[1]佳能,“ Aquilion Precision CT”,https://global.medical.canon/products/compented-tomography/aq_precision。(2022年1月24日)[2] Godinez,F。等,“超级……,IEEE TRPMS 2:7-16(2017)doi:10.1109/trpms.2017.2765486 [3] Cherry,S.R。等人,“具有250…,(2012)的高分辨率宠物,https://www.osti.gov/servlets/purl/1032741(2022)[4] [4] Imai,Y。et al。doi:10.1118/1.3086117
SiPM的传统应用是ToF-PET,此外,随着SiPM性能的不断提升,其正在多个大物理实验的升级中接受评估。
摘要:光子探测器获得精确的时序信息的潜力在许多领域,PET和CT扫描仪中在医学成像和粒子物理探测器等等等中的重要性越来越重要。的目标是增加pet扫描仪的敏感性,并通过对每个事件的真实空间点以及未来粒子加速器设定的限制来进一步飞跃,需要进一步飞跃基于闪烁器的电离仪,最终将picoseConds Restolution延伸到几个picoseconds submevs submev subs Mev subs subs subme sev subme subs submev subme sups subme sev subs subs subs subs subsove suble of pet扫描仪的敏感性。尽管几个制造商在过去十年中取得了令人印象深刻的进展,但SIPMS的单个光子时间分辨率(SPTR)仍在70-120 PS FWHM范围内,而10 ps的值则是10 ps或更少的值。这样的步骤需要与传统方法和新技术的发展进行中断。将纳米素化学的非凡潜力与现代微电子学和3D电子整合所采用的新方法相结合的可能性为开发新一代基于过度的sipms的新观点和空前的光相位效率和计时分辨率开发了新一代的观点。
Signa Pet/MR是为希望宠物成像的无限潜力的医师和物理学家设计的。它基于基于lutetium的闪光灯(LBS)一种创新的MR兼容硅光电塑料(SIPM)技术。SIPMS解决了其他技术的局限性,提供了出色的TOF时正时分辨率,下一代光电倍增器的高增益和低噪声。磅晶体具有高光输出,快速的时机和停止功率以实现TOF PET。sipms由主动和被动(水冷却)热补偿仔细支撑。探测器位于3.0T磁铁的同中心,并提供25厘米的FOV。首次,LBS和SIPM的组合使Signa Pet/MR能够与3.0T MR成像同时执行TOF PET。
•地下氩气 - 39 AR•更好地控制表面背景 - 涂料•降低放射性光收集 - 从PMT到sipms•Darkside-20k•Argo•Argo•到达那里 - 加拿大集团的中期计划
摘要:深层中微子实验(Dune)是旨在研究中微子振荡的下一代实验。其长基线配置将利用近检测器(ND)和位于约1300 km的距离检测器(FD)。FD将由四个液体氩时间投影室(LAR TPC)模块组成。光子检测系统(PDS)将用于检测中微子相互作用后检测器内部产生的闪烁光。PDS将基于耦合到硅光电层(SIPM)的光收集器。已经提出并生产了不同的光发音技术,以确定最佳样本以满足实验要求。在本文中,我们介绍了Hamamatsu Photonics K.K.生产的孔线结合(HWB)MPPC样品的验证活动的过程和结果。(HPK)用于沙丘实验,称它们为“ sipms”。报道了在低温温度(77 K)处进行表征的方案。我们介绍了进行下调标准以及在选择运动中获得的结果,以及对sipms噪声的主要来源的研究,包括研究该领域新观察到的现象。
固态技术的进步导致硅光电塑料(SIPM)的使用增加,用于粒子物理仪器中的闪烁光检测[1]。,正在积极考虑使用SIPMS用于直接检测暗物质(例如拟议的XLZD实验[2])的实验中,并潜在地升级到Lux-Zeplin(LZ)检测器[3-5]。与光电倍增管(PMTS)相比,吸引力是显着的:放射性障碍的大小和数量更紧凑,对磁场的弹性,较低的工作电压以及自然像素化的光敏感区域,可以改善事件重建。作为一个简短的描述,SIPM是雪崩光电二极管的像素化阵列:P-n连接反向偏向于其击穿电压。当像素检测到一级光子时,所得的Geiger模式的电荷载体也会发出次级光子[6,7]。这种副作用是硅雪崩设备的通用[8]。这些二次光子本身可以通过SIPM中的不同像素检测到,因此产生了过量的,虚假的信号,这种效果称为光串扰。1因此,SIPMS的缺点是以串扰,光子检测形式的过量信号的固有产生,这种效应以设备增益非线性地缩放[10,11]。光串扰只要内部包含在原始设备中,就可以轻松地校准。在这种情况下,效果通常称为内部串扰。这被称为外部串扰。如果在检测器中仪器进行了多种s尖,则可能发生不同设备之间的串扰。因为次级光子已经逃脱了原始设备并被另一个SIPM检测到,因此校准不再直接。以这种方式,不幸的是,SIPM表现为脉冲手电筒。的确,在单个设备水平上不可能进行外部串扰的校准,并且只能由粒子探测器系统中的其他设备进行测量。
●在Milano-Bicocca和Ciemat中测试的HD-XA PDE●相同的sipms(在CIEMAT和MIB之间交换),但不同的WLS栏●这些四个配置在Protodune-HD NP04中同样表示,并且在数字和位置W.R.T.中平衡。横梁,进行公平比较●跨言论校正