土耳其nilgünPaksoyharran大学土耳其nilgünPaksoyHarran University,土耳其Siddiqur Rahman孟加拉国农业大学,土耳其nilgünPaksoyHarran大学,土耳其NilgünPaksoyHarran University,土耳其nilgünPaksoyHarran大学, Ufuk MercanYücelvanYüzüncüncüncüncüncounivers,土耳其NurullahÖzdemirNamıkKemalUniversity,土耳其Mohamed Ahmed Ahmed Jimale Somalia somalia somalia国立大学阿尔巴尼亚迪拉纳农业大学院长Jankuloscak SS。西里尔和方法乌斯大学。马其顿AydınVural Dicle University,土耳其AliAydınİstanbul大学,土耳其Zehra hajrulai-Musliu p。西里尔和方法乌斯大学。马其顿Himettin Durmaz Harran大学,土耳其
p 2.1使用聚合物固定的抗生物源膜的抗双源膜的制造和表征,使用聚合物J. kim - 韩国Kyungpook国立大学,韩国。118 p 2.2再生聚碳酸酯作为通过nips D. Breite制备膜制备的原始材料 - 莱布尼兹·伊斯蒂特·弗洛伊尔·奥伯夫弗罗夫·奥伯夫弗罗夫·乔chenmodi-fürfulächenmodi-fizierung(iom),德国。。。。。。。。。。。。。。。。。。119 p 2.3使用陶瓷膜触发器S. trepte-Fraunhofer Ikts,德国。。。。。。。。121 p 2.4交联对聚苯乙烯 - 二乙烯基苯基氯化物共聚物的性质的影响,基于燃料电池的Z.saraç-Gebze技术大学,化学工程,Türkiye。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。123 p 2.5季分化剂对多硫酮/mxene纳米复合物的离子构成性的影响。 Taşdelen-Yücedağ-吉布兹技术大学,化学工程,Türkiye。。。。。。。。。。。。。。125 p 2.6使用块共聚物D. Aydin -SelçukUniversity,Türkiye的受控多孔膜的形成和表征。。。。。。。。127 p 2.7将甲基蓝色染料转运到基于石墨烯的聚合物膜I. Gubbuk-SelçukUniversity,Türkiye。。。。。。。。。129
摘要。脑电图(EEG)是一种用于记录大脑在头皮表面的电活动的方法。EEG记录了由于脑细胞活性而引起的潜在电气波动。 通过研究进度和越来越复杂的测量工具,脑电图越来越多地用于认知功能的研究中。 本文旨在描述脑电图工具的理论介绍及其在心理学和社会科学研究中的用法,尤其是将数据分析和研究与实验设计有关的介绍。 讨论开始于描述脑电图的神经基础和测量假设,然后解释了脑电图设备组件和安装标准。 第二部分通过提供损害脑电图质量的各种工件的示例以及几种纠正这些伪像的常用方法来描述信号处理。 我们通过介绍了几个脑电图数据处理方法的示例来解释特征提取,然后与行为,心理过程或大脑活动相关联。 关键字:脑电图;实验;心理学Abltrak。 脑电图(EEG)Merupakan Metode untuk Merekam Aktivitas Elektris otak pada pada pada perkaan kepala kulit kepala。 eeg merekam fluktuasi potensial elektris yang muncul sebagai akibat dari aktivitas sel-sel sel sel otak。 丹根·凯梅朱恩·佩内利特人丹·萨米金·卡蒂奇·阿拉特·乌克鲁(Eeg Semakin banyak digunakan digunakan dalam dalam dalam penelitian mengenai fingsi kognitif)。EEG记录了由于脑细胞活性而引起的潜在电气波动。通过研究进度和越来越复杂的测量工具,脑电图越来越多地用于认知功能的研究中。