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5.1动机的主要好处是： - 正式化的保质期最多可以持续24个月 - 无论如何，建议是一般的指示，而主要的MBB鲁棒性证明仍然是HIC（湿度指标）的控制。如果HIC没有改变颜色，这只是证明了该袋子仍然处于良好状态，并且正在保护装置免受可能的水分穿透。5.2客户福利制造灵活性
技术报告创业过程...
创意的相关性取决于所应用的评估标准，但这些标准的重要性并不总是相同的。每个标准的重要性（权重）水平因领域和创作过程的目标而异。例如，在技术导向问题的情况下，响应问题规范的创意被认为是好的。在产品设计问题的情况下，情况略有不同，因为即使创意不符合问题的规范，也可以将其视为好创意（Bonnardel，2006）。更准确地说，用于评估创意的标准权重可能会根据领域而变化。例如，在家具或网站创作的背景下，原创性更有价值（即 70% 原创性，30% 适应性），而在工业背景下，适应性更受重视（即 30% 原创性，70% 适应性）（Bonnardel，2006）。所有这些形式化的合理性都是因为“评估系统”并不直接适应特定情况和背景，而是需要进行设计和调整（Micaëlli 和 Fougères，2007）。
EU的合格声明
所有可靠性测试均已完成，并取得了积极的结果。在最终电测试中均未检测到功能性和参数拒绝。对提交给DIE和包装的测试的样品进行的参数漂移分析显示了主要电气监视参数的良好稳定性。面向包的测试尚未证明任何关键。ESD与ST规格一致。On the basis of the overall results obtained, we can give a positive judgment on the reliability evaluation for MDmesh™ DM6 Technology 8” Wafer Front-end Capacity Extension for Automotive product, in details STHU36N60DM6AG, STH47N60DM6-7TAG,STB47N60DM6AG, STB41N40DM6AG and STI47N60DM6AG与ZVEI指南一致，在SG8”（新加坡）的Fab（新加坡）Fab（日本）和Amkor ATJ6（日本）分包商组装。将在产品STW72N60DM6AG-STWA72N60DM6AG上的结果后立即发布进一步的报告版本。
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1.2结论所有可靠性测试均已完成，并取得了积极的结果。在最终电测试中均未检测到功能性和参数拒绝。According to good reliability tests results in line with validated product mission profile and reliability strategy, the qualification is granted for all Finished Goods diffused in TSMC SSMC 8'' (0.18 μ m EMBEDDED FLASH) – for the die F422CCC1, F440CCC2, F444CCC2, F448CCC2, F445CCC1, F442CC1 & F438CCC1 and assembled in the following packages: LQFP48 7x7 ASEKH, LQFP48 7x7 ST Muar, LQFP64 10x10 JSCC, UQFN48 7x7 JSCC, UFBGA64 5x5 ATP3, LQFP100 14x14 ATP1, LQFP100 14x14 ST Muar, WLCSP STATS奇帕克新加坡，UFQFPN28 4x4 Col JSCC，TSSOP20 ST深圳和LQFP48 7x7 JSCC。有关可靠性测试结果，请参阅第2.0节。
OSD32MP2X-PM - ST STM32MP2处理器 + DDR4 SIP
遵守与您或我们实施的任何行业标准，Stmicroelectronics NV及其子公司（“ ST”）保留对ST产品进行更改，更正，改进，改进以及改进ST产品和本文档的改进的权利。购买者应在下订单之前获取有关ST产品的最新相关信息。ST产品根据ST在订单确认时的销售条款和销售条件出售。
产品/工艺变更通知 1.PCN...
ST 深圳（中国）组装和测试线升级为工业级 SO8N 封装 105°C EEPROM 产品 SO8N 封装 105°C EEPROM 产品被所有客户和所有应用广泛地大批量使用。为了长期保持高水平服务和支持大批量生产，ST 决定将组装和测试线从高密度（HD）条带测试线转换为超高密度（SHD）条带测试线。这两条线都安装在 ST 深圳（中国）。自 2012 年以来，SHD 条带测试线已经为工业市场生产大批量 EEPROM SO8N 产品。有什么变化？ST 深圳（中国）的 SO8N 封装 105°C EEPROM 组装和测试从高密度（HD）条带测试线升级为超高密度（SHD）条带测试线。SHD 组装线以更高的并行度运行，组装流程与当前的 HD 线相同。随着持续改进，在芯片贴装和引线键合之间引入了等离子清洗步骤。已对引线框架尺寸进行了合理化。 SHD 条带测试线具有更高的并行度，并且测试流程和测试顺序与当前 HD 线相同。 SHD 条带测试线采用与当前 HD 线相同的测试设备运行。有关装配和测试流程的更多详细信息，请参阅附录 B。 为什么？ 意法半导体存储器部门的战略是长期为客户提供产品和服务质量支持。 根据这一承诺，这一变革将确保长期可用性和 105°C SO8N 产能，同时提高产品制造质量。 什么时候？ 发货将从 2023 年第 01 周开始。 当前 HD 条带测试线上的 105°C EEPROM SO8N 生产将持续到 2023 年 6 月底，以便有时间逐步提高 SHD 生产线的产能。 从 2023 年 6 月起，105°C EEPROM SO8N 产品将仅在 SHD 线上生产。 如何认证变更？ 此变更已使用标准意法半导体公司质量和可靠性程序进行了认证。组装资格报告 RERMMY2005 现已提供，包含在本文档中。测试 (I2C/SPI) 资格报告 TERMMY2005-2 预计于 2022 年第 26 周发布。
条目+模块XM125数据表V1.2
5.1 t est车辆........................................................................................................................................................................................................................................... ....................................................................................................................................... 10 6 ANNEXES ........................................................................................................................................................... 11