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为了解决对低温焊料技术进行全面评估所需的资源,国际电子制造计划(INEMI)于2015年启动了基于BISN的低温焊接过程和可靠性(LTSPR)项目。现在,在第三个INEMI LTSPR阶段,进行了两个不同的加速温度循环(ATC)概况进行测试,0/100°C(IPC-9701B,TC1)和-15/85°C(由于SN-AG-CU和BI-SN销售者和Bi-SN销售者的同源考虑而选择)和维持类似的Deltc(100°)[100°C的同源考虑而[选择)。本临时论文报告了用-15/85°C轮廓测试的84针薄核BGA组件(CTBGA84)的热循环结果,并将这些结果(作为同伴论文)与CTBGA84进行了比较,并用0/100°C测试的CTBGA84进行了比较,并在先前的出版物中提出了0/100°C。Weibull统计,微结构表征和故障模式分析用于比较合金性能的差异,并比较混合和均匀焊接联合配置的性能。