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摘要 — 在有限的芯片占用空间和能源供应下,边缘人工智能 (AI) 的快速发展对边缘设备的数据密集型神经网络 (NN) 计算和存储提出了很高的要求。作为一种有前途的节能处理方法,内存计算 (CiM) 近年来在缓解数据传输瓶颈的努力中得到了广泛的探索。然而,片上内存容量较小的 CiM 会导致昂贵的数据重新加载,限制了其在大规模 NN 应用中的部署。此外,先进 CMOS 缩放下增加的泄漏降低了能源效率。在本文中,采用基于铟镓锌氧化物 (IGZO) 薄膜晶体管 (TFT) 的器件电路协同来应对这些挑战。首先,提出了 4 晶体管 1 电容器 (4T1C) IGZO eDRAM CiM,其密度高于基于 SRAM 的 CiM,并且通过较低的器件泄漏和差分单元结构增强了数据保留。其次,利用新兴全通道 (CAA) IGZO 器件的后端 (BEOL) 兼容性和垂直集成,提出了 3D eDRAM CiM,为基于 IGZO 的超高密度 CiM 铺平了道路。提出了包括时间交错计算和差分刷新在内的电路技术,以保证大容量 3D CiM 下的准确性。作为概念验证,在代工厂低温多晶和氧化物 (LTPO) 技术下制造了一个 128 × 32 CiM 阵列,展示了高计算线性度和长数据保留时间。在扩展的 45nm IGZO 技术上的基准测试显示,仅阵列的能效为 686 TOPS/W,考虑外围开销时为 138 TOPS/W。
癫痫发作预测是治疗耐药性癫痫最常用的辅助策略之一。由于个体间差异,传统方法通常从同一患者身上收集训练和测试样本。然而,不同受试者之间的领域转移这一棘手问题仍未解决,导致临床转化率低。在本文中,提出了一种基于领域自适应 (DA) 的模型来解决这个问题。利用短时傅里叶变换 (STFT) 从原始脑电图数据中提取时频特征,并开发自动编码器将这些特征映射到高维空间。通过最小化嵌入空间中的域间距离,该模型学习了域不变信息,从而通过分布对齐提高了泛化能力。此外,为了增加其应用的可行性,本文模拟了临床采样情况下的数据分布,并在此条件下测试了模型,这是首次采用该评估策略的研究。在颅内和头皮EEG数据库上的实验结果表明,与以前的方法相比,该方法可以有效地最小化域间隙。
WT 7” (800 x 480) TFT-LCD HMI 解决方案支持大型 7” TFT-LCD 电容式触摸屏,分辨率高达 800*480,配备 RA MCU。借助强大的 SEGGER emWin 图形,用户可以创建高效、高质量、交互式的图形用户界面。此 HMI 解决方案为嵌入式 GUI 应用提供了出色的演示。了解更多信息:https://www.wtmec.com/
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4.1 定期维护 ................................................................................................ 21 4.2 维护要求及协调 ...................................................................................... 21 4.3 状态程序 .............................................................................................. 22 4.4 目前使用的坡道测试设备 ............................................................................ 22 4.5 测试设备自动化 ...................................................................................... 23 4.6 可能的限制 ............................................................................................. 25 4.7 可能的改进列表 ...................................................................................... 25 4.8 建议 ...................................................................................................... 26 4.9 理由 ...................................................................................................... 27
4.1 定期维护 ................................................................................................ 21 4.2 维护要求及协调 ...................................................................................... 21 4.3 状态程序 .............................................................................................. 22 4.4 目前使用的坡道测试设备 ........................................................................ 22 4.5 测试设备自动化 ...................................................................................... 23 4.6 可能的限制 ............................................................................................. 25 4.7 可能的改进清单 ...................................................................................... 25 4.8 建议 ...................................................................................................... 26 4.9 理由 ...................................................................................................... 27
