表2。 生活历史特征及其在前两个PC轴上的负载。 为了计算生命历史特征,我们通过将长度域ω分为200个非常小的离散箱来离散IPM(EQN 1),从而导致M = n = 200的矩阵A,其中M = n = 200,并且主导特征值等于λ。 平均寿命生殖成功r 0是矩阵=𝐕=𝐕(𝐈−𝐆𝐒)-1的主要特征值,其中i是识别矩阵和v = dr,d作为父级后代,r作为父级,r繁殖,g生长,g生长和s存活矩阵(Cassell 2001);这给出了生成时间t = log(r 0)/log(λ)[75]。 平均预期寿命ηE计算为ηE= 1 t n,其中1是长度为m和n的向量,是基本矩阵𝐍=(𝐈−𝐒)-1。 长度为l的个体的寿命为ηl,这意味着我们可以在性成熟时计算年龄𝐿= 𝜂 = 𝜂 𝛼 𝛼 = 𝛼 𝛼 =𝐿= 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 =𝐿=𝐿 + + [76:eqn 4.21]。 l x是至少生存到年龄x的概率,m x是年龄x的平均生育能力(参见) [77]。 𝐆是G,𝐕̅的平均值是V的平均值,I和J分别是矩阵的行和列条目。 在一组基本的生活历史特征(渐进式生长γ,倒退生长ρ和性繁殖φφ)中所包含的生命率在列J(长度箱)(长度箱)上平均,并由平均平衡处的每个阶段的相对贡献加权。表2。生活历史特征及其在前两个PC轴上的负载。为了计算生命历史特征,我们通过将长度域ω分为200个非常小的离散箱来离散IPM(EQN 1),从而导致M = n = 200的矩阵A,其中M = n = 200,并且主导特征值等于λ。平均寿命生殖成功r 0是矩阵=𝐕=𝐕(𝐈−𝐆𝐒)-1的主要特征值,其中i是识别矩阵和v = dr,d作为父级后代,r作为父级,r繁殖,g生长,g生长和s存活矩阵(Cassell 2001);这给出了生成时间t = log(r 0)/log(λ)[75]。平均预期寿命ηE计算为ηE= 1 t n,其中1是长度为m和n的向量,是基本矩阵𝐍=(𝐈−𝐒)-1。长度为l的个体的寿命为ηl,这意味着我们可以在性成熟时计算年龄𝐿= 𝜂 = 𝜂 𝛼 𝛼 = 𝛼 𝛼 =𝐿= 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 = 𝜂 =𝐿=𝐿 + + [76:eqn 4.21]。l x是至少生存到年龄x的概率,m x是年龄x的平均生育能力(参见[77]。𝐆是G,𝐕̅的平均值是V的平均值,I和J分别是矩阵的行和列条目。在一组基本的生活历史特征(渐进式生长γ,倒退生长ρ和性繁殖φφ)中所包含的生命率在列J(长度箱)(长度箱)上平均,并由平均平衡处的每个阶段的相对贡献加权。例如,为了计算平均性繁殖φ,我们将V矩阵的列中的值求和,并将每个φIJ乘以稳定阶段w的相应j th元素W j,计算为a的右特征向量。
探索既具有成本效益又环保的氢生产和燃料电池设计的替代方法。构成地球地壳的27.7%,硅(Si)是我们星球上第二大元素(10)。在各个行业中,其自然的丰富性和流行率使其成为可再生能源产生的有吸引力的候选人(11)。在半导体行业中,估计有35-40%的硅在晶圆生产过程中作为废物丢失,该过程将纯硅锭将其切成薄的碟片,从而产生大量的锯片废物(12)。通过涉及Si和碱性溶液的蚀刻反应,含有氢氧化离子(OH-)的浓度高于氢离子(H +),硅废物(SIW),可以选择性地溶解并去除(eqn。1)。反应产生Si化合物和H 2气体,后者可以在电化学细胞中消耗以产生电力(13)。
