基于糖蜜的酿酒厂会产生大量的花费,这是一种主要的环境污染物,由于其高的有机负荷和深棕色。这种颜色主要是由黑色素蛋白引起的,黑色素蛋白是通过Maillard反应形成的,Maillard反应是糖和氨基酸之间的非酶促过程。在这项研究中,从40个分离株中选择了八种有希望的细菌菌株,并指定为S1,S2,S3,S4,S5,S5,S6,S7和S8。这些分离株被筛选,以使用定性和定量分析,使酿酒厂消失的洗涤液脱色。中,分离株S5在不同的洗涤浓度(10%,20%和40%)中表现出最高的脱色潜力。值得注意的是,在10%的浓度下,分离株S5完全(100%)脱色,使其成为本研究中最有效的菌株。基于初步表征,分离株S5试初步鉴定为倾斜物种。其特殊的脱色能力表明,它在酿酒厂的生物修复中具有巨大的商业应用潜力。有关优化环境条件并扩大过程的进一步研究,可以为生态友好且具有成本效益的解决方案铺平道路,以减轻酿酒厂废水的环境影响。简介糖蜜酿酒厂是工业污染的主要因素,产生了大量的高强度废水,其生化氧需求(BOD)和化学氧需求(COD)显着升高。这些分离株通过定性和定量分析筛查了消耗清洗的能力。酿酒厂花费的洗涤物中的主要污染物之一是黑色素素,这是一种复杂的化合物,它是通过maillard反应形成的,是糖和氨基酸之间的非酶相互作用。黑色素素特别关注的是,通过减少水体的光渗透,改变微生物生态系统并抑制植物的生长,从而有助于环境降解。[1]在这项研究中,从总共40个分离株中选择了八种有希望的细菌菌株,并指定为S1,S2,S3,S4,S4,S5,S6,S7和S8。中,分离株S5在不同的洗涤浓度(10%,20%和40%)时表现出最高的脱色潜力。值得注意的是,在10%的浓度下,分离株S5在指定时期内达到100%脱色,使其成为最有效的应变。初步鉴定分离株S5作为planococcus物种,强调了其在生物修复中的商业应用的潜力。鉴于其效率,进一步的研究应着重于优化环境参数,并扩大工业应用的脱色过程。成功实施这种微生物方法可以提供
AA750 2.7 S1 GEPM-1 2.5 S2 GMNO-4 2.6 S3 GTCF-3 2.7 S4 MRF-2 2.5 S5 S5 OM-CNS 3.0 S6 SU-MC 1.0 S7 NDPC-2-800 0.8 S8 COP-122 0.4 COP-122 0.4 S9 ZIF-78 2.7 S9 ZIF-78 2.7 S10 C-PPP-750-2.6
摘要。NASA正在将星际技术开发到技术准备工作中的5级,该级别的指示活动称为S5。S5的目的是将星际技术成熟到诸如星际会合和HABEX之类的系外行星成像任务的水平。本文概述了整个S5活动,以显示其如何以相互一致的方式缩小所有星际技术差距。在此特别部分中,它是报告特定的《星际技术》中进展的其他几篇论文的同伴论文。©作者。由SPIE发表在创意共享归因4.0未体育许可下。全部或部分分发或重新分配或重新分配本工作,需要完全归因于原始出版物,包括其DOI。[doi:10.1117/1.jatis.7.2.021203]
从 S5 到 e-Starling 的下一个产品仍是一个很大的挑战,因此 SAL 的 CEO 向我提出了重新设计 S5 以适应高级私人车主市场的挑战;由此,Q-Starling 应运而生。我试图在技术和配置方面保持脚踏实地,但专注于性能、风格和实用性。我想创造一款高性能但能够垂直起飞和降落的飞机。知道成本不是主要考虑因素让我感到非常自由,因为它允许我使用最好的材料和最好的技术来生产任何富有的车主都会引以为豪的东西。
在人造细胞的产生中取得了重大进展[1-4],但是,迄今为止,还没有构建可以自主复制的人造细胞。在先前建立的方法[5,6]中,可以通过将腺苷与鞘氨酸(SPH)和DNA结合在蛋白中培养人造细胞。在研究人造细胞形成的机制时,证明了SPH和DNA骨料与蛋白成分和人造细胞是由这些SPH-DNA聚集体形成的[6]。这些人造细胞的表面被DNA覆盖,DNA被称为DNA冠状细胞。先前的实验[6]还表明,DNA冠状细胞可以由腺苷和脂质以及蛋清中产生的人造细胞的原始细胞形成。为了确定是否确实可以做到这一点,使用腺苷和单龙蛋白化合物对DNA冠状细胞进行制备,并在这项任务中取得了成功。
周期性的 CDW 畸变通常会导致 CDW 能隙的打开。为了展示 CDW 能隙的形成,我们将 CDW 相的非磁性能带结构展开到原始布里渊区,并与正常相的能带结构进行了直接比较,如下图 S5(a) 和稿件中的图 2(c) 所示。可以看出,CDW 畸变使跨越费米能级的能带产生间隙,从而形成约 0.43 eV 的 CDW 能隙。我们进一步在图 S5(b)-(e) 中绘制了不同应变下 CDW 相的展开能带结构。可以清楚地看到,尽管 CDW 能隙的大小会随着施加的应变而变化,但它始终存在。如图 S5(f) 所示,当拉伸应变从 0% 增加到 4% 时,CDW 能隙从 0.43 eV 单调减小到 0.17 eV。在压应变作用下,CDW能隙首先在-1%应变时增大到0.50 eV,随后随着应变的增加而减小。CDW能隙尺寸的变化应该是CDW畸变幅度和CDW晶格常数变化共同引起的。需要注意的是,CDW能隙和Mott能隙是两个不同的物理量,前者直接来源于CDW畸变,而后者则受电子关联影响。因此,当施加的压应变大于某个临界值时,虽然CDW畸变和CDW能隙仍然存在,但是由于电子局域化的减弱,Mottness能隙会崩塌。
