摘要 球栅阵列 (BGA) 是一种表面贴装芯片封装,常用于许多微电子产品。封装下方有焊球阵列,为 PCB 提供电气连接和机械支撑。BGA 以其低电感、高引线数和紧凑尺寸而闻名。BGA 芯片与印刷电路板的对齐更简单。这是因为引线(称为“焊球”或“焊料凸块”)与引线封装相比距离更远。锡-银-铜 (Sn-Ag-Cu) 是一种常用的焊球,也称为 SAC,是一种无铅合金 [1, 2]。SAC 目前是用于替代锡铅的主要合金系统,因为它具有足够的热疲劳性能,并且接近共晶,润湿性和强度符合要求的规格。然而,对于更严格的可靠性要求(例如汽车应用),当覆盖面积超过一定尺寸时,SAC 焊料将难以满足板级可靠性。这导致了对替代焊料合金(例如 SACQ 和 QSAC)的研究。将比较 SAC305、SACQ 和 QSAC 的拉伸强度、伸长率和硬度等性能。研究各种类型焊球与 BGA 的焊点在球剪切时的故障模式和球剪切强度的测量。这些焊料合金需要在高温条件下进行长达 3000 小时的高温储存 (HTS)。我们将分享和讨论实验结果的详细信息,包括故障模式和金属间化合物的特性和相关性。