本文旨在描述脑电图工具的理论介绍及其在心理学和社会科学研究中的用法,尤其是将数据分析和研究与实验设计有关的介绍。讨论开始于描述脑电图的神经基础和测量假设,然后解释了脑电图设备组件和安装标准。第二部分通过提供损害脑电图质量的各种工件的示例以及几种纠正这些伪像的常用方法来描述信号处理。我们通过介绍了几个脑电图数据处理方法的示例来解释特征提取,然后与行为,心理过程或大脑活动相关联。关键字:脑电图;实验;心理学Abltrak。脑电图(EEG)Merupakan Metode untuk Merekam Aktivitas Elektris otak pada pada pada perkaan kepala kulit kepala。eeg merekam fluktuasi potensial elektris yang muncul sebagai akibat dari aktivitas sel-sel sel sel otak。丹根·凯梅朱恩·佩内利特人丹·萨米金·卡蒂奇·阿拉特·乌克鲁(Eeg Semakin banyak digunakan digunakan dalam dalam dalam penelitian mengenai fingsi kognitif)。本文旨在解释脑电图工具的理论介绍以及一般心理学和社会科学研究中研究和实验的数据分析过程中的过程。初始部分描述了神经的基础和脑电图中的测量假设,随后是对脑电图工具和安装标准的组件的解释。第二部分解释了有关信号处理的解释,这些信号处理给出了损害脑电图质量的各种人工制品的示例,以及在进行常用的伪影校正方面的几种方法。提取特征解释了处理脑电图数据中的几个示例,然后该特征与行为,心理过程或大脑活动有关。关键字:脑电图;实验;心理学
描述 双价口服脊髓灰质炎疫苗 1 型和 3 型 (bOPV) 是一种双价疫苗,它是一种透明的淡黄色至粉红色液体,包装在玻璃瓶中,含有在原代胎儿猴肾细胞中产生的减毒活脊髓灰质炎病毒 1 型和 3 型 (萨宾株) 悬浮液。这种口服脊髓灰质炎疫苗是一种“滴”状悬浮液,可通过滴管滴入(口服)。
“IEEE PES – 新人才,可再生能源与电网挑战的融合 (1) Kamal Garg 博士,首席保护工程师,Schweitzer 工程实验室 (SEL) (2) Sri. Akshay Surti,销售总监,GE T&D,印度 (3) Sri. Rajil Srivastava,执行董事(运营项目),Power Grid India Ltd,印度古尔冈 (4) Sri. Narasimhan Vaidhyanathan,执行董事 – 输电与新能源业务 Reliance Industries Ltd,印度新孟买 (5) Amit Jain 博士,CPRI 副总干事兼智能电网实验室负责人 (6) Subir Sen 博士,PGCIL 执行董事
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
* P <0.05;** P <0.01;*** P <0.001,按 Spearman 等级相关系数计算,其中阴影代表相关系数 (r)。BMI,体重指数;CSF,脑脊液;CHIT1,壳三糖苷酶-1;EDSS,扩展残疾状况量表;Gd +,钆增强;GFAP,胶质纤维酸性蛋白;MS,多发性硬化症;NfL,神经丝轻链;SEL,缓慢扩展性病变;SERPINA3,丝氨酸蛋白酶抑制剂家族 A 成员 3;T2LV,T2 病变体积。a 包括所有基线 CSF 样本已检测 CHIT1 和 SERPINA3 水平的参与者(n=109)。10
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。
卫星和其他航天器中使用的电子器件暴露在宇宙辐射中。为了确保这些器件的可靠性,应仔细研究辐射的影响。评估电子设备辐射可靠性的主要方法是测量其单粒子效应 (SEE) 截面与离子束电离功率的关系。之前已经发表了许多关于太空应用的 SEE 结果 [1-4]。本文讨论的研究旨在确定电子设备对单粒子闩锁 (SEL) 和单粒子翻转 (SEU) 的灵敏度。对十种不同类型的 CMOS 器件进行了 SEE 测量,包括 ADC、DAC、模拟开关、MOSFET 驱动器、数字合成器、延迟缓冲器和晶体振荡器。