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马克西姆·索科尔
特拉维夫大学材料科学与工程系，拉马特阿维夫 6997801，以色列 摘要 先进的 2D 材料（如 MXenes）表现出卓越的电气、机械和热特性，使其成为集成电路架构中理想的替代品，而传统金属元件则受到持续小型化和功率限制的挑战。在这项工作中，我们介绍了一种可扩展的方法，通过结合光刻和旋涂技术来制作 10 纳米以下 MXene 薄膜图案。这种方法可确保形成均匀的微图案，而创新的、简单的 HCl 处理步骤可有效清除盐残留物，这是 MXene 合成中反复出现的问题。所得 MXene 薄膜厚度约为 6-7.5 纳米，光学透明，能够精确地进行微图案化，横向分辨率低至 2 µm。严格的分析表明，这些薄膜表现出卓越的导电性，并且 MXene-Si 结具有高光敏性。所提出的方法与现有的微电子制造装置无缝集成，标志着 MXene 在柔性、透明和可穿戴电子产品（从互连线和电极到高灵敏度光电探测器）中的应用取得了重大进展。
大科学。巨大的影响。
- Atomai软件库的创建者和首席开发人员，用于显微镜数据的深度/机器学习分析（https://github.com/pycroscopy/atomai）。- GPIM软件包的创建者和首席开发人员，用于应用高斯流程和贝叶斯优化在成像和光谱数据集中（https://github.com/ziatdinovmax/gpim）。- 图像和光谱分析中的变异自动编码器应用的Pyraved软件包的创建者和首席开发人员（https://github.com/ziatdinovmax/pyravy）。- 对Pycroscopy生态系统（https://github.com/pycrsoscopy）中各种包装的积极贡献，包括用于存储和可视化高维成像和光谱数据的软件包。荣誉和奖项：
KT0936M - Maxim 收音机调谐器
北坞三号创新园区4号楼。 电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn 北坞三号创新园区4号楼。 电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn 北坞三号创新园区4号楼。 电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn 北坞三号创新园区4号楼。 电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn 北坞三号创新园区4号楼。电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn 北坞三号创新园区4号楼。 电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn 北坞三号创新园区4号楼。 电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn 北坞三号创新园区4号楼。 电话：+86-10-88891947 http://www.Ktmicro.com.cn
KT0936M（B9）-Maxim无线电调谐器KT0936M（B9）-Maxim无线电调谐器
Pin Order Pin Name I/Otype describe 1 AMINN simulation MWandLWAntenna negative input 2 AMINP simulation MWandLWAntenna positive input 3 RFINP RFenter RF Input 4 RFGND RFland RF Ground 5 DVSS Digitally Digitally 6 DVDD Digital Power power supply 7 RF_SW numberI/O Function1: RF circuit switch control pin.函数2：用作数据引脚（集成47KOHMPULL-UP电阻器）时访问外部eprom。8调整数字输出有效站指示9 CH模拟输入频率控制引脚10跨度模拟输入频段开关控制11 AM_FM numberi/o default47KOHMPULL-UP UPIOR。函数1：用于切换Muteefect。功能2：用于通过按键切换频带。函数3：用于带有波开关的开关带。函数4：访问外部epromas a时钟别针。12 AOUT模拟输出音频输出13 AVSS模拟地面模拟地面14 XI/RCLK模拟/O晶体15 XO Simulationi/O Crystal
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL（高温工作寿命）测试 6 85/85（温度-湿度-偏差）测试（THB）7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估（在 150°C Tj 下）8 表 4。高温工作寿命测试 – CP1 工艺在 150°C Tj 下 10 表 5。高温工作寿命测试 – CB2 工艺在 150°C Tj 10 表 6。高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7。高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9。高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10。高温工作寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11。高温工作寿命测试 – MB1 工艺在 150°C Tj 15 表 12。85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13。高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14。温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15。高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
Maxim G. Vavilov - 威斯康星大学麦迪逊分校物理学
2001 年：美国康奈尔大学物理学博士学位（纽约州伊萨卡） 1997 年：莫斯科物理技术学院朗道理论物理研究所物理学硕士学位（荣誉） 1995 年：莫斯科物理技术学院物理学学士学位（最优等）
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
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婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
Maxim Ziatdinov博士
• Multi-omics and systems biology analyses of substance use disorders and comorbid psychiatric conditions • Immunological and neuroimmunological responses to human disease • Integration of multi-omic analysis for knowledge transfer among humans and model organisms Research Experience 2023 – Present Computational Systems Biologist Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN Computational and Predictive Biology Group, Biosciences Division 2020 – 2023博士后研究助理导师：丹尼尔·雅各布森（Daniel Jacobson）博士，田纳西州橡树岭国家实验室，田纳西州橡树岭，计算和预测生物学小组，生物科学部，2015 - 2020年伯罗托尼亚研究生研究生和博士学位。候选人联合官：Drs。Leah Pyter和Karl Obrietan，俄亥俄州立大学，俄亥俄州哥伦布，俄亥俄州俄亥俄州神经科学研究生课程2012 - 2015年本科生研究助理导师：Edward Perez-Reyes博士，弗吉尼亚州弗吉尼亚州夏洛茨维尔，弗吉尼亚大学弗吉尼亚大学神经科学计划荣誉奖和ACHACT 2023杰出的Biosecie ride in Biosiever in Biosecie ride of Postdoct indocter Ridecter of Postdoct indocter indocter indoct of Postdoct indoctor indoct of cosectie。 2019年国家实验室 - 2020年Pelotonia研究生奖学金，Pelotonia Foundation（48,360美元总奖励；奖励率约为申请人的20％）2019年杰出海报演示文稿，2019年俄亥俄州立大学跨学科跨学科研究生课程研讨会（50美元 神经科学（$ 300）Leah Pyter和Karl Obrietan，俄亥俄州立大学，俄亥俄州哥伦布，俄亥俄州俄亥俄州神经科学研究生课程2012 - 2015年本科生研究助理导师：Edward Perez-Reyes博士，弗吉尼亚州弗吉尼亚州夏洛茨维尔，弗吉尼亚大学弗吉尼亚大学神经科学计划荣誉奖和ACHACT 2023杰出的Biosecie ride in Biosiever in Biosecie ride of Postdoct indocter Ridecter of Postdoct indocter indocter indoct of Postdoct indoctor indoct of cosectie。 2019年国家实验室 - 2020年Pelotonia研究生奖学金，Pelotonia Foundation（48,360美元总奖励；奖励率约为申请人的20％）2019年杰出海报演示文稿，2019年俄亥俄州立大学跨学科跨学科研究生课程研讨会（50美元神经科学（$ 300）