EUV 光刻技术是解决先进技术节点关键尺寸的主流技术,目前处于 18nm 及以下的范围内 [1]。EUVL 首次应用于制造领域,利用的是化学放大光刻胶 (CAR) [2]。在 ArF 和 ArF 浸没式光刻中,CAR 的过滤(无论是在本体还是在使用点 (POU))已证明对减少微桥起着重要作用,主要是通过去除硬颗粒和凝胶 [3-6]。对于 ArFi,EUV 带来了新的挑战,不仅要达到所需的线条粗糙度、灵敏度和分辨率,还需要大幅减少线条塌陷、微桥和断线等缺陷。在这项研究中,它展示了利用新型 POU 过滤来调节微桥和实现卓越启动行为的能力,这两者对于实现大批量制造的 EUVL 都至关重要。在由 TEL CleanTrack LITHIUS Pro-Z 和 ASML NXE:3400B 组成的 imec EUV 集群上测试了不同的 POU 过滤器。通过测量冲洗溶剂体积与 19nm 大小的缺陷之间的函数关系来评估启动性能,结果表明可以快速达到稳定的基线。使用市售光刻胶进行的光刻实验旨在降低晶圆缺陷率,实验结果一致表明,在 16nm L/S 测试载体上,光刻胶显影后 (ADI) 和光刻胶蚀刻后 (AEI) 微桥显著减少。讨论了膜物理固有设计和新型清洁对 POU 设备的影响。关键词:EUV 光刻、微桥、POU 过滤
随着极紫外 (EUV) 光刻技术进入大批量生产,半导体行业已将光刻波长匹配的光化图案化掩模检测 (APMI) 工具视为 EUV 掩模基础设施的主要空白。现在,已经开发出一种光化图案化掩模检测系统来填补这一空白。结合开发和商业化 13.5nm 波长光化空白检测 (ABI) 系统的经验以及数十年的深紫外 (DUV) 图案化掩模缺陷检测系统制造经验,我们推出了世界上第一个高灵敏度光化图案化掩模检测和审查系统 ACTIS A150(ACTinic 检测系统)。生产此 APMI 系统需要开发和实施新技术,包括高强度 EUV 源和高数值孔径 EUV 光学器件。APMI 系统具有高分辨率、低噪声成像,对缺陷具有极高的灵敏度。它已证明能够检测出印刷晶圆上估计光刻影响为 10% CD 偏差的掩模缺陷。
未来展望 MAFIA 软件将过渡到 PEO C3T 精确火力-下马和精确火力-上马记录计划,使 MAFIA 成为每个旅战斗队中所有下马和上马火力支援应用的 POR 系统,以及陆军中最普及的 C2 系统。如今,MAFIA 科学技术基线拥有超过 23 个联合和政府过渡合作伙伴,拥有支持所有五个兵种的全套多领域能力。
未来展望 MAFIA 软件将过渡到 PEO C3T 记录计划的精确火力-徒步和精确火力-骑乘,使 MAFIA 成为每个旅战斗队中所有徒步和骑乘火力支援应用的 POR 系统,以及陆军中最普及的 C2 系统。如今,MAFIA 科学技术基线拥有超过 23 个联合和政府过渡合作伙伴,拥有支持所有五个服务部门的全套多领域能力。
极紫外光刻 (EUVL) 技术基础设施的开发仍然需要许多领域达到更高水平的技术就绪状态。需要引进大量新材料。例如,开发 EUV 兼容薄膜以采用经批准的 EUVL 光学光刻方法需要以前没有的全新薄膜。为了支持这些发展,PTB 凭借其在 EUV 计量方面 [1] 的数十年经验 [2],在带内 EUV 波长和带外提供了广泛的光化和非光化测量。两条专用的、互补的 EUV 光束线 [3] 可用于辐射度 [4,5] 特性分析,分别受益于小发散度或可调光斑尺寸。EUV 光束线 [5] 覆盖的波长范围从低于 1 nm 到 45 nm [6],如果另外使用 VUV 光束线,则可以覆盖更长的波长。标准光斑尺寸为 1 毫米 x 1 毫米,可选尺寸低至 0.1 毫米至 0.1 毫米。单独的光束线提供曝光设置。过去曾采用 20 W/cm 2 的曝光功率水平,通过衰减或失焦曝光可获得较低的通量。由于差分泵送阶段,样品可以在曝光期间保持在定义的气体条件下。我们介绍了我们用于 EUV 计量的仪器和分析能力的最新概述,并提供了数据以供说明。
JAS39 Gripen 的飞行控制系统 (FCS) 具有一项称为机动载荷限制器 (MLL) 的功能。其目的是在任何情况下都让飞行员发挥最大性能,而不会陷入失控或结构超载。即使 MLL 功能可以防止偏离正常包线,但如果忽略低速警告,也有可能进入极低速状态。为了评估 MLL 功能和旋转特性,萨博自 1995 年以来一直在进行飞行测试。为在这些测试中提高效率和降低成本而开发的一种新工具称为 ROMAC(实时在线模型和航空数据控制)。ROMAC 包括 Gripen 飞机的完整仿真模型,使用来自飞行测试飞机的遥测输入数据实时运行。只需一秒的延迟,现在就可以进行实时并行模拟,并比较结果
仪表起飞(ITO)....................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................1 图案 A.................... ... . . . . . . . . . . . . 4 图案 B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ........................................................................................................................................................................................................................................ 8 基本仪表飞行模式............................................................................................................................................................................................................................................................................................................................. ........................................................................................................................................................................................ ........................................................................................................................................................................................ 11 VOR 时间/距离检查....................................................................................................................................................................................................................................................................................... ........................................................................................................................................................................ . ...
DWARDS VACUUM 开发了一种氢气回收系统 (HRS),可以回收和再利用极紫外 (EUV) 光刻工具使用的约 80% 的氢气。该系统降低了净氢气消耗和成本,降低了供应中断带来的财务和工艺风险以及氢气运输和分配的安全风险,并降低了 EUV 光刻的总能耗和碳足迹。EUV 光刻在所有先进节点制造中都是必不可少的。事实证明,它适合大批量生产,其减少工艺周期数的经济效益现已明确,并且运行中的系统数量正在稳步增加。EUV 工具使用大量氢气,目前约为每分钟 600 标准升,并且可能进一步增加。回收和再循环氢气使制造商能够大幅削减供应需求。Edwards 的 HRS 是与比利时鲁汶 imec 合作开展的十年开发计划的成果。该系统