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射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
报告 - 2024 年全国科学日，于...进行
活动由 SCTIMST 基本军事训练部负责人 PR Harikrishna Varma 博士的欢迎致辞拉开帷幕。SCTIMST 主任 Sanjay Behari 教授致辞，探讨了幸福、音乐及其与大脑不同半球的联系。随后，主宾喀拉拉大学计算生物学和生物信息学系教授兼前系主任 Achuthsankar S. Nair 教授发表了讲话。他的演讲主题是“科学气质和审美光彩”。他强调了节奏在音乐和科学气质中的重要性，这两者最终都会带来快乐的精神状态。他赞赏我院在组织国家科学日庆祝活动方面所做的环保工作。随后，SCTIMST 心脏病学系教授 Narayanan Namboodiri KK 博士发表了题为“健康未来的基石”的演讲。小组讨论以“成为更好的学习者”为主题，由师生参与，Manju S. 博士和 Dinoop KP 博士主持。副院长（负责博士事务）Umashankar PR 博士致辞并宣布了学院国家科学日庆祝活动中各项竞赛的获奖者。Gijo Raj 博士荣获“技术相关创意”类别的优异奖状，计算机部门技术助理 Manoj M. 先生荣获“短文”类别的优异奖状，Remya NS 博士荣获“摄影”类别的优异奖状。 Jayasree RS 博士宣布了 2024 年 2 月 23 日 SCTIMST 开放日期间举行的“最佳创意大赛”的获胜者。在 333 名参赛者中，来自喀拉拉大学动物学系的 Rehana Raveendran 女士、来自特里凡得琅国立学院的 Shreya Rajeesh 女士和来自特里凡得琅工程学院的 Shanoj P. 先生获得了成就证书。
的衰老及其对EM进行排放的影响
摘要 - IGBT在各种电力电子应用中扮演至关重要的角色，要求长时间的可靠性。了解其故障机制对于制造商和工程师至关重要。这项研究通过将IGBT降解（尤其是死亡氧化物污染和栅极氧化物污染）与进行的电磁（EM）扰动相关联，以解决差距。使用功率循环系统在600V，16A IGBT上进行加速衰老，揭示了静态和动态参数的显着变化。切换瞬变显示出归因于经验丰富的降解的转弯速度放缓。实验设置证明了降解，切换瞬变（尤其是收集器电流（I C）关闭）之间的直接联系，并减少了执行的EM扰动。关键字 - IGBT，模具降解，闸门氧化降解，加速衰老，IGBTS的信号光谱分析，进行了EM发射。
使用武力政策附录 A 进行能量... - NJ.gov
1.1 本《总检察长使用武力政策附录》（政策或《使用武力政策》）规定了传导能量装置 (CED) 和其他经授权的非致命性装置及弹药的使用。本政策不涉及辣椒素油树脂（“OC 喷雾”）、催泪瓦斯或其他化学制剂、干扰装置（例如“闪光弹”）或警棍的使用。本政策取代并替代了总检察长办公室或刑事司法司 (DCJ) 就 CED 和其他非致命性装置及弹药制定的所有其他政策、指令、备忘录或指导。1.2 本政策第 3 节定义了 CED、非致命性装置和非致命性弹药等术语。 1.3 任何传导能量装置或非致命装置的部署均属于“增强机械力”的定义，并且只有符合政策（包括本附录中的规定）时才会获得授权。
柬埔寨 EL.E.. MEIHS 已进行 S~EEP 。 ...
