本卷是两卷系列中的一本,阐述了通信电子 (C-E) 设备和设施的接地、连接和屏蔽理论。接地、连接和屏蔽是复杂的主题,过去人们对其存在很多误解。这些主题本身是相互关联的,涉及从电化学和冶金到电磁场理论和大气物理学等广泛的主题。这两卷将这些不同的考虑因素简化为一组可用的原则和实践,可供所有关注和负责复杂 C-E 系统安全和有效运行的人使用。在可能的情况下,这些原则被简化为具体步骤。由于存在大量相互关联的因素,因此无法为每种可能的情况制定具体步骤。但是,一旦定义了给定情况的要求和约束,就可以利用所提出的原则制定解决问题的适当步骤。
使用铜线或绝缘线进行引线键合可带来许多优势,但也带来许多新挑战。全球范围内对此进行了深入研究,并得出了许多新发现和解决方案。本文回顾了使用铜线或绝缘线进行先进微电子封装的引线键合的最新进展。本文回顾了最近发表或发布的期刊文章、会议文章和专利。本文简要分析了使用铜线或绝缘线进行引线键合的优势和问题/挑战,例如引线开路和短尾缺陷、针脚/楔形键合的键合性差、铜线氧化以及弱支撑结构上的硬线。本文讨论了使用铜线或绝缘线进行引线键合的多种问题解决方案以及最新发现/发展。通过提供的参考文献,读者可以通过阅读原始文章和专利文件进行更深入的探索。2010 Elsevier Ltd. 保留所有权利。
(Ln) 基复合物应运而生,表现出高磁阻塞温度,通常还具有足够的氧化还原稳定性。[16–18] 然而,最近旨在研究电子通过单个 SMM 的磁性系统的实验表明,至少在基于 Ln 的双层 SMM 中,4f 电子通常难以接近,因为它们的空间局域化和能量位置远离费米能级。[19–25] 因此,通过电子传输直接寻址分子内部的 4f 磁矩需要系统具有可行能量的电子轨道和一定的空间延伸,就像早期的 Ln 物种一样 [25] 或电子态与 4f 轨道强烈杂化而不会改变磁性复合物特殊磁性的系统。 [26,27] 在这方面特别有趣的是功能化的内嵌二金属富勒烯,它在两个铁磁耦合的 Ln 原子之间引入了单电子键,是目前最有前途的 SMM 类型之一。 [28] 然而,尽管它们的碳笼完全吸收了表面沉积时的电荷重新分布,有利于其磁稳定性, [29] 但与此同时,它们的内嵌结构阻碍了直接进入分子内部,这在应用方面是不可避免的。 因此,到目前为止还没有报道过任何实验证明能够在传输测量中进入它们的磁芯。 在本文中,我们重点研究内嵌二金属富勒烯复合物 Ln 2 @C 80 (CH 2 Ph),以下称为 { Ln 2 }。 [30] 这些分子由一个大致呈球形的富勒烯笼组成,里面包裹着两个 Ln 3 +离子,见图 1 a。两种镧系离子共用一个单电子共价键,通过在 C 80 笼中添加 CH 2 Ph 侧基来稳定该键。这种金属-金属键导致 [Ln 3 + – e – Ln 3 + ] 系统中的 Ln 中心之间发生强交换,从而导致块体 [28] 和亚单层中均具有出色的磁性。[31,32] Liu 等人 [33] 已证明 Ln-Ln 键合分子轨道 (MO) 分裂成两个完全自旋极化且能量分离良好的组分,未占据组分位于笼基最低未占据 MO (LUMO) 下方并部分定位在 C 80 笼上,因此原则上可以在扫描隧道显微镜/光谱 (STM/STS) 中寻址。
“使用光子线键合在硅光子集成芯片上的包装可调单模III-V激光”,(2024)Deenadayalan等人,IEEE,IEEE 74th(ECTC),Denver,Colorado,Colorado,USA
许多因素可能对父母的关系产生负面影响。与贫困,住房不良,生活成本或父母在童年,怀孕或出生中的负面或创伤经历有关的父母压力可能会浮出水面。家庭虐待,父母的滥用和严重的心理健康状况对父母的关系产生特别高的影响。在怀孕期间和生命的头三年投资并支持父母的关系,尤其是对于在贫困中成长的儿童及其父母,可以提高终身健康和福祉的可能性。牢固的父母关系是改善教育,社会和经济成果的基础。投资父母的关系也是明智的投资。
