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J33/I-40* 涡轮增压喷气发动机
1942 年 10 月 7 日，华盛顿特区物资司令部上校 BW Chidlaw，AC/S(E) 指示莱特机场物资中心妥善规划和推进喷气式发动机和喷气式飞机的开发。英国和美国的发展已经达到了一个阶段，重要的战术可能性似乎迫在眉睫。随后，华盛顿特区物资司令部指示莱特机场物资中心建立一个组织，负责喷气式发动机和飞机的研究和开发。该组织于 1942 年 12 月 11 日在莱特机场成立。技术人员、动力装置实验室内的这个小团体还与莱特机场工程部飞机实验室的单位合作。
喷气式飞机发动机的发动机监控系统
审计结果。军事部门需要改进其 EMS 计划。具体而言，现有系统无法提供诊断、监控和趋势发动机状况所需的所有信息。在有效监督下，正在开发的系统将纠正一些已发现的缺陷。此外，陆军和海军集中收集 EMS 数据不一致且不及时，军事部门缺乏确定 EMS 成本和运营效率的绩效指标。此外，空军的技术数据更新和军事部门的 EMS 培训需要改进。因此，现有的 EMS 计划无法确保向维护人员提供必要的数据并接受系统培训，以提高喷气式飞机发动机的维护效率。有关审计结果的讨论，请参阅第 I 部分。
JET 联合项目：1991 年进展报告
1991 年是该项目又一个非常成功的一年。到年底，JET 已完成计划运行计划的第三阶段，即全功率优化研究。已经达到了实现 JET 原始设计中设定的两个主要目标的阶段（即展示近反应堆条件下的有效加热方法，以及当参数接近反应堆范围时等离子体行为的缩放）。其他主要目标的追求 - 研究近反应堆条件下等离子体壁相互作用以及研究 α 粒子的产生、约束和随之而来的等离子体加热 - 进展顺利。向前迈出的重要一步是 JET 机器中第一次涉及氚的实验，在初步氚实验 (PTE) 期间产生了超过 1.7MW 的聚变功率。
喷射流进行的单粒子效应测试结果...
卫星和其他航天器中使用的电子设备暴露在宇宙辐射中。为了确保这些设备的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多用于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 设备进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
JET 联合项目：1991 年进展报告
1991 年是该项目又一个非常成功的一年。到年底，JET 已完成计划运行计划的第三阶段，即全功率优化研究。这一阶段已经实现了 JET 原始设计中设定的两个主要目标（即展示近反应堆条件下的有效加热方法，以及当参数接近反应堆范围时等离子体行为的缩放）。其他主要目标的追求——研究近反应堆条件下等离子体壁相互作用以及研究 α 粒子的产生、约束和随之而来的等离子体加热——也取得了很大进展。一个重大的进步是 JET 机器中第一次涉及氚的实验，在初步氚实验 (PTE) 期间产生了超过 1.7MW 的聚变功率。
住宅用光谱喷射计 - Metron Farnier
Spectrum Jet 单喷射水表是北美公用事业公司可用的范围最广的单测量元件水表。Spectrum Jet 住宅水表专为极宽的范围和长期准确性而设计。单喷射技术对水系统中的污垢、沙子或砂砾具有很强的抗性。设计简单、材料优良、制造标准高质量，使水表性能多年保持几乎全新状态，无需维护。
喷气飞机联合项目：1991 年进展报告
1991 年是该项目又一个非常成功的一年。到年底，JET 已完成计划运行计划的第三阶段，即全功率优化研究。这一阶段已实现 JET 原始设计中设定的两个主要目标（即展示近反应堆条件下的有效加热方法，以及当参数接近反应堆范围时等离子体行为的缩放）。其他主要目标的实现——研究近反应堆条件下等离子体壁相互作用以及研究 α 粒子的产生、约束和随之而来的等离子体加热——也取得了很大进展。一个重大的进步是 JET 机器中第一次涉及氚的实验，在初步氚实验 (PTE) 期间产生了超过 1.7MW 的聚变功率。
喷气飞机联合项目：1991 年进展报告
1991 年是该项目又一个非常成功的一年。到年底，JET 已完成计划运行计划的第三阶段，即全功率优化研究。这一阶段已实现 JET 原始设计中设定的两个主要目标（即展示近反应堆条件下的有效加热方法，以及当参数接近反应堆范围时等离子体行为的缩放）。其他主要目标的实现——研究近反应堆条件下等离子体壁相互作用以及研究 α 粒子的产生、约束和随之而来的等离子体加热——也取得了很大进展。一个重大的进步是 JET 机器中第一次涉及氚的实验，在初步氚实验 (PTE) 期间产生了超过 1.7MW 的聚变功率。
射流进行单粒子效应试验结果...
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性，应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量，包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。