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World File Search SystemXRD
X射线衍射（XRD）
英国物理学家W.H.先生布拉格和他的儿子W.L.爵士Bragg在1913年建立了一种关系，以解释为什么晶体的裂解面似乎以某些入射角（Theta，θ）反映了X射线梁。变量d是晶体中原子层之间的距离，而可变lambdaλ是入射X射线束的波长； n是整数。此观察是X射线波干扰（roentgenstrahlinterferenzen）的一个例子，通常称为X射线衍射（XRD），并且是假定晶体周期性原子结构的直接证据。
在电池分析中推动 XRD
电池的安全性、性能和寿命与制造电池的材料特性（包括其晶体结构）息息相关。在整个开发和制造过程中，电极、隔膜、集电器和所有其他组件都需要进行全面表征和监控。X 射线衍射 (XRD) 在这一表征中起着至关重要的作用，它是一种非破坏性方法，可提供原子级的详细结构信息。在现代 XRD 系统中，这不仅适用于非原位测量的单个电池组件，甚至适用于通过原位或原位测量完成的、正常运行的电池。
使用SmartLab System
粉末，散装，薄膜粉末的附件，薄膜X射线源3KW ／ 9kW0d・1d ・1d ・ 2D检测器反射 /变速箱Johanssonkα1单位（选项）
PANalytical Empyrean：粉末 XRD 程序手册
6) 增加电压和电流：a) 要增加电压和电流，请转到“仪器设置”选项卡，然后双击任意蓝色文本。b) 单击“X 射线”选项卡。空闲状态为 45 kV 和 20 mA，而测量状态为 45 kV 和 40 mA。如果电压不是 45 kV，请将其更改为 45 kV 并单击“应用”。如果电流已经是 40 mA，则无需执行任何操作。7) 安装样品台：a) 要将样品放入 Empyrean，请转到“仪器设置”选项卡，然后双击任意蓝色文本。b) 在“样品台”选项卡下，取消选中“抬起”旁边的框，然后单击“应用”（您可能需要单击“抬起”框一次，单击“应用”，然后重复这两个步骤。有时计算机会对样品台的当前状态感到困惑）。c) 将样品安装在仪器中。注意不要对样品支架区域施加力，否则会关闭整个仪器 d) 在“样品台”选项卡下，选中“提升”旁边的框，然后单击“应用”。必须关闭门才能提升。 8) 注意：将固体样品的样品支架放入 Empyrean 后，检查样品支架是否
参考材料证书定量XRD粉碎...
•经过认证的价值是通过实验室平均值的平均分析物的平均值来确定的，没有实验室结果的分析物或实验室中位数中位数的中位数的平均值。•标准偏差是分析物确定扩散的度量，包括实验室间偏见，方法不确定性和材料同质性不确定性。使用相同分析方法的确定的约95％预计将在认证值的两侧两侧之间。标准偏差是根据经过验证的实验室数据数据计算得出的，较少的实验室和个体确定。•在实验室标准偏差（S W）内是确定值在报告实验室中的平均分布，较少的实验室和个体确定。这是由参与实验室组的单个因素方差分析计算得出的•置信区间（CI）是对材料在95％置信区间中对材料中的真实（不可知）分析物浓度的估计。例如，可以解释95％CI，因为有0.95的概率是真实值在认证值±CI之间。间隔越窄，认证值越精确。95％CI不应用于确定质量控制门。•标准不确定性（U CRM）是表征，同质性和稳定性研究的差异之和。表征的不确定性来自
使用XRD，CEC和LSM
页岩表征对于理解其作为碳氢化合物储层的潜力和优化液压压裂操作至关重要。在这项研究中，我们评估了页岩表征的三种方法的有效性：X射线衍射（XRD），阳离子交换能力（CEC）和线性溶胀仪（LSM）。该研究是对来自特定位置的一组页岩样品进行的。使用XRD分析样品以确定其矿物学，CEC以测量其离子交换能力和LSM以评估其肿胀特性。结果表明粘土稳定剂和KCL盐的表现要好得多。不同添加剂的浓度可能对肿胀产生正/负面影响。CEC值可以通过使用XRD结果确定的统计方法来确定每个形成。总体而言，该研究强调了使用XRD，CEC和LSM组合进行全面的页岩表征的潜力。关键字：页岩岩属性； FRAC流体优化；碳氢化合物储层
使用ARL X'tra Companion benchtop XRD
仅用于研究使用。不适用于诊断程序。有关当前认证，请访问thermofisher.com/certifications。©2024 Thermo Fisher Scientific Inc.保留所有权利。除非另有说明，否则所有商标都是Thermo Fisher Scientific及其子公司的财产。AN41505 02/24
金属材料中错位密度的实验测量：测量技术之间的定量比较（XRD，R-ECCI，HR-EBSD，TEM）
脱位密度。那些不同的方法不观察到相同类型的位错，即统计存储的位错（SSD）和/或几何必需的脱位（GND）。有些是直接测量技术，例如ECCI和TEM成像，而其他是非方向方法，即HR-EBSD和XRD测量。因此，提出了使用这四种技术在未变形和变形的双链钢上获得的测量值的定量比较。对于低变形，位错密度很小（成像方法相当性能，而XRD 1- 5×10 13 m - 2），测量值的不确定性水平高。HR-EBSD测量结果表明，结果与这些变形水平的其他方法非常吻合。对于较高的变形水平（上面的脱位密度），成像方法不再相关，因此1 - 3×10 14 m - 2