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1 SN掺杂SB2SE3 ...
https://doi.org/10.26434/chemrxiv-2024-rf0kh-v2 orcid：https：//orcid.org/0000-0000-0002-7542-1147不受chemrxiv的内容而不是同行评审的内容。许可证：CC由4.0
3D集成电路中Cu⠍Sn⠍Cu微焊盘电迁移失效的实验研究
垂直堆叠的三维集成电路 (3D IC) 中的芯片间电通信由芯片间微凸块实现。微凸块的电迁移可靠性对于了解基于 3D IC 的微电子系统的可靠性至关重要。本文报告了通过热压键合在两个芯片之间形成的 Cu-Sn-Cu 微凸块的电迁移可靠性的实验研究。双芯片 3D IC 组装在线键合陶瓷封装中，并在不同温度下的空气和氮气环境中进行电迁移测试。测量了微连接链和开尔文结构的故障寿命和平均故障时间 (MTTF)。结果表明，Cu-Sn 微连接的本征活化能介于 0.87 eV 和 1.02 eV 之间。基于故障分析，提出了可能的故障机制。这项研究的结果有望提高人们对 3D IC 中电迁移可靠性的根本理解，并促进基于 3D IC 的稳健可靠的微电子系统的开发。2014 Elsevier BV 保留所有权利。
SN 018 24 - 含有穿心莲的产品导致严重过敏反应的风险
有报道称，服用含有穿心莲（穿心莲）的药物或补充剂的消费者出现了严重的过敏反应，包括危及生命的过敏反应。据报道，之前使用过该产品且未出现任何反应的消费者也出现了严重的过敏反应。治疗用品管理局 (TGA) 最近发布了有关含有穿心莲的药物的安全警报。他们之前也发布过与此问题相关的信息（2015 年 10 月的安全审查和安全咨询），于 2019 年 12 月对这些药物的标签要求进行了更改，并于 2022 年对这些标签要求进行了有针对性的合规性审查。2024 年 1 月 1 日至 2024 年 6 月 20 日期间，全国范围内报告了 45 例不良事件，其中含有穿心莲的药物被怀疑是 TGA 不良事件通知数据库中的病原体。有 12 例报告为过敏反应，1 例报告在另一个司法管辖区死亡。本安全通知旨在告知新南威尔士州卫生临床医生含穿心莲产品存在严重过敏反应的风险，并建议在治疗出现过敏反应的患者时有必要对这些产品保持高度怀疑。
SN Bose巨大作品的100年
生成的AI：OpenAI的GPT-4和Google Bard之类的模型已彻底改变了内容的生成，实现了类似人类的文本，图像和代码创建。跨越教育，医疗保健和创意产业的应用。多模式AI：Meta的Llama和Openai的Dall·E 3结合了文本，图像和视频处理，使AI系统能够理解和生成多种格式的输出。AI在药物发现中：基于AI的平台，例如DeepMind的Alphafold，已经预测了科学已知的几乎每种蛋白质的结构（截至2023年），加速了医学研究和药物开发。代码的生成AI：Github的Copilot X（2023）和OpenAI的Codex Automate Automate软件开发等工具，从而提高了开发人员的生产率和编码效率。语音中的生成AI：Elevenlabs和Vall-E（Microsoft，2023）启用高质量的语音综合，革新虚拟助手，有声读物和客户服务中的应用程序。自治代理：AI模型（如Autogpt和Babyagi）在没有人类干预的情况下执行多步自主任务，从而超越了单任务重点的AI能力。
Sn掺杂TiO2薄膜的合成和表征...
M. Vanmathi A，，A。PriyaA，M。S. Tahir A，Sahir A，M。S. Razakh a，M。M. Senthil Kumar B，*，R。Indrajit C，R。Indrajit C，V。Elango D，G。Senguttuvan E，R v. Mangalaraja f。泰米尔纳德邦，印度-600 048 B机械工程学院，Vellore技术研究所，钦奈，泰米尔纳德邦，泰米尔纳德邦，印度-600 127 c物理系印度纳杜（NADU），600 089 E物理学系，安娜大学蒂鲁奇拉帕利大学工程学院毒性。进一步的金属掺杂可改变电导率，电气和光学特性。在这项研究中，使用喷雾热解技术进行了SN掺杂TIO 2的沉积。通过使用Hall效应技术获得了电性能，并通过X射线衍射和EDAX扫描电子显微镜分析膜的结构特性。X射线衍射的结果表明，通过喷雾热解沉积的薄膜是多晶的多晶，在（002）场的方向上优先取向。SEM分析表现出通过喷雾热解沉积的薄膜的膜结构。使用HALL效应技术获得了电导率的结果。（2024年6月7日收到； 2024年9月26日接受）关键词：二氧化钛（TIO 2），X射线衍射，扫描电子显微镜（SEM），Hall效果1。今天的引言，众所周知，大多数半导体使用二氧化钛纳米颗粒[1]。TiO 2在传感器[2]，抗菌剂[3]，氢[4]，照片催化剂[5]和水蒸发[6]中找到了其应用。tio 2以其良好的光学特性，廉价，无毒和化学稳定而闻名。
复杂结构 Cu 26 V 2 Sn 6 Se 32 中的超低晶格热导率
CVS-Se 32 和 CVS-Se 30 S 2 的 (κ l )。(c) Cu 基复合晶体中 κ l 随晶胞体积 (V c ) 的变化
拓扑登录元素以交换挫败感驱动的kagome-lattice $ {\ rm ymn} _6 {\ rm sn} _6 $
YMN 6 SN 6由两种类型的基于Mn的基于MN的kagome平面，它们沿着具有复杂磁相互作用的C轴堆叠。我们报告了从铁磁（FM）中的YMN 6 SN 6中进行的自旋重建，以组合两种不一致的自旋螺旋（SSS），这些螺旋螺旋（SSS）源自两种不同类型的Mn Kagome平面，由沿C-轴的沮丧的磁性交换驱动，并包括Hubbard u。不稳定的SSS的螺距角和波矢量约为89。3◦和〜（0 0 0.248），与实验非常吻合。我们采用通过交换相互作用构建的有效模型的哈密顿式模型来捕获两种不稳定的SSS的实验性观察到的非效法性质，这也解释了由于与相关性的抗fiferromagntic自旋交换而引起的FM-SS交叉。我们通过计算拓扑不变性和浆果曲率pro文件，进一步报告了在YMN 6 SN 6的不相称的SS相中具有自旋轨道耦合的拓扑镁的存在。在73 MEV匹配的能量景观中，狄拉克木元的位置与另一个实验报告。我们通过突出YMN 6 SN 6中的实验特征来证明结果的准确性。