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2。材料分析的探测机制(3)3。光 - 物质相互作用(3)4。光谱法(2)5。材料光学特性的表征(2)6。振动光谱和拉曼(3)7。ftir/拉曼实验室访问(1)8。AFM及相关技术 +演示(3)9。XRD原理和仪器(3)10。XRD Lab访问(1)11。TEM/FIB原理和仪器(3)12。tem/fib实验室访问(1)13。SEM原理和仪器(2)14。SEM/EDS实验室访问(1)15。eds/emp原理和仪器(4)16。EMP实验室访问17。飞跃原理和仪器(2)18。研究生演示(3)
横截面是一种关键的样品制备技术,被广泛用于各种应用,它能够研究埋层和地下特征或缺陷。最先进的横截面方法各有优缺点,但通常都需要在吞吐量和准确性之间进行权衡。机械方法速度快但准确性低。另一方面,基于离子的方法,如聚焦离子束 (FIB),分辨率高但速度慢。激光器可以潜在地改善这种权衡,但它也面临多重挑战,包括产生热影响区 (HAZ)、过大的光斑尺寸以及材料再沉积。在这项工作中,我们首次利用飞秒脉冲激光器,这种激光器已被证明可产生极小甚至零的 HAZ,用于快速创建质量可与 FIB 横截面相媲美的大横截面。该激光器集成了靶向 CO 2 气体输送系统,用于再沉积控制和光束尾部削减,以及硬掩模,用于顶面保护和进一步缩小有效光斑尺寸。通过现实世界的例子展示了所提出的系统的性能,这些例子比较了激光和 FIB 横截面技术产生的吞吐量和质量。
ZN、GL 和 DLRM 为研究的各个方面做出了贡献。ZN、DLRM、DSJ、SDP、GOH 和 AB 进行了原位同步加速器 XCT。ZN 和 DLRM 进行了电解质盘的制备和电池组装。ZN、DLRM、CG 和 XG 进行了在线质谱分析。ZN、DLRM、BH、BL 和 JB 进行了等离子体 FIB 成像。DLRM 和 JB 使用 SIMS 进行了等离子体 FIB 成像。ZN、DLRM、JP、JL 和 DEJA 进行了微悬臂和机械测试的准备。GL、YC 和 CWM 进行了建模。ZN、GL、DLRM、DSJ、RIT、PSG、DEJA、TJM、CWM 和 PGB 讨论了数据。所有作者都对数据的解释做出了贡献。ZN、DLRM、GL、CWM 和 PGB 撰写了
在低温下研究经典和量子热效应需要使用片上局部高灵敏度测温法。使用聚焦离子束 (FIB) 辅助沉积制备的碳铂复合材料形成粒状结构,本研究表明,这种结构特别适合此应用。使用 24 pA 离子束电流沉积的碳铂温度计在 1 K 以下具有高灵敏度,可与最好的低温温度计相媲美。此外,这些温度计可以使用无掩模工艺精确放置在芯片上数十纳米的范围内。它们还具有弱磁场依赖性,在施加 0 至 8 T 的磁场时电阻变化小于 3%。最后,由于目前广泛使用 FIB,这些温度计可集成到各种纳米级设备中。© 2020 Elsevier Ltd。保留所有权利。
高分辨率透射电子显微镜 (HRTEM)、原子探针断层扫描 (APT) 和基于同步加速器的扫描透射 X 射线显微镜 (STXM) 等先进的微分析技术使人们能够在原子尺度上表征天然材料的结构和化学和同位素组成。双聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 是一种强大的工具,可用于特定位置的样品制备,然后通过 TEM、APT 和 STXM 进行分析,以获得最高的能量和空间分辨率。FIB-SEM 也可用作三维 (3D) 断层扫描的独立技术。在这篇评论中,我们将概述在地球和行星科学中使用 FIB-SEM 对天然材料进行高级表征时的原理和挑战。更具体地说,我们旨在通过以下示例突出 FIB-SEM 的最新应用:(a) 在月球土壤颗粒的空间风化研究中使用传统的 FIB 超薄小颗粒样品制备,(b) 通过基于 FIB 的 APT 对锆石中的 Pb 同位素进行迁移,(c) 基于协调同步加速器的 STXM 对碳质球粒陨石中的外星有机物质进行表征,以及最后 (d) 通过切片和视图方法对基于 FIB 的油页岩孔隙进行 3D 断层扫描。双光束 FIB-SEM 是一个强大的分析平台,其技术开发和适应范围在地球和行星科学领域是广阔而令人兴奋的。例如,在不久的将来,双光束 FIB-SEM 将成为表征返回地球的细颗粒小行星和月球样本的重要技术。
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最近,我很荣幸能参加“从 3D 光学到 3D 电子显微镜”会议,这要感谢 ITC 会议资助。这次跨学科会议涵盖了关联光学和电子显微镜,重点关注生物样本 3D 体积成像的先进技术,包括聚焦离子束 (FIB) 和低温 FIB 技术。我有幸在本次展会上展示了我最近的研究成果,该研究是关于一个复杂生物系统的微观结构分析,该系统由 3D 胶原-透明质酸水凝胶组成,模仿天然细胞外基质 (ECM),其中嵌入癌细胞球体,旨在研究 ECM 在癌细胞迁移和侵袭模型中的作用(国家科学中心项目:MINIATURA 7,题为“用于研究癌症侵袭模型中 ECM 重组的胶原-透明质酸支架的微观结构分析”,编号 DEC-2023/07/X/ST5/00688,以及 Opus 21,题为“胶原-透明质酸凝胶作为剪切力下控制球体机械性能的环境”,编号 UMO-2021/41/B/ST5/03032)。
该协议将使两家公司能够探索建立合资公司的可能性,在埃尼的布林迪西工厂建设一个固定式储能生产工厂、一条用于输入工艺的活性材料生产线以及一条电池回收生产线,这将支持 SERI Industrial 的子公司 FIB 在卡塞塔省建设的类似工厂。
工程纳米材料已成为微电子、航空航天、能源生产和储存、毒理学研究和医学应用等多个领域的深入研究焦点。开发新的表征方法和仪器是推动材料研究和开发的关键因素,从而提高产品性能和可靠性。分析挑战包括分析 10 纳米范围内的微小特征,这导致分析量和检测限之间的权衡。二次离子质谱 (SIMS) 是一种强大的表面分析技术,特别是它能够以出色的灵敏度和高动态范围检测所有元素并区分同位素。SIMS 允许获取质谱、进行深度剖析以及 2D 和 3D 成像。安装在最新一代 FIB 平台上的新型离子源(例如气体场离子源 (GFIS)、Cs + 低温离子源 (LoTIS) 或多物种液态金属合金离子源 (LMAIS))的开发为纳米级物体的分析开辟了新的可能性。在 FIB 仪器中添加 SIMS 功能不仅可以提供最高分辨率和灵敏度的成像,还可以提供在图案化和铣削过程中进行现场过程控制的工具 [1,2]。