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M. Tech。微电子 b''
co1应用与统计推断有关的概念，例如随机抽样和采样分布。CO2根据样本估算分布的参数，并进行假设检验，回归分析，相关性和方差分析。 CO3应用数学和统计数据的全面知识来解决静态概率，动态概率的问题。 CO4使用随机过程的知识，提出现实生活中的问题并确定长期概率。 co5基于毒物过程，估计排队系统统计推断的各种性能度量：随机抽样，抽样分布，参数估计和假设检验，回归，相关性和方差的相关性和分析 - 示例 - 示例。 静态概率，动态概率。 状态分类，马尔可夫过程的链。 马尔可夫系统的稳定性，限制行为，随机步行。 泊松过程：假设和衍生，相关分布，出生和死亡过程。 排队系统，一般概念，M/M/1模型和M/M/S，稳态行为，瞬态行为。 参考：1。 Hogg＆Craig（1975），“数学统计概论”，第4THEDN。，MACMILLAN，2。 J.Medhi，“随机过程”。 3。 A. Papoulis和S.U. Pillai，概率，随机变量和随机过程，CO2根据样本估算分布的参数，并进行假设检验，回归分析，相关性和方差分析。CO3应用数学和统计数据的全面知识来解决静态概率，动态概率的问题。CO4使用随机过程的知识，提出现实生活中的问题并确定长期概率。co5基于毒物过程，估计排队系统统计推断的各种性能度量：随机抽样，抽样分布，参数估计和假设检验，回归，相关性和方差的相关性和分析 - 示例 - 示例。静态概率，动态概率。状态分类，马尔可夫过程的链。马尔可夫系统的稳定性，限制行为，随机步行。泊松过程：假设和衍生，相关分布，出生和死亡过程。排队系统，一般概念，M/M/1模型和M/M/S，稳态行为，瞬态行为。参考：1。Hogg＆Craig（1975），“数学统计概论”，第4THEDN。，MACMILLAN，2。 J.Medhi，“随机过程”。 3。 A. Papoulis和S.U. Pillai，概率，随机变量和随机过程，Hogg＆Craig（1975），“数学统计概论”，第4THEDN。，MACMILLAN，2。J.Medhi，“随机过程”。3。A. Papoulis和S.U. Pillai，概率，随机变量和随机过程，A. Papoulis和S.U.Pillai，概率，随机变量和随机过程，
电力电子与 PLC 第 5 讲义...
随着栅极信号的施加，栅极电流开始从栅极流向阴极。栅极电流在阴极表面的电流密度分布不均匀。栅极附近的电流密度分布要高得多。随着与栅极距离的增加，密度会降低。因此，阳极电流在栅极附近的狭窄区域中流动，栅极电流密度最高。从上升时间开始，阳极电流开始自行扩散。阳极电流以 0.1 毫米/秒的速率扩散。扩散阳极电流需要一些时间，如果上升时间不够，则阳极电流无法扩散到整个阴极区域。现在施加了较大的阳极电流，并且也有较大的阳极电流流过 SCR。因此，开启损耗很高。由于这些损耗发生在一小块导电区域，因此可能形成局部热点，并可能损坏设备。
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纳米电子电路中基于学习的基于学习的故障检测
在纳米电子的快速前进的领域中的摘要，确保电路的鲁棒性对于可靠的性能至关重要。这项研究解决了使用深度学习技术在纳米电子电路中有效检测有效故障检测的关键需求。引言概述了纳米电子电路的增加的复杂性以及对断层易感性的相应上升，这强调了高级故障检测机制的必要性。手头的问题涉及在高度紧凑和复杂的纳米电子电路中识别断层的固有挑战，在这些断层中，传统的故障检测方法通常不足。突出了研究差距，强调缺乏根据纳米电子的特定挑战量身定制的可靠故障检测解决方案。为了弥合这一差距，我们的方法利用了深度学习的力量，采用神经网络来学习复杂的模式，指示纳米电子电路中的故障。该方法涉及开发一个综合数据集，该数据集可捕获各种故障场景，从而确保模型对现实情况的适应性。使用此数据集对神经网络进行了训练，从而可以辨别出信号潜在故障的微妙变化。结果介绍了提出的基于深度学习的故障检测系统的功效，与传统方法相比，准确性有显着提高。该系统不仅以高精度识别已知的故障，而且还具有出色的检测新故障的能力，展示了其对纳米电子电路体系结构不断发展的适应性。关键字：纳米电子，故障检测，深度学习，神经网络，鲁棒性