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从烟气中获取最大能量
如果烟气中的热量用于产生热空气，我们会将多个 LUVO 阶段整合到我们的 ercs 设备中。这是有利的，因为热量被传输到空气中，可以直接使用，例如用于干燥。该系统效率很高，因为热量不必先传输到水回路，而是在没有传输损失的情况下使用（简单热传递）。
最大限度地发挥战略机载 ISR 效用...
1. 《2017 财政年度国防授权法案》。第 114 届国会，第二次会议，2016 年 11 月 30 日，908。 2. 联合出版物 2-0，联合情报，2013 年 10 月 22 日，II-9。 3. 联合出版物 1，美国武装部队条令，2013 年 3 月 25 日，XX。 4. 联合出版物 1，美国武装部队条令，2013 年 3 月 25 日，V-2。 5. 无日期。《美国法典》第 10 卷第 162 条 - 作战司令部：指定部队；指挥系统。https://www.law.cornell.edu/uscode/text/10/162。 6. 无日期。《美国法典》第 10 卷第 162 条 - 作战司令部：指定部队；指挥链。https://www.law.cornell.edu/uscode/text/10/162。 7. LoPresti, Thomas T. 《戈德华特-尼科尔斯法案前后的参谋长联席会议制度》。华盛顿特区：乔治城大学，1991 年，第 6 页。 8. 马克·吐温。《名言录》。访问于 2016 年 12 月 7 日。http://www.goodreads.com/quotes/5382-history-doesn-t-repeat-itself-but-it-does-rhyme。 9. LoPresti, Thomas T. 《戈德华特-尼科尔斯法案前后的参谋长联席会议制度》。华盛顿特区：乔治城大学，1991 年，第 6 页。 10. 联合出版物 1，《美国武装部队条令》，2013 年 3 月 25 日，第 XVI 页。 11. 联合出版物 1，《美国武装部队条例》，2013 年 3 月 25 日，第 XVI 页。12. 《2017 财政年度国防授权法案》。第 114 届国会，第 2 届会议，2016 年 11 月 30 日，第 909 页。13. 《2017 财政年度国防授权法案》。第 114 届国会，第 2 届会议，2016 年 11 月 30 日，第 908 页。14. 新闻稿。“参议院军事委员会完成
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MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
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婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25