教授Bodh Raj Mehta(副校长),主席 Prof. SC Saxena 教授,副校长 Shri Manu Bhaskar Gaur,JUIT-Waknaghat 首席执行官Manoj Mishra,印度理工学院鲁尔基分校,外部成员Brahmjeet Singh 博士,NIT,Kurukshetra,外部成员AK Tyagi,IGCAR,Kalpakkam,外部成员 Brig Jawahar Singh(已退休),高级总经理行政人员,Sector-128 Brig Sanjay Dawar(已退休),主管安置和学生福利主任Vikas Saxena 教授,主任JBS 主任 Anubha Vashist 教授Pammi Gauba,I 学院院长(A&R)兼生物技术主管Shweta Srivastava 教授,A&R 学院 II 院长兼 ECE 主管Monika Suri,HSS 院长兼系主任Arti Noor 教授,学术院长(J128) Alka Tripathi 教授,数学系主任Sandeep Kr Singh 教授,计算机科学系主任S. Krishna Sundari,生物技术教授Krishna Asawa 教授,CSE 教授Jitendra Mohan 教授,欧洲经委会教授Manish Kumar Thakur,CSE/IT 教授Sajaivir Singh 教授,欧洲经委会教授RK Misra 教授,JBS 教授BP Chamola 教授,数学教授SP Purohit 教授,PMSE 教授RK Dwivedi,PMSE 教授Mukta Mani 博士,HSS 教授Monali Bhattacharya 博士,HSS Satyendra Kumar 博士,欧洲经委会Amit Verma 博士,PMSE Prakash Kumar 博士,CSE/IT Shalini Mani 博士,生物技术S Suresh 博士,JBS Amba Agarwal 博士,HSS Dinesh Tripathi 博士,PMSE Pankaj Kumar Yadav,ECE Col (Dr) Sharad Rastogi,注册官 Shri Sanjiv Puri - 首席财务官
参考文献和链接 [1] J. Aloimonos,“回复,我所学到的”,图像理解,第60,号1,页74-85(1994 年)。[2] C.-E. Liedtke,“图像分析中的智能方法”,Proc.SPIE,第3478,页2-10(1998 年)。[3] W. Osten,“主动光学计量学 - 通过示例定义”,Proc.SPIE,第3478,页。11-25(1998)。[4] W. Osten,M. Kujawinska,“主动相位测量计量学。”在:P.K.Rastogi 和 D. Inaudi(编辑。):光学无损检测和检测趋势,Elsevier Science B.V. 2000,页。45-69。[5] W. Osten,W. Jüptner,“用于主动光学 3D 检测的新光源和传感器”,Proc.SPIE Vol.3897,页。314-327(1999)。[6] Vialux GmbH,ALP 产品表,Chemnitz 2003,www.vialux.de。[7] C. Pruss,H. Tiziani,“使用膜镜进行非球面测试的动态零透镜”,Opt。Comm。233,15-19(2004)。[8] W. Li,Th。Bothe,W. Osten,M. Kalms,“物体自适应图案投影 - 第一部分:逆图案的生成”,Opt。& Las Eng。41 ,页。31-50 (2004)。[9] B. E. A. Saleh、M. C. Teich,《光子学基础》,John Wiley & Sons Inc. 纽约 (1991)。[10] W. Osten、W.、Jüptner,“用于 3D 形状和变形测量的现代光学传感器”,LaserOpto Oktober Vol。32,页。51-57 (2000) [11] Th。Bothe、W. Osten、A. Gesierich、W. Jüptner,“紧凑型 3D 相机”,Proc.SPIE Vol。4778,页。48-59(2002 年)。[12] B. Carlson,“光阀技术的新突破”,《高级成像》,第 62-63 页(1998 年)[13] S. Krüger、G. Wernicke、W. Osten、D. Kayser、N. Demoli、H. Gruber,“通过在卷积处理器中使用小波滤波器进行干涉条纹图案中的故障检测和特征分析”,《电子成像杂志》第 10 卷,第228-233(2001 年)。