Exaddon的Ceres µAM系统通过局部电沉积打印高电导金属对象。该系统将直接在预预生使的芯片和Micropcb上打印独立的结构,例如支柱,针和线圈。打印在室温下发生,不需要后处理,并且与IC和PCB制造步骤兼容。分辨率为<1 µm,结构可以以微米精度位于印刷表面上。可能的纵横比为100:1。应用包括半导体探针测试,神经接口/BCIS和MMWAVE/5G/THZ组件。
MIT.nano 的特性分析套件包含一系列高灵敏度显微镜和其他仪器。我们最先进的工具支持表面和界面的维度科学、高级成像光谱(环境、低温和原位)以及纳米级分析。与 MIT.nano 的其他部分一样,用户群来自广泛的兴趣领域。仅在全面运营的第一年,来自 12 个不同学术部门的 160 名用户以及来自行业和其他机构的外部用户就利用我们的仪器推进他们的调查。
图 1. 代表在 (a) 黑暗条件下使用 (b) 垂直极化和 (c) 水平极化、λ avg = 528 nm 照明生成的薄膜的 SEM。 (d) 透视 AFM 代表使用两个正交极化 λ avg = 528 nm 照明输入(总强度的 0.7 部分在一个极化中提供,其余部分在正交极化中)通过单个步骤由无机向光性生长生成的薄膜。
● 加快内部授权包的开发和维护 ● 加快内部评估和授权活动 ● 能够强制外部评估人员使用基于 OSCAL 的授权包 ● 能够与外部利益相关者共享基于 OSCAL 的安全内容 ● 启用涵盖传统系统和云基系统的仪表板