主题 1:开发纳米和微米范围内的力值基准 开发微米和纳米力值基准在先进制造、微机电系统 (MEMS)、微流体、纳米技术以及制药和医疗设备等领域变得越来越重要。高精度表面张力和材料机械性能测量对于改进生产工艺和评估其质量至关重要,特别是在使用涂层或纳米沉积工艺的情况下。在上述领域,正在或已经开发出新的测量技术,关键是将这些技术应用于特定的测量对象并获得最终用户群体的认可。然而,开发这些尺度的力值的准确可靠的测量技术仍处于起步阶段。本提案旨在通过开发微米和纳米力值基准来解决这一差距,这些基准可用于校准和验证这些尺度的力值测量设备的准确性。因此,需要开发新技术和标准,以在低不确定度水平下生成已知的准确可靠的力值测量结果。本博士论文的目标是:1. 开发微力和纳米力的主要标准,可用于校准和验证这些尺度上的力测量设备的准确性。2. 研究表面相互作用、摩擦和粘附对微力和纳米力测量的影响。3. 评估相关的不确定性和影响因素
主题 2:超高精度绝对地球重力测量 局部重力加速度值及其随时间的变化在计量学、地球物理学和大地测量学等广泛的物理科学领域中都具有重要意义。重力加速度的测量由绝对重力仪进行,可追溯到长度和时间单位。意大利目前的一级标准是在 INRiM 开发和维护的,这是一种可移动的弹道升降绝对重力仪 (IMGC-02),相对不确定度在 10e-9 量级。它使用激光干涉法通过分析重力场中测试质量的运动来测量重力(世界上唯一采用对称运动的仪器)。然而,该系统除了需要进一步改进以实现更精确的发射、减少振动传递和降低与观测地点相关的不确定性之外,其性能还远远超过了校准实验室所需的不确定性水平(约 10e-5),因此必须开发一种新的可移动且更合适的绝对重力仪。博士候选人将主要专注于此类任务,并参与现场测量和活动,旨在实现绝对重力的参考网络并在意大利地区建立国际高度参考系统/框架,这是 MUR 资助的 PRIN 项目的一部分。博士课程将包括: - 理论和实验活动,以改进 IMGC-02 便携式绝对重力仪、惯性参考系统、新发射系统和其他影响因素 - 开发一种新的便携式、更适合校准实验室的绝对重力仪,不确定度为 10e-5 - 在不同的观测点进行测量,主要是在意大利 - 为实现绝对重力参考网络和在意大利地区建立国际高度参考系统/框架 (IHRS/IHRF) 提供科学支持
•应描述监管,法律计量和合格评估所需的计量解决方案的研发需求。•应解决可追溯测量方法的开发或提供经过验证的数据集的提供•应通过响应已记录的要求或探索可能的未来法规来解决欧盟法规的计量背景。•鼓励应对与联盟双重过渡和联盟弹性实现工会目标相关的挑战。相关联盟监管框架的例子包括欧洲绿色交易和欧洲气候法规,《绿色交易工业计划》,《零零行业法》,Repowereu套餐,《 AI法案》和《关键原材料法》。•可以通过开发先进的计量方法和解决方案来增强行业遵守法规,提高竞争力并推动各个部门创新的能力。•应包括监管机构的代表,合格评估机构,行业和标准化机构的积极参与项目,特别是为了确保监管机构将项目输出承担。•欢迎反映与泛欧研究计划有关的法规需求或支持Horizon Europe下的其他合作伙伴关系。
CHIPS 计量社区将召集和促进定期活动,这些活动可能包括专家演讲、小组讨论、问答环节或其他结构化活动。有关即将开展的活动机会的详细信息将发布在社区网站上,供会员访问,并将通过电子邮件分发。为了实现最广泛的参与,未来的许多活动都将以虚拟方式进行;但是,社区可能会根据会员的兴趣促进面对面的活动。社区即将开展的活动的完整时间表将在可用时发布到网站上。
卡拉奇方法论中温度因素:使用季节性自动回归综合运动平均值(SARIMA)模型。从2012年1月1日至2022年12月31日的每日最高和最低温度数据使用该模型的训练数据。这些数据集干净且修改,以获取该地区最高和最低温度数据的月平均值。这些数据集使用用于模型开发。两个数据集分别通过了时间序列分析,并且最适合两者的模型正在开发。发现:研究显示了温度数据中的季节性,以及在最低和最高温度数据集中的平均值增长,这表示过去十年中的全球变暖。含义:这些结果将有助于将来研究卡拉奇温度变化以及制定策略以适应该地区的这种变化。
2024 年 5 月 28 日上午 10:30 至中午 12:00,在科罗拉多州丹佛市举办了“下一代微电子计量技术发展中的挑战和机遇”特别会议,作为 2024 年 IEEE 第 74 届电子元件和技术会议的一部分。会议由 NIST 的 Ran Tao 和宾汉姆顿大学的 Benson Chan 共同主持,TechSearch International 的 Jan Vardaman 主持了小组讨论。五位杰出演讲者,CHIPS for America 的 Paul Hale、英特尔公司的 Gaurang Choksi、台积电的 Zhihua Zou、ASE 集团的 CP Hung 和 KLA 公司的 Chet Lenox,分享了他们对当今半导体行业在供应链各个环节面临的计量挑战和机遇的看法和见解。会议以每位小组成员的单独演讲开始,随后是主持小组讨论和互动问答环节。
1 A*STAR 量子创新中心 (Q.Inc)、材料研究与工程研究所 (IMRE)、新加坡科学技术研究局 (A*STAR)、2 Fusionopolis Way, 08-03 Innovis,新加坡 138634,新加坡 2 冲绳科学技术研究生院量子机器部门,冲绳恩纳 904-0495,日本 3 澳大利亚国立大学量子计算与通信技术中心量子科学与技术系,澳大利亚首都领地 2601,澳大利亚 4 澳大利亚国立大学量子科学与技术系,澳大利亚首都领地 2601,澳大利亚 5 新加坡国立大学量子技术中心,3 Science Drive 2,新加坡 117543,新加坡 6 Horizon Quantum Computing,05-22 Alice@Mediapolis,29 Media Circle,新加坡 138565,新加坡 7 高性能计算研究所,科学技术局新加坡科技研究局 (A*STAR) 新加坡 138634 新加坡 8 南洋量子中心,南洋理工大学物理与数学科学学院,21 Nanyang Link,新加坡 639673,新加坡 9 MajuLab,CNRS-UNS-NUS-NTU 国际联合研究单位,UMI 3654,新加坡 117543,新加坡
知道准确性至关重要,团队采取了预防措施以确保其测量正确。“每当火车经过时,我们都会停止扫描 - 在扫描仪中,我们要做的就是单击一个按钮,它将重新测量所有可见的点。我们可以查看火车通过是否影响了我们的扫描数据;如果它显示它确实影响了它,我们将重置东西,但是如果没有影响,我们将继续扫描。这使我们能够有效地保持扫描准确性,确保我们收集的测量值尽可能准确。”
计量在半导体研究和制造中起着关键作用,对于该行业的成功至关重要。测量科学、材料特性、仪器、测试和制造能力的进步对于推动产品创新和确保质量、产量和制造效率至关重要。在小组讨论中,专家将分享他们对当今半导体行业在供应链每个环节面临的计量挑战和机遇的见解,重点关注下一代微电子的先进半导体封装(例如异质集成、晶圆级封装、混合键合等)。