由5.9 t活性LXE(166 K)填充的TPC直接检测DM。wimps与LXE核的相互作用产生闪烁光(46ɣ /kev @ 178 nm)。253(顶部)和241(底部)Hamamatsu R11410-21低背景低温PMTS由Hamamatsu和Xenon合作共同开发。PMT选择在操作过程中几乎10%的PMT失败。5%高脉冲率,<5%的光泄漏。1.5 kV偏置,以避免不稳定性,例如瞬态闪光灯。对于所有PMT,在LXE温度下测量了约40 Hz的典型暗计数。
•地下氩气 - 39 AR•更好地控制表面背景 - 涂料•降低放射性光收集 - 从PMT到sipms•Darkside-20k•Argo•Argo•到达那里 - 加拿大集团的中期计划
符合条件的学生:仅限 PMT 和 EHO。EHO 先决条件必须完成以下课程: • 船舶卫生控制豁免证书计划(电子学习:CFHP-SSCEC-1.0) • 船舶卫生设备的健康方面(电子学习:NMCPHC-HAMSD-1.0) • 海上水卫生(电子学习:NMCPHC-WSA-1.0) • 船上害虫管理(CIN:B-322-1075) • 食品安全经理/主管(CIN:B-322-2101)
上面描述的模型依靠冲击电离来繁殖光电子。电子探测器包括特别是光化管(PMTS,Art,1990),电子杂货CCD(EM-CCDS,Ryan等,2021年,Plakhotnik等人,和Plakhotnik等人,2006年),Intensi ED CCDS(ICCDS),Avalanch PhotodeShents(Aval Challanch Photodes)(Apphanch and diiodies)(Apphanch and diiodies)(APPHALENTERD DIIOODES)(APPHALLENTHENTENCHENT)(APPHALENTEN), (Spads)。这些可以改善信号,但也会引入额外的噪声,即“乘法噪声”,它掩盖了光子射击噪声(Cho等,2006和Art,1990)。重要的是要注意,在这种情况下,该协议不会产生物理上正确的光子转换因子。
这项研究引入了创新的机器学习(ML)辅助采样方法,旨在更有效地扩展标准模型(BSM)参数空间。Markov Chain Monte Carlo(MCMC)和Hamiltonian Monte Carlo(HMC)等传统方法经常在高维,多模式空间中面临限制,从而导致计算瓶颈。我们的方法结合了积极训练的深层网络(DNN)和嵌套采样,动态预测更高的样子区域,以加速收敛并提高采样精度。这些可扩展的框架具有可扩展的框架,可以在高层物理学(HEP)研究中进行全面分析,以解决bsm compariete bsm commiate bsm commiate bsm compariate bsm compariate bsm comporiate comportiation comportiation comportiation。
图1显示了我们新的四头旋转山果聚接受仪的框图(4个字母)。四轨分隔器(立方体封闭)并在彼此注册的情况下,旋转为单个固定,以包围患者的头部。每个匹配仪表仪,闪烁晶体(NAI(TL),26.0 cm x 20.8 cm x 9.0毫米),30张照片乘数管(PMTS)和前置仪。闪烁晶体是一个平面光导向,耦合到6 x 5阵列的PMT。如描绘的素图2,Special2-In。平方bialkali pmtswereutilized允许尺寸紧缩的尺寸紧凑型to虫,使用标准圆形PMT的一个具有相同效率的效果场(FOV)。探测器的边缘(死空间)的边缘仅为7.0厘米,摄像机/脑接近和大脑观察体积的启示剂,包括小脑,而没有患者的肩膀。
固态技术的进步导致硅光电塑料(SIPM)的使用增加,用于粒子物理仪器中的闪烁光检测[1]。,正在积极考虑使用SIPMS用于直接检测暗物质(例如拟议的XLZD实验[2])的实验中,并潜在地升级到Lux-Zeplin(LZ)检测器[3-5]。与光电倍增管(PMTS)相比,吸引力是显着的:放射性障碍的大小和数量更紧凑,对磁场的弹性,较低的工作电压以及自然像素化的光敏感区域,可以改善事件重建。作为一个简短的描述,SIPM是雪崩光电二极管的像素化阵列:P-n连接反向偏向于其击穿电压。当像素检测到一级光子时,所得的Geiger模式的电荷载体也会发出次级光子[6,7]。这种副作用是硅雪崩设备的通用[8]。这些二次光子本身可以通过SIPM中的不同像素检测到,因此产生了过量的,虚假的信号,这种效果称为光串扰。1因此,SIPMS的缺点是以串扰,光子检测形式的过量信号的固有产生,这种效应以设备增益非线性地缩放[10,11]。光串扰只要内部包含在原始设备中,就可以轻松地校准。在这种情况下,效果通常称为内部串扰。这被称为外部串扰。如果在检测器中仪器进行了多种s尖,则可能发生不同设备之间的串扰。因为次级光子已经逃脱了原始设备并被另一个SIPM检测到,因此校准不再直接。以这种方式,不幸的是,SIPM表现为脉冲手电筒。的确,在单个设备水平上不可能进行外部串扰的校准,并且只能由粒子探测器系统中的其他设备进行测量。