Gielen

请引用原始版本：Zeiske，S.，Zarrabi，N.，Sandberg，O。J.，Gielen，S.，Maes，W.，Meredith，P。，＆Armin，A。（2024）。增强的Swir Ligh

短波式红外（SWIR）光电探测器对于许多科学和工业应用至关重要，包括监视，质量控制和检查。在近几十年中，基于有机半导体的光电检测器已经出现，证明了为宽带和窄带成像和感应场景增加实际价值的潜力，在这种情况下，诸如热预算敏感性，大面积孔径的必要性，成本考虑因素，轻量级和相结构的灵活性需求等因素优先考虑。现在已经认识到，有机光电探测器（OPD）的性能，尤其是它们的特定检测率，最终受到陷阱状态的限制，陷阱状态普遍存在于无序的半导体中。这项工作采用了一种利用这些中间隙状态来特定创建SWIR照片响应的方法。为此，这项工作引入了在批量异质结（BHJS）光电二极管中“陷阱掺杂”的一种反直觉方法，其中有意将少量的来宾有机分子故意纳入半强化供体中：受体宿主系统。遵循这种方法，这项工作证明了可见的至静宽宽带OPD的概念验证，在关键光电探测器指标中接近（并在某种程度上，甚至超过）最先进的性能。陷阱掺杂方法是，即使目前只有概念验证，它广泛适用于各种光谱窗口。使用将限制变成功能的非常规策略来进行工程光进行的新模式。