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高能激光系统中光学元件的可靠性
摘要。大型光学元件的激光损伤抗性仍然是高能/高功率 (HEL/HPL) 激光系统的维护成本、可靠性和进一步发展的重要限制因素。由于许多制造商在纳秒范围内提供不同的激光损伤阈值 (LIDT) 值，仅基于数字的简单排名可能无法提供最佳选择的清晰图像。尽管遵循 ISO 21254 标准，但测试程序的变化使选择过程更加复杂。通过采用全面的一对一测试程序，可以观察到影响 LIDT 值的各种参数。将概述激光束大小、被测光学器件的光谱特性以及表面的可能污染如何影响 LIDT 值。
2024年激光损伤生存指南
用于 LIDT 测量的光栅扫描应用每年都越来越受欢迎。当光学元件的零散缺陷密度较低时（其他测试协议往往会高估 LIDT），这是一种非常有用的程序。此外，光栅扫描通常用于认证大口径光学元件，以及需要了解最坏情况的情况。现在，Lidaris 可以从标准光栅扫描测试中提供更多信息。新增一项功能——根据激光辐照水平统计激光诱导表面物体的辐射强度。
研究激光诱导的损伤和相关的多光子吸收变化，以高重复速率的niobate晶体变化飞秒泵
图2 LIDT测量的实验设置：λ /2-半波长相板，p-偏振器，w-楔子，l-镜头，镜头，pm -power仪。在这里：红色箭头 - 泵辐射（1.03 µm），绿色箭头 - 泵的第二个谐波（0.515 µm）； b）YB的自相关轨迹：kgw（Pharos）辐射，通过自相关器（GECO，Light Conversion Co，Ltd）和C）571 kHz和298 fs的LIDT测量测量（P OUT-输出功率，P IN- IN -ID IND -ID型泵送功率）。
TEC-MME 助力塞浦路斯工业
• SAGA、QKDSat • 惯性导航 • GNSS 测试：• LIDT 和 LICT 测试设施 • 激光二极管老化和寿命测试设施 • 探测器测试设施 • 移动激光雷达设施 • 光学地面站 (OGS)
高功率脉冲和连续激光损伤
我们所有使用高功率激光器的人都经历过激光损伤，通常是在我们最不想发生的时候。有时，仅仅是一道意外的闪光就意味着需要更换光学元件，但情况往往更糟，因为单个涂层损坏就会导致整个系统故障。我们的大部分工作是认证脉冲激光系统的光学元件，以防止这种灾难性事件的发生。近年来，我们收到越来越多的 CW 测试请求。这些光学元件主要用于制造业和医疗行业，而这些行业的损坏成本同样高昂。随着输出功率的增加，损坏越来越普遍，认证 CW 光学元件也变得更加必要。它们似乎在低于脉冲系统中的性能和阈值预期的功率水平下损坏。我们在此报告了一项关于不同基底材料在脉冲和 CW 性能方面的研究，这些研究由它们的激光诱导损伤阈值 (LIDT) 值给出。LIDT 值表示光学元件在不损坏的情况下可以承受的最大功率密度（或在 CW 的情况下，最大线性功率密度）。