结节症是一种以非肉芽肿性炎症为特征的多系统综合征,尽管坏死性结节性肉芽肿被认为是该疾病谱系的一部分。药物诱导的结节病样反应(DISR)是一种全身性肉芽肿反应,在组织病理学上与原发性结节病相同,主要是在使用诸如肿瘤坏死因子α拮抗剂之类的生物学之后描述的,但也是抗CD20(Rituximab)。作者提出了一个非常罕见的病例,即患有原发性Sjögren综合征(PSS)的女性开始进行利妥昔单抗以进行疾病控制,该疾病控制以3年的渐进式渐进性全身性肉体反应进化。人们对B细胞在结节病中的潜在作用有很多猜测。的发现表明,在结节病患者中,B记忆细胞的减少和调节性B细胞的幼稚和活性子集的增加,与利妥昔单抗治疗后,与幼稚的B细胞的重生相似。此外,与常见的可变免疫缺陷性和免疫重建综合征相关的肉芽肿性淋巴细胞间质性肺疾病中,人类免疫缺陷病毒在人类免疫缺陷病毒中表现出与DISR的临床相似性,并且可以帮助公开新的细胞生成和生理途径。对作者的知识,这是全身性结节病的第一报道,类似于抗CD20治疗后的坏死性肉芽肿的反应,也是PSS患者中的首次描述 - 强调了识别性肌瘤性肉芽肿性肉芽肿的重要性的重要性。尽管这是一种非常罕见的不利影响,但该病例增强了在生物制剂后积极寻找DISR的重要性,即使在接受救助标签疗法(例如利妥昔单抗)的患者中也是如此。
简介:牙周病是由于位于龈上或龈下区域的致病细菌组成的细菌生物膜引起的。这些细菌可进入牙龈组织并引发炎症,导致牙龈炎和/或牙周炎。它们可进入血液,在体内迁移并到达口腔的远处。牙周病已被广泛研究并被认为是世界范围内一个重要的口腔健康问题。尽管传统上牙周病与成年人口有关,但儿童和青少年牙周病的患病率因其对长期口腔和全身健康的影响而受到越来越多的关注。方法:参考综合文献综述,使用电子数据库 lilacs、pubmed 和 scielo 中的数据库。选定与主题相关的文章目的:探讨儿童青少年牙周病与全身疾病的关系,旨在加深对该年龄段口腔与全身健康之间相互作用的认识。结果:选定了 50 篇文章,这些文章表明,牙周病是由于牙齿上的细菌生物膜数量与宿主对这种侵袭的反应之间的不平衡引起的。这种不平衡与局部因素有关,例如使用牙齿矫正器以及牙齿拥挤;以及系统性情况,例如糖尿病和肥胖症。讨论:通过研究发现,儿童青少年牙周病与全身疾病之间存在一定的关系。我们所得到的包括从牙龈炎的存在到导致侵袭性牙周炎的严重情况的所有信息。
Leopoldo Angrisani, Department of Electrical and Information Technologies Engineering, University of Napoli Federico II, Naples, Italy Marco Arteaga, Departament de Control y Rob ó tica, Universidad Nacional Aut ó noma de México, Coyoac á n, Mexico Bijaya Ketan Panigrahi, Institute of Electrical Engineering, New Delhi, New Delhi , India Samarjit Chakraborty, Faculty of Electrical Engineering and Information Engineering, TU Munich, Munich, Germany Jiming Chen, Zhejiang University, Hangzhou, Zhejiang, China , National University of Singapore, Singapore, Singapore R ü diger Dillmann, Humanoids and Intelligent Systems Laboratory, Karlsruhe Institute for Technology, Karlsruhe, Germany Haibin Duan, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing, China Robotics CAR (UPM-CSIC), Universidad Polit é cnica de Madrid, Madrid, Spain Sandra Hirche, Department of Electrical Engineering and Information Science, Technische Universit ä t München, Munich, Germany Traffic Control and Safety, Beijing Jiaotong University, Beijing, China Janusz Kacprzyk, Systems Research Institute, Polish Academy of Sciences, Warsaw, Poland Alaa Khamis, German University in Egypt El Tagamoa El Khames, New Cairo City, Egypt Torsten Kroeger, Stanford University, Scal Engineering Department, CA, University of Texas at Arlington, Arlington, TX, USA Ferran Mart í n, Department of Electrical Engineering, Universitat Aut ò noma de Barcelona, Bellaterra, Barcelona, Spain Tan Cher Ming, College of Engineering, Nanyang Technological University, Singapore, Singapore Wolf Mink Institute of Technology, Ulman University, Germany deep Misra, Department of Electrical Engineering, Wright State University, Dayton, OH, USA Sebastian M ö ller, Quality and Usability Laboratory, TU Berlin, Berlin, Germany Subhas Mukhopadhyay, School of Engineering & Advanced Technology, Massey University, Palmerston North, Manawatu-Wangan Engineering, New Zealand Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ, USA Toyoaki Nishida, Graduate School of Informatics, Kyoto University, Kyoto, Japan Federica Pascucci, Department of Engineering, Universit à degli Studi “ Roma Tre ” , Rome, Italy Yong Qin, State Key Laboratory of Rail Traffic Control and Safety, Beijing Jian University, Electoral College, Beijing, China electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore, Singapore Joachim Speidel, Institute of Telecommunications, Universit ä t Stuttgart, Stuttgart,德国 Germano Veiga,FEUP Campus,INESC Porto,葡萄牙波尔图 Haitao Wu,中国科学院光电研究院,中国北京 Junjie James Zhang,美国北卡罗来纳州夏洛特
