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Rigaku Nex CG用户手册
Rigaku Nex CG II系列是一种多元素的多功能分析仪，非常适合测量各种样品中的超低和微量元素浓度。他们为农业，制药和环境监测等行业提供服务。分析仪通过EZ分析以及高级定性和定量分析软件提供简化的用户界面。Rigaku针对用户需求的高级分析解决方案Rigaku的RPF-SQX基本参数软件提供了先进的定性和定量分析功能，包括支持遵守21 CFR第11部分的支持。该软件具有Rigaku配置拟合技术和散射FP，为半定量和严格的定量分析提供了强大的集成平台。系统减少了对校准标准的需求，从而降低了成本和工作量要求。X射线荧光（XRF）是一种用于确定元素组成的经济分析方法，Rigaku的WDXRF产品对于R＆D和QA功能至关重要。
序号
25 Mini XRD Bruker，德国 D8 Advanced CSIR 先进材料与工艺研究所 (AMPRI) 博帕尔 26 多用途 XRD Rigaku SmartLab 印度理工学院 (IIT) 甘地讷格尔中央仪器设施 27 Panalytical PXRD PANalytical PANalytical 印度科学研究所 (IISc) 班加罗尔固态与结构化学部门 28 Panalytical？ XRD PANalitical 荷兰 X'Pert Powder 印度理工学院 (IIT) 坎普尔先进材料科学中心 29 粉末 X 射线衍射 (P- XRD) Bruker Bruker AXS D8 Focus 古吉拉特中央大学 甘地讷格尔中央仪器设备中心 30 粉末和薄膜 X 射线衍射 (XRD) Panalytical XPERT3 Powder 印度理工学院 (IIT) 坎普尔化学工程 31 粉末 X 射线衍射仪 Rigaku XRD SmartLab 印度理工学院 (IIT) 帕拉卡德中央仪器设备中心 32 粉末 X 射线衍射 (粉末 XRD) Bruker AXS D8 印度理工学院 (IIT) 鲁尔基研究所仪器中心 (IIC)
araştırmamakalesi/使用高分辨率X射线diffractio
使用X射线衍射（XRD）方法对纳米结构进行表征提供了有关结构的组成，晶格应变和异次层状层的信息。这些信息对于光电设备的制造过程很有用。在本文中，我们对常用材料Gaalas提供了基本描述。此外，X射线衍射方法对材料表征的重要性为材料的生长和开发过程提供了至关重要的信息。使用X射线衍射（XRD）方法分析外延生长GAAS/GAALA异质结构的结构表征。rigaku全球拟合模拟程序进行比较，以比较实验结果，模拟和实验结果彼此一致。
补充材料，用于“可控抑制SR 2 RUO 4中非常规超导性的可控材料
To determine the thickness of the Sr 2 RuO 4 /NdGaO 3 (110) film, we used a lab-based x-ray diffractometer (Rigaku) and Cu-K α radiation to measure x-ray diffraction (XRD) data at room temperature along the specular crystal trun- cation rod of the Sr 2 RuO 4 thin film/NdGaO 3 substrate, as shown in图s2（a）。从纤维晶体中具有有限尺寸的相干散射，沿平面外方向产生特征性的干扰条纹，即在围绕每个原发性纤维峰的固定强度中，即sec- ondary maxima和minima。这些条纹之间的间距与Crystallites中的层总数成反比；同时，每个结晶石中层之间的平均平面间间距C/ 2确定每个主要纤维峰沿 div>中心的何处
带有苯基钥匙块的带状运输和热耐用的V形有机半导体
作者的完整列表：Chizuru Sawabe；东京大学，高级材料科学系，Shohei Frontier Sciences Kumagai研究生院；东京大学，高级材料科学系Mitani，Masato；东京大学，国内科学研究生院伊西伊（Hiroyuki）； Masakazu的Tsukuba Yamagishi大学；美国国家技术学院，福拉玛学院萨加亚马，哈吉姆；材料结构研究所科学，高能加速器研究组织Kumai，Reiji； Hiroyasu材料结构科学研究所SATO研究所高能加速器研究组织（KEK）；里格库公司（Rigaku Corporation），Takeya，Jun；东京大学，高级材料科学系，俄克冈俄克冈大学；东京大学，高级材料科学系，边境科学学院
URI核心设施设备资源的资源描述...
●具有低温和元素分析能力的透射电子显微镜（TEM）：配备了Gatan Crotansfer持有者和牛津仪器能量色散X射线光谱仪（EDS）的JEOL JEEL JEM-2100（EDS）。●具有低温和元素分析能力的扫描电子显微镜（SEM）：Zeiss Sigma-VP现场发射SEM配备了可变压力，次级电子，透镜和反向散射检测器，Gatan Alto Alto低温制备和加载模块，以及Oxford Encellorments Energy Instruments Energy Encellocts Energy Enstruments Energy Enstruments Energy Enstruments X-Ray Epperersive x-Ray Eppesermate（Eds）。●X射线衍射（XRD）：Rigaku X射线衍射仪Ultima IV。●共聚焦拉曼显微镜（CRM）：WITEC Alpha 300 R配备有电动XYZ阶段用于大面积摄入，两个激发激光波长（785和532 nm）和10倍至100倍的目标。●高意见筛选系统（HCS）：Perkin Elmer Opera Phanix高通量共聚焦荧光显微镜。●傅立叶变换红外光谱仪和显微镜（FTIR）：Shimadzu Irtracer-100 FTIR光谱仪，配备了固体和液体的衰减总反射（ATR），适用于传输和反射测量，并与Aimadzu AIM-9000 Microftir系统相结合。●X射线荧光（XRF）：Shimadzu EDX-8100 XRF系统，用于粉末，散装和液体样品的元素分析。大气，真空和氦测量值低检测极限。
用XRF定量应用程序包确定难治产品
1。简介难治产品是可以承受高温（以上1500°C）的材料。它们用于广泛的应用中，包括用熔炉的衬里进行熔融和加热处理，用于冶金，化学，陶瓷，机器，机器，玻璃工业等。有多种类型的折射率，包括以最终产物，粉末颗粒或糊状的单片折射率形式形成的形状折射率，这些形式是在施工现场形成的。此外，难治性产品可以具有不同的化学性质。例如，主要由Sio 2和Zro 2等酸性氧化物组成的酸性折射率，主要由MGO和CAO等基本氧化物以及中性折射率组成。根据其预期用途选择耐火材料的类型。为了最大程度地提高此类折磨的性能，必须精确控制其元素组成以满足特定应用的需求（1）。可以根据日本工业标准（JIS R 2216）（2）和ISO 12677（2011）（3）规定的标准化方法对折射率进行分析，该方法利用X射线流量（XRF）光谱法，这被称为快速和准确的定量分析方法，用于元素分析（2）。为了获得准确的分析结果，通过融合珠方法制备样品，以消除晶粒尺寸和矿物学效应。本文使用用于石英岩难治产品的应用程序包（酸性难治性）描述了一个分析示例。为了满足客户需求，Rigaku是第一家发布定量应用程序软件包的公司，包括用于折磨。这些应用程序包在没有任何专业的技术技能的情况下轻松，准确地进行定量分析的能力而受到了良好的接待。石英岩折射率对于重复的加热和冷却周期有效，因为它们的体积较小，高于600°C。此外，由于其出色的热能性能，它们被广泛用作可乐烤箱，热炉和玻璃融化室的建筑炉。有必要添加4至5质量的Al 2 O 3或Fe 2 O 3等。是对石英岩折射率的烧结辅助。但是，当在玻璃中使用