过去十年。尤其是,光线和灵活设备的开发将代表该领域的重大突破,因为它允许新的检测器设计和应用程序,例如,便携式实时X射线测量器或弯曲的数字X射线成像仪。[1] Exposure to high doses of X-rays increases the risks of developing radiation-induced disorders such as can- cers [2] and enhancing the detection limit of detectors is a critical key issue for medical application, since it would help reducing the radiation dose delivered to the patient and therefore limit the radiation hazards linked to radiation therapy and diagnostics (e.g., mammography, X-ray tomography).上面引用的规格要求开发可处理的X射线直接检测材料与柔性塑料底物上的低温沉积兼容,并能够以低辐射剂量工作。不过,由于机械刚度低和高X射线吸收的双重必要性,所有这些要求都无法轻易满足单个材料,因此通常通过浓稠且沉重的吸收层来实现后者。的确,参与直接X射线检测的传统最先进材料包括硅(SI),无定形硒(α-SE)和锌锌锌醇锌(CZT)(CZT),它们因其高原子数(z)和密度而以其高X射线停止功率而闻名。柔性应用受到塑料基材及其机械刚度的高加工温度输入的阻碍。带有构图的3D ho最近,有机半导体似乎是直接X射线检测的传统无机半导体的有希望的替代品。[3,4]有机半导体具有吸引人的特性,尤其是通过基于大区域溶液的技术进行处理的可能性,例如钢筋涂层[5]或喷墨印刷[6]在柔性基板上。有机材料的低z然而,限制了其停止功率,从而限制了低辐射剂量以高能X射线的检测。机械刚性和大型X射线吸收之间的权衡是应对新型X射线检测材料的开发的有趣挑战。在过去的几年中,关于直接X射线检测材料的研究主要围绕混合有机/盐酸卤化物钙钛矿(HOIP)围绕。
CT 扫描在临床医学中发挥着独特而必要的作用。2018 年美国进行了约 8200 万次 CT 扫描,其中 1150 万次是头部 CT 扫描。2、3 尽管数字如此之大,但 CT 的辐射暴露在很大程度上阻碍了前瞻性人体研究。此外,与 MRI 成像相比,低软组织对比度导致头部 CT 成像的临床研究发表相对较少。在临床环境中,CT 用于诊断大体结构病理,然后根据临床指征进行 MRI 成像。当 MRI 成像的信号强度基本上未校准时,CT 的图像强度是一个经过缩放和校准的指标,它反映了成像材料的放射密度并提供定量的组织测量值,而 MR 成像无法评估这一点。在这篇综述中,我们讨论了头部 CT 成像定量分析的当前方法和应用。
了解纳米级热传播的基本原理对于下一代电子产品至关重要。例如,已知层状材料的弱范德华键会限制其热边界导率 (TBC),从而成为散热瓶颈。本文提出了一种新的非破坏性方法,使用时间分辨的光致热应变 X 射线测量来探测纳米级晶体材料中的热传输。该技术通过测量光激发后 c 轴晶格间距的变化,直接监测晶体中随时间的温度变化以及随后跨埋层界面的弛豫。研究了五种不同的层状过渡金属二硫属化物 MoX 2 [X = S、Se 和 Te] 和 WX 2 [X = S 和 Se] 的薄膜以及石墨和 W 掺杂的 MoTe 2 合金。在室温下,在 c 平面蓝宝石衬底上发现 TBC 值在 10–30 MW m − 2 K − 1 范围内。结合分子动力学模拟,结果表明高热阻是界面范德华键合较弱和声子辐射度较低造成的。这项研究为更好地理解新兴 3D 异质集成技术中的热瓶颈问题奠定了基础。
此预印本的版权所有者于 2020 年 5 月 1 日发布此版本。;https://doi.org/10.1101/2020.04.28.20082776 doi: medRxiv preprint
1996 年是 W. K. 伦琴发现 X 射线一百周年,人们庆祝了这种“奇异射线”提供的深刻见解。除了普遍用于对视觉不透明系统的内部结构进行成像之外,X 射线在阐明物质的几何结构和电子结构方面也具有重要应用。除了同步辐射设备外,在普通实验室环境中可用的传统 X 射线源的波长非常适合揭示晶体固体和生物分子中的原子排列。此外,吸收和发射的 X 射线的光谱可以揭示原子、分子和材料的电子结构。类似地,核 β 射线反映原子核的能级结构,其波长范围远低于 X 射线波长,就像 X 射线波长低于可见光波长一样。 1912 年首次报道的 X 射线衍射将 X 射线波长与晶格尺寸联系起来,但未能将这两个尺度与宏观物体的尺寸联系起来。从 20 世纪 30 年代初到 70 年代初,X 射线光谱对确定 N A 、h/e 和 hc/e 等基本常数做出了重要贡献。然而,这些测量受到 X 射线尺度与可见参考波长之间联系不确定性的限制。直到七十年代中期,唯一确立的直接联系是