美国国家标准与技术研究所 (NIST),马里兰州盖瑟斯堡 20899,美国 * 通讯作者。电子邮件地址:dinis.camara@NIST.gov 摘要 − 2022 年初,NIST 启动了一个试点项目,以生成参考材料的数字校准报告和数字分析证书。该项目的目标是制作一些数字报告和证书的示例,以评估这些特定测量服务中数字化转型的范围和挑战。本演示重点介绍试点项目的参考材料证书工作。我们对试点项目这一部分的目标是根据认证数据、材料的描述信息以及所需的其他数据和元数据生成数字参考材料证书,从数字参考材料证书生成人性化的报告;并举办研讨会收集利益相关者的反馈。NIST 面临的挑战包括 NIST 证书中目前包含的多样化和复杂信息、将值转换为非 SI 单位以满足利益相关者的需求以及更新 NIST 参考资料证书以允许机器生成。其他实际挑战包括 NIST 提供的各种参考资料,以及内部和外部利益相关者的需求。本演讲将报告 NIST 工作的进展情况,并讨论制作数字参考资料证书的一些挑战和解决方案。
a 美国国家标准与技术研究所 (NIST),美国马里兰州盖瑟斯堡 20899 b GBS Dakota IT,美国犹他州锡拉丘兹 84075 * 通讯作者。电子邮件地址:catherine.cooksey@NIST.gov 摘要 − 2022 年初,NIST 启动了一个试点项目,以生成参考材料的数字校准报告和分析证书。该项目的目标是为每个项目制作几个示例,以评估这些测量服务的数字化转型的范围和挑战。本演示重点介绍数字校准报告。我们对试点项目这一部分的目标是根据校准数据、客户元数据以及所需的其他数据和元数据生成数字校准报告;根据数字校准报告生成人类可读的报告;并举办研讨会以收集利益相关者的反馈。数字校准证书 (DCC) 是 SmartCom 17IND02 项目的产物,可用作起点。然而,NIST 面临的挑战包括 NIST 报告中目前包含的大量信息、包含复杂数据的报告以及 NIST 校准报告的安全性(NIST 校准报告、数据和元数据不公开)。其他实际挑战包括 NIST 提供的各种校准服务,以及内部和外部利益相关者的需求。本出版物报告了 NIST 工作的进展情况,并讨论了生成数字校准报告的一些挑战和潜在解决方案。
• 极其强大的攻击技术,如量子计算机;以及 • 极其受限的实施环境,如物联网设备 • PQC 转换超越了量子,容易受到量子抗性的影响 • 它是向满足现代安全概念的加密方案的过渡,例如密钥封装机制 (KEM) 在自适应选择密文攻击 (IND-CCA2) 下的密文不可区分性和选择消息攻击下的存在不可伪造性 (EUF-CMA) • 密码学研究的进步使我们能够 • 引入考虑到量子计算的可证明安全的加密方案,例如在 QROM 模型下
晶圆处理 湿法清洗 溶剂清洗 Piranha 溶液 RCA 清洗 光刻 离子注入 干法蚀刻 湿法蚀刻 等离子灰化 热处理 快速热退火 炉退火 热氧化 化学气相沉积 (CVD) 物理气相沉积 (PVD) 分子束外延 (MBE) 电化学沉积 (ECD) 化学机械平坦化 (CMP) 晶圆测试 晶圆背面研磨 芯片制备 晶圆安装 芯片切割 IC 封装 芯片附着 IC 键合 引线键合 热超声键合 倒装芯片 晶圆键合 胶带自动键合 (TAB) IC 封装 烘烤 电镀 激光打标 修整和成型 IC 测试
摘要:测量了用于防护 SARS-CoV-2 病毒(直径 100 ± 10 纳米)的布制口罩中使用的 32 种布料(14 种棉、1 种羊毛、9 种合成、4 种合成混纺和 4 种合成/棉混纺)的过滤效率 (FE)、压差 (ΔP)、品质因数 (QF) 和结构参数。还测量了七种聚丙烯基纤维过滤材料,包括外科口罩和 N95 呼吸器。还对天然、合成或天然-合成混纺的多层和混合材料样品进行了额外测量,以模拟布制口罩的构造方法。对材料进行微成像,并针对选定尺寸的 NaCl 气溶胶进行测试,颗粒迁移率直径在 50 至 825 纳米之间。表现最好的五个样品中有三个是 100% 纯棉编织而成,纱线支数较高到中等,另外两个是中等支数的合成纤维编织而成。与最近发表的研究相比,使用混合材料的样品在测量的 FE 与各组分单个 FE 的乘积相比没有表现出显著差异。对于轻质法兰绒,FE 和 Δ P 随着布层数的增加而单调增加,这表明多层布口罩可能对纳米级气溶胶提供更高的防护,最大 FE 由透气性决定(即 Δ P )。关键词:SARS-CoV-2、COVID-19、布口罩、口罩、个人防护、气溶胶、呼吸防护 I
安全、容量、维护和重大维修——7500 万美元 • 4000 万美元 – 固定劳动力成本和合同 • 2400 万美元 – 公用事业基础设施维修 • 100 万美元 – 继续多年屋顶更换 • 300 万美元 – IT 基础设施升级 • 700 万美元 – 其他维修和更换项目