- 仅由Serdes限制的车道速率(例如RTG4上的3.125 Gbps) - 对于整个温度和电压范围(即) 快速和慢速弯道) - 使用EDAC和SET过滤器 - 不需要特定的放置或定时限制。 - 即使超过80%的FPGA利用率RTG4上的3.125 Gbps) - 对于整个温度和电压范围(即快速和慢速弯道) - 使用EDAC和SET过滤器 - 不需要特定的放置或定时限制。- 即使超过80%的FPGA利用率
光盘 (CD) 具有许多优势。研究人员可以快速搜索 CD 上的大量文档,同时保护原始材料免受过度处理。作为一种廉价的分发工具,CD 可以在小空间内保存大量数据。在播放过程中,播放设备和声音载体之间不会发生接触,因此磨损最小。许多 CD 都包含错误检测和纠正 (EDAC) 系统,该系统允许在出现小错误或丢失时重建数字数据,从而实现完美复制。由于 CD 随时间变化不大(直到它们损坏),因此可以复制它们而不会丢失代际信息。
• Seek feedback • Encourage resident participation at Town gatherings Increase communication with tourists and visitors • Leverage exploreblue.ca • Leverage EDAC & Business Associations • Continue to work closely with regional tourism boards and associations Explore new methods of public engagement • News boxes / Suggestion boxes • Municipal podcast • Text messaging tool • Digital Screens in Municipal Facilities Leverage social media • Draft and execute detailed strategy • Leverage高水平的社区使用•鼓励持续的反馈加强青年参与度•“在市政厅工作一天”•理事会和工作人员的学校演讲•鼓励其他级别的政府参与
暂定日程 10:00 – 11:00 am 开幕式 欢迎致辞 印度工商联合会 (FICCI) TNSC 主席 Ar Rm Arun 先生 特别致辞 印度泰米尔纳德邦政府能源部秘书长 Vikram Kapur 先生 贵宾 总领事 HE Mr. Achim Fabig 德意志联邦共和国总领事馆 主宾开幕式致辞 Thiru P. Thangamani 泰米尔纳德邦政府电力、非传统能源开发、禁毒和消费税、糖蜜和防止腐败法案部长 结束语 EDAC 工程公司董事总经理 M Nandakumar 先生 11:00 – 11:20 am 咖啡休息 11:21 – 12:20 pm 全体会议 1:能源与环境 – 同步增长 能源效率 – 当前趋势 T Ramesh* 先生 DGM (Tech) EESL 能源公司的环境 CSR 举措
• Atomic Mass Unit (amu) • AWS: Amazon Web Services • Bump Plating Photoresist (BPR) • Chip to Wafer (CtW) • CL: Confidence Level • CMOS: Complementary metal-oxide semiconductor • Commercial Off The Shelf (COTS) • Complementary Field Effect Transistor (CFET) • ConOps: Concept of Operations • continuous wave (CW) • DDD: Displacement Damage Dose •设计技术合作/合成技术合作选择(DTCO/STCO)•动态随机访问记忆(DRAM)•EDAC:错误检测和校正•EEEE•EEEE•EEEE:电气,电子,电子力学和电流和电流和电子光学和电力•嵌入式动态随机访问记忆(EDRAM)晶体管(FEFET)•铁电随机访问存储器(FERAM)•铁电隧道连接(FTJ)•FET:FET:现场效应晶体管•FPGA•FPGA:现场编程的门阵列•完全自我对齐(FSAV)•GrandAccélérateurNational d'ions d'ions d'ions d'Ions d'ions lourds lourds(Ganil)
DFF触发器DMM数字万用表DMA直接内存访问DSP数字信号处理DSPI动态信号处理仪器DTMR分布式三模块冗余双CH。双通道DUT设备在测试ECC错误纠正代码下进行EDAC误差检测和校正EEE电气,电子,电子机械和机电EMAC设备监控器监控器监视器和控制EMIB多-DIE互连桥EPC EPC延长物理编码层ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ETIMERS ETIMER ETIMERS ETIMERS ETIMERS ETIMERS ETIMERS ETW Finite impulse response filter FMC FPGA Mezzanine Card FPGA Field Programmable Gate Array FPU Floating Point Unit FY Fiscal Year Gb Gigabit Gbps Gigabit per second GCR Galactic Cosmic Ray GEO geostationary equatorial orbit GIC Global Industry Classification GOMACTech Government Microcircuit Applications and Critical Technology Conference GPIO General purpose input/output GPIB General purpose interface bus GPU Graphics处理单元GR全球路线GRC NASA GLENN研究中心GSFC Goddard太空飞行中心双通道DUT设备在测试ECC错误纠正代码下进行EDAC误差检测和校正EEE电气,电子,电子机械和机电EMAC设备监控器监控器监视器和控制EMIB多-DIE互连桥EPC EPC延长物理编码层ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ESA ETIMERS ETIMER ETIMERS ETIMERS ETIMERS ETIMERS ETIMERS ETW Finite impulse response filter FMC FPGA Mezzanine Card FPGA Field Programmable Gate Array FPU Floating Point Unit FY Fiscal Year Gb Gigabit Gbps Gigabit per second GCR Galactic Cosmic Ray GEO geostationary equatorial orbit GIC Global Industry Classification GOMACTech Government Microcircuit Applications and Critical Technology Conference GPIO General purpose input/output GPIB General purpose interface bus GPU Graphics处理单元GR全球路线GRC NASA GLENN研究中心GSFC Goddard太空飞行中心