典型的TTA-UC发生在敏化剂和歼灭器发色团的集合中,在吸收低能光子后,激发敏化剂的激发三重态通过dexter Energy转移(DET)敏感,然后通过Dexter Energy Transfress(DET)启用TTTA,然后进行TTA产生高F能量能量发射的单元状态。在两个低能三重态耦合时形成较高能量单线状态的过程由统计概率因子(F)描述,如图1。然而,关于各种歼灭者的F及其对不同光che和能量参数的依赖性的F存在很大的歧义。在这项工作中,我们通过实验性地评估了pery灭灭液的F,并讨论了F对能量差距定律的依赖性,以优化对高F因子的歼灭者的合适能量设计。根据Glebsch – Gordan系列,三胞胎状态的强交换耦合可能会导致具有3个自旋多重性(1个单线,3个三重率和5个Quintets)的九个可能的三重旋转特征态。14三胞胎耦合可以简单地由海森伯格的旋转仅哈密顿式(1)来定义。15,16
图1显示了第一代溅射铂NW的室温LF噪声谱,该NW采用基片阶梯光刻技术制造,其工艺顺序如图2所示。5,7,8,51通过基片阶梯光刻技术制造的NW是多晶的,其晶粒尺寸小于线直径。5,7 – 9,16,20,51 – 54图1中NW的噪声幅度在近五十个频率范围内以1/f 1.15的速率增加。f = 1 Hz时的Hooge参数为γH≅3×10−4,这是溅射Pt线和薄膜的典型值。51,71,96,97方程(2)中噪声幅度的1/N≈1/NA依赖性推测波动来源于体源。 20 世纪 70 年代末到 80 年代中期的几项重要实验证明了缺陷和杂质在金属低频噪声中的关键作用。52,55,66,83,95,98 – 103 一个具有单一特征散射或跃迁时间 τ 的缺陷会导致 RTN,其 Lorentzian 频谱在高于 1/ τ 的频率下下降为 1/ f 2,在低于 1/ τ 的频率下保持恒定。55,62,66,95,104 – 106 第 II.B 节中给出了 ZnO NW 的示例。如果噪声是由具有以下分布的多个缺陷引起的
“美国城市、城镇、社区、州、县、大都市区、邮政编码、区号和学校的本地指南。” 76 次观看45 次观看49 次观看39 次观看41 次观看36 次观看36 次观看37 次观看33 次观看37 次观看35 次观看35 次观看36 次观看40 次观看34 次观看45 次观看36 次观看39 次观看27 次观看35 次观看25 次观看37 次观看35 次观看32 次观看26 次观看29 次观看41 次观看24 次观看43 次观看25 次观看35 次观看30 次观看39 次观看27 次观看27 次观看30 次观看27 次观看22 次观看31 次观看30 次观看24 次观看26 次观看26 次观看31 次观看31 次观看29 次观看22 次观看40 次观看26 次观看24 次观看30 次观看40 次观看25 次观看26 次观看25 次观看19 次观看93 次观看80 次观看69 次观看84 次观看61 次观看63 次观看70 次观看83 次观看91 次观看105 次观看52 次观看57 次观看89 次观看67 次观看74 次观看88 次观看71 次观看55 次观看82 次观看52 次观看80 次观看73 次观看49 次观看69 次观看51浏览次数56 浏览次数56 浏览次数55 浏览次数60 浏览次数41 浏览次数65 浏览次数50 浏览次数65 浏览次数50 浏览次数41 浏览次数43 浏览次数52 浏览次数45 浏览次数55 浏览次数49 浏览次数43 浏览次数52 浏览次数62 浏览次数49 浏览次数44 浏览次数 从 0 天 0 小时 00 分钟 00 秒 分享此优惠 送货需要至少 7 个工作日才能发货 购买的物品可以从我们的办公室领取或送货 物品必须在 2021 年 6 月 27 日之前领取/收到 未在 2021 年 6 月 27 日之前领取/收到的物品将被没收,不予退款 您的产品可立即领取 - 详情请参阅下文 无现金价值/无现金返还/不退款 立即检查产品;自收到产品之日起 7 天内有缺陷退货,前提是退回的物品未使用且