GFET-PV01是用于开发具有环氧封装层的传感应用的,从而可以在传感器修饰和测试过程中保持一致的液体处理和对齐。此外,将三个通道定位为启用每个石墨烯通道的可靠手动或自动化功能,以进行多重和/或内部参考。该设备与随时可用的数据采集系统兼容。
摘要:最近,某些挑战一直存在于pH传感器的应用中,尤其是在使用氧化物(HFO 2)薄膜作为感应层时,其中与敏感性,滞后和长期稳定性障碍性能有关的问题。微波退火(MWA)技术作为解决这些挑战的有前途的解决方案,由于其独特的优势,吸引人的吸引力很大。在本文中,首次研究了使用HFO 2作为传感膜的微波退火(MWA)处理对扩展栅场效应晶体管(EGFET)的传感行为的影响。选择了MWA处理的各种功率水平(1750 W/2100 W/2450 W)以探索最佳处理条件。使用X射线光电学光谱(XPS)和原子力显微镜(AFM)等技术进行了彻底的物理分析,以表征MWA处理的HFO 2传感薄膜的表面。我们的发现表明,MWA处理有效地增加了HFO 2传感薄膜中的表面位点(NS),从而导致EGFET的pH敏感性提高到59.6 mV/pH,并在长期稳定性中降低了滞后和滞后的降低和增强。这些结果表明,MWA提供了一种直接,能量良好的方法来增强EGFET中的总体HFO 2传感效果性能,为HFO 2应用程序提供了见解和更广泛的微电子挑战。
近年来,电子技术的突破使金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 的物理特性不断提升,尺寸越来越小,质量和性能也越来越高。因此,生长场效应晶体管 (GFET) 因其优异的材料特性而被推崇为有价值的候选者之一。14 nm 水平双栅极双层石墨烯场效应晶体管 (FET) 采用高 k 和金属栅极,分别由二氧化铪 (HfO 2 ) 和硅化钨 (WSi x ) 组成。Silvaco ATHENA 和 ATLAS 技术计算机辅助设计 (TCAD) 工具用于模拟设计和电气性能,而 Taguchi L9 正交阵列 (OA) 用于优化电气性能。阈值电压 (V TH ) 调整注入剂量、V TH 调整注入能量、源极/漏极 (S/D) 注入剂量和 S/D 注入能量均已作为工艺参数进行了研究,而 V TH 调整倾斜角和 S/D 注入倾斜角已作为噪声因素进行了研究。与优化前的初始结果相比,I OFF 值为 29.579 nA/µm,表明有显著改善。优化技术的结果显示器件性能优异,I OFF 为 28.564 nA/µm,更接近国际半导体技术路线图 (ITRS) 2013 年目标。