DFF 触发器 DMM 数字万用表 DMA 直接存储器访问 DSP 数字信号处理 DSPI 动态信号处理仪器 DTMR 分布式三重模块冗余双通道。双通道 DUT 被测设备 ECC 纠错码 EDAC 错误检测与纠正 EEE 电气、电子和机电 EMAC 设备监控和控制 EMIB 多芯片互连桥 EPCS 扩展物理编码层 ESA 欧洲航天局 eTimers 事件计时器 ETW 电子技术研讨会 FCCU 流化催化裂化装置 FeRAM 铁电随机存取存储器 FinFET 鳍式场效应晶体管 FIR 有限脉冲响应滤波器 FMC FPGA 夹层卡 FPGA 现场可编程门阵列 FPU 浮点单元 FY 财政年度 Gb 千兆位 Gbps 千兆位/秒 GCR 银河宇宙线 GEO 地球静止赤道轨道 GIC 全球行业分类 GOMACTech 政府微电路应用和关键技术会议 GPIO 通用输入/输出 GPIB 通用接口总线 GPU 图形处理单元 GR 全球路线 GRC NASA 格伦研究中心 GSFC 戈达德太空飞行中心
3D Three-dimensional ADC Analog-digital Converters Ag Silver APEX Advanced Photovoltaic Experiment APS Active Pixel Sensor ASET Analog Single-event Transient ASIC Application-specific Integrated Circuit BCH Bose–Chaudhuri–Hocquenghem BiCMOS Bipolar CMOS BJT Bipolar Junction Transistor BNL Brookhaven National Laboratory BoK Book of Knowledge Br Bromine CAD Computer-aided Design CCA Circuit Card Assembly CCD Charge-coupled Device CGS centimeter–gram–second CIS CMOS Image Sensor CL Confidence Level CMOS Complementary Metal Oxide Semiconductor CONOPS Concept of Operations COTS Commercial off the Shelf CRRES Combined Release and Radiation Effects Satellite CRUX Cosmic Ray Upset Experiment CTE Charge Transfer Efficiency DC Direct Current DDD Displacement Damage Dose DRAM Dynamic随机访问记忆DRM设计参考任务DSEE破坏性的单事件效应DSET DESED数字单事件瞬态DSNE设计规范,用于测试的EDAC错误检测和校正EEEE EEEE电气,电子,机电和电位电流ELDRE,并增强了低剂量评分的敏感性
许可申请编号客户代表官员或雇员联系部门1 201912200210 JS Sullivan Development Alvia Lei DBI 2 201912200210 JS Sullivan Development Willy Yau DBI Willy Yau DBI 3 201806283199 19IE-00377 California College of the Arts Norman Wong SFMTA 114 19IE-00377 California College of the Arts Berhane Gaime DPW 115 19IE-00377 California College of the Arts Edward Tang SFMTA 8 201806283199 California College of the Arts Natalie Lua DBI 9 201806283199 California College of the Arts Richard Tam DBI 10 202405232797 SHVO Rebecca Salgado Planning 11 202405232797 SHVO Claire Feeney Planning 12 202405232797 SHVO Xinyu Liang Planning 13 202406134418 SHVO Claire Feeney Planning 14 202203039170 SHVO Mark Walls DBI 15 202203039170 SHVO Sharon Aguilar-Leonard DPH 140 22IE-00204 SHVO Berhane Gaime DPW 141 22IE-00205 SHVO Berhane Gaime DPW 144 22IE-00206 SHVO Berhane Gaime DPW 145 22IE-00208 SHVO Berhane Gaime DPW 20 22IE-00207 SHVO Javier Rivera DPW 21 22IE-00207 SHVO BERHANE GAIME DPW 22 22ie-00207 SHVO KEVIN JENSEN DAC 23 22ie-00207 SHVO EDWARD LIU DAC 24 22IE-00207 SHVO RICK PEARLMAN DAC 25 22 EDAC 25 22IE-0020E-00204 Rivera DPW 28 22ie-00205 SHVO Javier Rivera DPW 29 202305047097 United Playaz Inc. Leon Yen dpw