MicroGe 探测器是一款紧凑型电冷却、无风扇、轻便的高纯锗探测器 (HPGe)。这款先进的探测器冷却时间短,可在 30 分钟内完成光谱测量,同时保留实验室级探测器的优势。这意味着伽马射线能量从约 10 keV 到几 MeV 具有出色的能量分辨率。此外,MicroGe 超高真空技术提供了无热循环探测器:MicroGe 探测器可以根据需要打开和关闭,而无需经历整个耗时的热循环直至室温。这是一项有效的省时功能,可优化 MicroGe 探测器的使用。
欧洲标准 Impaq 玻璃破碎:PD 6662 和 EN 50131 3 级环境等级 II。符合欧盟 (EU) 电磁兼容性 (EMC) 指令 89/336/EEC(经 92/31/EEC 和 93/68/EEC 修订)。经 BS EN 55022 B 级和 BS EN 50130-4 : 1996 批准。CE 标志表明本产品符合欧洲安全、健康、环境和客户保护要求。Texecom 产品受英国和国际专利、商标和注册设计权保护。英国注册设计编号 2105723。© 2009 Texecom Limited。(LIT-0022)
在制定本研讨会协议的过程中,很明显,至少有两个与金属探测器相关的领域需要进一步研究。第一个是一般意义上的土壤和地形的电磁特性,以便预测金属探测器在不同雷区的性能。第二个是在可靠的统计测试的基础上评估地雷探测的性能。这两个要求严格的研究领域的工作目前正在进行中。
HFW-MA-05是无线多标准检测器技术的最新技术。它是一种完全智能的设备,与所有Hyfire Wireless Translator和Expander模块兼容。该检测器设计用于开放区域保护,并将双路径烟雾和热检测技术结合起来,以提高性能,同时保持高水平的不需要警报排斥。利用良好的自适应无线电信号处理算法可确保实现最高水平的寿命和系统可靠性。内置的磁铁测试可以轻松激活以验证正确的功能和响应。
我们报告的测量值表征了动力学电感检测器阵列的性能,该阵列设计为25微米的波长和非常低的光学背景水平,适用于诸如低温冷却的空间望远镜上的远红外仪器。在低光通量下的脉冲计数模式下,检测器可以解析单个25微米光子。在集成模式下,检测器在70 ZW至200 fw的吸收功率中保持光子噪声有限,在6个以上的数量级上,限制了噪声等效功率为4。6×10 - 20 W Hz -1在1 Hz时。 此外,检测器在光载荷下至1 MHz的平坦功率光谱高度稳定。 确定检测器的操作参数,包括在铝吸收元件和准粒子自我重组常数中转化为准粒子的转化效率。6×10 - 20 W Hz -1在1 Hz时。此外,检测器在光载荷下至1 MHz的平坦功率光谱高度稳定。操作参数,包括在铝吸收元件和准粒子自我重组常数中转化为准粒子的转化效率。
在很大程度上,现代检测器获得的数据准确性基于计数单光子的能力。但是,您只能计算“看到”的内容。在常规硅传感器中,Ag辐射的三分之二的传感器通过传感器传递,因此从未被检测到。因此,吸收效率是每个检测器的关键特性,因为它直接影响了I/σ,尤其是非常弱反射的数据质量。Bruker Photon III结合了最新的混合模式技术与优化的X射线闪烁体。这种方法优化了X射线吸收和信号增益,消除了视差效应并获得更准确的数据。新的Photon III,他用一个新的,优化的闪烁体扩展了这一概念,以实现MO,AG和IN的近乎理想的量子效率。
泵垫460-15-XXX-SLD是密封泄漏检测器,可感知潜水泵上的密封故障。(xxx表示100或200)连接1。将泵垫安装在电动机控制面板内或附近的方便位置。如果位置是湿的或尘土飞扬的,则应泵仪安装在NEMA 4或12围栏中。可以使用两个#6或#8 x 5/8螺钉将泵的泵安装在后面板上,也可以将其折叠到DIN导轨上。2。将L1和L2连接到Pumpsaver端子条上的L1和L2,以备460-15-100-SLD的型号,或240VAC,用于460-15-200-SLD。3。将输出继电器连接到要控制的电路。4。连接探针。
灵活的大尺寸 CMOS 成像仪:• 耐辐射平台的高电光性能(低噪音、高 FWC、双增益)• 操作灵活 – 卷帘快门、全局快门和 HDR 操作• 可拼接设计,支持不同格式• 10µm 像素间距基线 – 可轻松扩展到 5µm、20µm 或 40µm,且 NRE 极低• 可用作标准 Si 或 CMOS HiRho• 初始原型以 9k 和 4.5k 格式制造
警告:管道探测器有特定的局限性。管道探测器不能替代开放区域烟雾探测器。管道探测器不能替代早期预警探测,也不能替代建筑物的常规火灾探测系统。烟雾探测器并非设计用于探测有毒气体,在某些火灾中,有毒气体会积聚到危险水平。这些设备在没有电力的情况下无法运行。由于火灾经常导致电力中断,EDWARDS 建议您与当地的消防专家讨论进一步的安全措施。
扫描电子显微镜与能量色散 X 射线光谱法 (SEM-EDS) 相结合是一种应用广泛的元素微分析方法。硅漂移探测器 (SDD) 的集成显著增强了 EDS 性能,由于其灵敏面积大、输出电容低,因此能够精确识别元素。对 SDD 的精确模拟可以提供洞察力,使未来模型的设计和优化成为可能,而无需昂贵且耗时的实验迭代。此外,当前基于模型的 EDS 应用量化方法已达到其最大预测精度。因此,创建更精确的模拟模型可以帮助在这些量化模型中实现更高的精度,这对所有 EDS 应用都具有极大的价值。考虑到这一目标,基于 Geant4、Allpix Squared 和 COMSOL Multiphysics 开发了一个用于在 EDS 中建模 SDD 的模拟框架。模拟涵盖整个物理流程,包括目标样品的特征 X 射线发射及其在探测器中的吸收。探测器内产生的电荷载体通过 SDD 的内部电场传播,并测量它们各自的电荷贡献以模拟 EDS 光谱。模拟模型与现有文献和内部实验测量结果进行了比较,在 SDD 调整良好的情况下显示出很强的一致性。讨论了模拟框架的局限性,并探索了进一步的研究以提高准确性和速度。关键词:X 射线光谱、硅漂移探测器、扫描电子显微镜、探测器模拟