathi Salai，Ramapuram，钦奈，泰米尔纳德邦 600089。A. Mohanbabu 博士分别于 2011 年和 2013 年获得印度钦奈安娜大学电子与通信工程学士 (BE) 学位和印度钦奈安娜大学 VLSI 设计硕士学位 (ME)。他于 2018 年 3 月获得博士学位，论文题目为“具有增强模式 (E-Mode) 操作的高级 III-V 异质结构量子阱器件，用于高功率开关、模拟/射频应用”，印度钦奈安娜大学信息与通信工程系，研究领域为复合半导体器件建模与仿真。此外，他还获得了 CSIR HRD 的高级研究奖学金 (SRF) [奖学金编号：(09/468/0497/2016 EMR-I)]，以进行为期两年的全日制博士研究。目前，A. Mohanbabu 博士在印度钦奈拉马普拉姆 SRM 科学技术学院电子与通信工程系担任助理教授。他在同一领域的国际知名期刊上发表了近 22 篇科学索引 (SCI) 期刊和 4 篇 Scopus 期刊。他是各种期刊的审稿人，例如 IEEE Transaction on Device Materials and Reliability、IEEE Access、IETE Technical Review 等。他目前的兴趣是纳米电子器件建模、高功率 GaN 器件的模拟和特性。