铟凸点阵列在量子计算中的应用越来越广泛,因为其对共面性和键合线厚度控制以及高质量电气互连的要求非常严格,红外焦平面阵列 (IR FPA) 显示出对更高分辨率的持续追求,这意味着更小的凸点、更高的密度和更大的表面积,最后,消费市场对 µLED 或 Micro LED 的需求越来越大,这意味着细间距铟互连需要更高的吞吐量。
2 Fraunhofer IZM Berlin Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin Germany Email: martin.schneider-ramelow@izm.fraunhofer.de 摘要 本文介绍了德语国家和欧洲国家广泛使用的引线键合标准 DVS-2811。该标准于 1996 年推出,现在包含所有当前使用的键合方法的定义和限值,包括其他所有官方标准中都没有的重/粗引线键合连接的剪切测试。特别是考虑到电池键合用户数量的不断增长,指定适当的粗引线测试限值具有重要意义。除了概述当前状态之外,还展望了未来 1-2 年的进一步更新。 关键词 引线键合、拉力测试、剪切测试、质量、标准、测试 I. 简介 标准和细间距引线键合技术继续经历小幅发展,材料更加精炼、几何尺寸更小,可靠性要求也不断变化。当前可用的引线键合标准无法回答在测试此类先进引线键合触点时出现的问题。需要在这一领域开展活动。向新技术领域的发展在重引线键合中更为明显。一个例子是,用于生产电池模块的大面积键合机的需求不断增加。此外,新功能已集成到现有的键合机机器平台中,包括激光键合技术(F&K Delvotec)和智能焊接技术(Hesse Mechatronics、Kulicke & Soffa)。目前没有跟上这种快速发展的一个方面是过程控制和质量检查的标准化。现有标准(如 MIL-883、ASTM F1269 或 JEDEC 22B116B)不包含任何测试粗线(直径 > 100 µm)的指导。偏离此几何形状(如重带或超声波焊接成型部件或接线片)也没有得到解决。这给用户、机器供应商和最终客户带来了挑战。测试规范、工具属性、极限值等的定义必须单独讨论并达成一致。25 年来,DVS 公告 2811 一直
Peng, L. (2012)。用于集成电路 3-D 堆叠的晶圆级细间距 Cu-Cu 键合。博士论文,南洋理工大学,新加坡。
基于晶圆键合与智能切割技术的功能化GaN异质集成衬底 丁家欣,中国科学院上海微系统与信息技术研究所集成电路材料国家重点实验室
PDMS Poly(dimethylsiloxane) P(DMS- co -HMS) Poly(dimethylsiloxane- co -methylhydrosiloxane) PE Polyethylene PEG Poly(ethylene glycol) PMMA Poly(methyl methacrylate) PP Polypropylene PPG Poly(propylene glycol) PPM Post-polymerization modification PPO Poly(propylene氧化物)PTMEG聚(四甲基乙醚乙醚)ptmeg-u up-u up-u up-u up-upyechelic聚(四甲基二甲基乙醚)PTMEG-u甘油PTMEG-ptmeg-ptmeg ptmeg ptmeg ptmeg ptmeg ptmeg ptmeg氧化物)聚(四甲基甲基乙醚) acrylate SET-LRP Single electron transfer living electron polymerization SPM Supramolecular polymer materials TEG Tetraethyleneglycol T g Glass transition temperature TMS Trimethylsilyl TPE Thermoplastic elastomer UPy 2-Ureido-4-pyrimidinone (UP) 3 T UPy-terminated three-arm siloxane oligomers UPy-MA UPy-methacrylate