PI:Shiyao Lin,助理教授 德克萨斯大学阿灵顿分校机械与航空航天工程系 (UTA) 预测性能方法研究所 (IPPM) UTA 研究所 (UTARI) shiyao.lin@uta.edu
摘要;阿伏伽德罗常数与质量单位和各种基本物理和电常数有关,是精确测量分子质量的必要条件。由于半导体技术的最新成功,硅元素因其晶体中近乎完美的原子结构而成为精确测量的通用参考材料的可能候选者。使用硅晶体确定阿伏伽德罗常数的项目是世界标准组织研究的主题,具有历史意义。国家医学研究实验室的团队刚刚开始使用 1 千克完美硅球的长期项目的最后阶段。它使用光学干涉仪测量球体的直径,并使用国家千克标准测量其质量,从而得到球体的宏观密度。它还测量了由相同硅锭制成的 X 射线干涉仪的晶格间距。后者将与与比利时 CBNM. Geel 合作确定的平均原子质量相结合,得出微观密度。这两个密度之间的等效性提供了阿伏伽德罗常数。目前声称的测量精度为体积 O.3ppm、质量 O.05ppm、晶格间距 Ippm。该项目对相应测量的目标精度将提供总不确定度小于 0.3ppm 的阿伏伽德罗常数。 lut 修订于