4 月 23 日，Cll-S4N 186-lli;t;，xr 2723)，可能杀死一名美国/ARVN 士兵。4 月 26 日，美国发射了几发炮弹。南越炮兵。来自南越 CAI VANG 哨所 ClS-56N U5-2SE、WT 55S.7:'> 的炮火落入。柬埔寨领土 SVAY ANGONG ClS-58N'1S5-33EJ MT 6Sl3)，Prey Veng MSD~ 杀死两名村民并追捕另外两人。据报告，在 KANDAL MSD，4 月 25 日，在 PREK DENG YANG、·l-H 1517 Clif-54N llf5-'.lf7E> 地区开始了一次清理行动。四月初，柬埔寨 EL .E .. MEIHS 进行了一次 S~EEP 。。o~ · ION IN THE BEt!NG ~:: ;;;~Jl~fm:THE，····· · ············ · ········ 疑似越共基地的位置 A ; (3/0 '·，R8l'.""69。RUil""", ---- ----~--tlC .m ~ 94-69，跟进 N.R ~。29S9S'7Z。， ...,2 ~CEM~T - 9，281S34Z。2" .· .j - 9，28B61"Z。 T3li8-69，· / 295'22i!Z)。..军区 2 CA BODIAN 分子与叛军发生冲突WORKING_;IN A fi-Et .D IN NO .4 月 27 日，RTHWESTERN KOH KONG MSD。柬埔寨人回收的材料包括几种泰国产品和
挪威警方使用传导能量武器
结果：本研究发现，CEW 主要用于对付精神不稳定、表现出攻击性和危险行为的个人。研究结果表明，CEW 填补了胡椒喷雾或警棍与枪支之间的空白，是对其他强制手段的补充。访谈结果表明，在引入 CEW 之前，警官可以解决情况，但使用 CEW 后，他们可以用更少的侵入性武力和更低的受伤风险来解决问题。根据访谈，警官们感到更安全，主要是因为 CEW 让他们有机会在不开枪的情况下进行干预。调查显示，在对警察的威胁或对警察或对手的伤害方面，研究组和对照组之间或不同时间点之间没有显著差异，而访谈结果表明，警官们认为 CEW 降低了警察和对手受伤的风险。受访者一致认为 CEW 是有效的，但在使用 CEW 时需要注意一些因素，例如厚衣服和移动目标。在为期两年的试验中，超过 90% 的 CEW 情况涉及男性警官，而在接触过警方 CEW 的人员中，女性警官不到 10%。公民调查结果表明，公民认为可以信任警察做出与使用武力有关的决定。调查还显示，获得过一些 CEW 信息的公民对 CEW 的态度明显比没有信息的公民更为积极。此外，获得 CEW 信息的群体还表示，如果附近的警察配备 CEW，他们会感到更安全。
USAG-Fort Detrick 于 8 月 20 日举行市政厅会议 (Glen
壁炉等o 未通知租户就关闭了工单 o 进行维护但未通知已修复的内容 o 房屋尚未准备好供租户入住 o 游乐场设备生锈且边缘锋利；游乐场增多 o 紧急电话有时无法接通 o 维护工人的证书 o 房屋前的人行道维修 o 第三方应答服务未提交工作订单或通知
多音 EMI 对集成振荡器传导抗扰度的协同效应
稿件收到于 2022 年 3 月 28 日；修订于 2022 年 5 月 3 日；接受于 2022 年 5 月 12 日。导致这些结果的研究获得了欧盟“地平线 2020”研究和创新计划下玛丽居里资助协议编号 812790（MSCA-ETN PETER）的资助。（通讯作者：Qazi Mashaal Khan。）Qazi Mashaal Khan 就职于 ESEO 工程学院、电气和电子工程系、RF-EMC 研究小组，49107 昂热，法国，同时也就职于法国国立应用科学研究所，35708 雷恩，法国（电子邮件：qazimashaal.khan@eseo.fr）。 Lokesh Devaraj 和 Alastair Ruddle 就职于 HORIBA MIRA Limited，地址：英国纽尼顿，CV10 0TU（电子邮件：lokesh.devaraj@horiba-mira.com；alastair.ruddle@horiba-mira.com）。Mohsen Koohestani、Mohamed Ramdani 和 Richard Perdriau 就职于 ESEO 工程学院电气和电子工程系 RF-EMC 研究组，地址：法国昂热 49107，以及雷恩第一大学雷恩电子和电信研究所，地址：法国雷恩 35042（电子邮件：mohsen.koohestani@eseo.fr；mohamed.ramdani@eseo.fr；richard.perdriau@eseo.fr）。数字对象标识符 10.1109/LEMCPA.20XX.XXXXXX
对COTS处理器进行了EMI敏感性分析作为老化的功能
技术扩展使电子设备可访问并为全球几乎每个人都能负担得起，并且自六十年代以来就已经提高了集成电路（IC）和电子功能。尽管如此，人们众所周知，这种扩展为半导体行业带来了新的（和主要）可靠性挑战[1-4]。国际标准已被提出并用于测试ICS的衰老（例如MIL-STD-883H [5]的第1015.9部分），以及进行的和IRRA和IRRA介绍电磁干扰（EMI）[6-9]。尽管如此，这些标准并未考虑到衰老的可能综合作用可能对IC的免疫水平产生。先前已发表的工作[2]根据直接功率注入（DPI）标准[10]，解决了EMI对商业微控制器（本文中的零件编号和制造商）的影响。在[4]中，作者提出了一个EMC可靠性模型，以预测IC的EM发射。该模型考虑了高温，电流和电压应力的组合，考虑了衰老。基于商业FPGA（XI Linx Spartan 6）验证了EM预测模型。在[11]中，作者提出了一种建模方法，旨在预测衰老对加速寿命测试后（由于高温）后的相锁环（PLL）电路的易感水平的影响。根据IEC 62132-3标准[10]定义的直接功率注入（DPI）方法对PLL敏感性进行了表征。其他作者[12，13]发表了一项作品，分析了执行EMI和总离子剂量（TID）