Svensk Byggtjänst 调查显示,在建筑过程中使用高效的数字通信可以降低 15-25% 的成本。这一潜力的一个重要部分是使用建筑信息标准。BISI 项目研究了建筑信息标准的使用及其对创新的影响。标准主要被理解为信息分类和建筑流程规则。创新有助于增加价值,而不仅仅是降低成本。BISI 文献研究揭示了建筑相关标准化的多重特性。我们的概念是建筑信息标准,因为相关标准不仅仅是对信息进行排序(分类),它们还涵盖了其他方面的标准,例如流程规则。文献综述还发现标准和创新之间存在许多有利的联系。
1微生物学和感染控制部,Vrije Universiteit Brussel(VUB),大学医院布鲁塞尔大学(UZ Brussels)(UZ Brussels),1090年,布鲁塞尔,比利时2号布鲁塞尔2号制药科学系,实体或体外毒理学,体外毒理学(BISI),布鲁塞尔大学免费大学(VUB),Laarbeeklaan 103,1090 Brussels,比利时4号布鲁塞尔4号,安特卫普大学生物科学工程系(UA),2020年安特斯特普,比利时5布鲁斯尔5布鲁塞尔IVF,大学医院Brussels(UZ Brussels) (vub),laarbeeklaan 103,1090布鲁塞尔,比利时 *通信:thomas.demuyser@uzbrussel.be
Ilaria Greco ID 1 *,Lyelic Beaudrot 2.3,Chris Sutherland 4,Simone Tenan 5,Syone 2.3,Daniel Gorzynski 6,Ahumada 13,Rajan Amin 14,Megan Baker-Watton 1 Cremonesi 1 Cremonesi 1 Cremonesi 1 Cremonesi 1 Cremonesi 23:Adeline Fayolle 22:28,Adeline Fayolle 22:28,Davy Fonty Harry 31 22 Alys Granados 32.33,Patrick A. Jansen 34.35,Jayasilan Mohd-Azlan 11,Caspian Johnson Marcelo Magio 21:41,42,Emanuel H. Martin 43,Adriano Martinole版本28,Patrics C. Wright C. Wright C. Wright 25.50,C.
数据可用性声明:支持本研究结果的数据可根据合理要求从通讯作者处获取。1 H. Amano、Y. Baines、E. Beam 等人,2018 年 GaN 电力电子路线图,Journal of Physics D: Applied Physics。51,(2018)。2 K. Husna Hamza 和 D. Nirmal,GaN HEMT 宽带功率放大器综述,AEU - 国际电子和通信杂志。116,153040 (2020)。3 G. Meneghesso、M. Meneghini、I. Rossetto、D. Bisi、S. Stoffels、M. Van Hove、S. Decoutere 和 E. Zanoni,GaN 基功率 HEMT 的可靠性和寄生问题:综述,半导体科学与技术。31,(2016)。 4 JA del Alamo 和 J. Joh,GaN HEMT 可靠性,微电子可靠性。49,1200-1206 页 (2009)。5 M. Meneghini、A. Tajalli、P. Moens、A. Banerjee、E. Zanoni 和 G. Meneghesso,基于 GaN 的功率 HEMT 中的捕获现象和退化机制,半导体加工材料科学。78,118-126 页 (2018)。6 B. Kim、D. Moon、K. Joo、S. Oh、YK Lee、Y. Park、Y. Nanishi 和 E. Yoon,通过导电原子力显微镜研究 n-GaN 中的漏电流路径,应用物理快报。104,(2014)。 7 M. Knetzger、E. Meissner、J. Derluyn、M. Germain 和 J. Friedrich,《用于电力电子的碳掺杂变化与硅基氮化镓垂直击穿之间的关系》,《微电子可靠性》。66,16-21 (2016)。 8 A. Lesnik、MP Hoffmann、A. Fariza、J. Bläsing、H. Witte、P. Veit、F. Hörich、C. Berger、J. Hennig、A. Dadgar 和 A. Strittmatter,《碳掺杂氮化镓的性质,固体物理状态 (b)》。254,(2017)。 9 B. Heying、EJ Tarsa、CR Elsass、P. Fini、SP DenBaars 和 JS Speck,《位错介导的氮化镓表面形貌》,《应用物理学杂志》。 85,6470-6476 (1999)。