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拓展 3D X 射线成像的界限 蔡司 Xradia 515 Versa
图 10 ZEISS Xradia Versa XRM 系列摘要。ZEISS Xradia Versa 平台提供 RaaD 功能、优化的对比度和出色的图像质量，适用于最广泛的样品类型。ZEISS Xradia 515 Versa 为该平台添加了最新的分辨率功能以及现代易用性和灵活性。ZEISS Xradia 6XX Versa 进一步增加了更高的吞吐量、增强的用户体验、更高的可靠性和更低的拥有成本，成为性能最高的下一代 3D X 射线显微镜。
ZEISS PhaseEvolve
使用 ZEISS Versa XRM 上的相位对比模式对吸入混合物中的乳糖载体颗粒进行成像。显示了原始（左）和 PhaseEvolve 处理（右）断层扫描数据的扫描体积重建的 2D 切片以及相应的直方图。处理后的数据提供无伪影的高对比度数据，其直方图易于分割。
用结构化照明创建可靠的光学部分
新颖的X射线成像可能很复杂。为了设置扫描，用户需要为视野，投影数量等定义参数。通常，新手和专家用户都必须在研究实验室或成像设施中的3D X射线显微镜（XRM）上申请仪器时间，这使得需要有效地工作，以尽可能快地获得最佳的结果。
电池深水 帮助您设计未来合金
增加的值•Zeiss通过遥控器的自动惰性班车转移使样本准备更加容易，更有效。•Zeiss的横截面知识有助于可视化电池和电极的大区域横截面。•能量选择性反向散射（ESB）检测器可以识别电池和电极中的不同类型的电池材料，例如分离器上的陶瓷涂层，石墨和阳极上的硅，以及粘合剂分布和二级粒子的晶体结构。•作为一种无损的3D成像解决方案，Zeiss在Zeiss Xradia X射线显微镜（XRM）中的距离（RAAD）技术的分辨率使内部细胞结构及其层的细节可视化高分辨率。
用于陶瓷化学和结构表征的分析 X 射线技术
材料测试对于在生产周期的各个阶段鉴定陶瓷至关重要——从原材料验证到成品成型部件的特性分析。在本文中，我们重点介绍了几种用于陶瓷化学和结构分析的关键仪器方法：体相和微尺度应用中的 X 射线荧光（分别为 XRF 和 µXRF）、粉末 X 射线衍射 (XRD) 和 X 射线显微镜 (XRM)。XRF 测量提供有关化学和元素组成的信息，可用于定性和定量实验。体相 XRF 方法用于测试原始原料，以验证试剂纯度以及中间产品和最终产品中所需的比例。µXRF 在受限的物理区域内提供类似的信息，允许对零件和表面进行元素映射。XRD 可以识别
通过 FTIR 显微镜研究干燥脑样本 - IUCr 期刊
为了将空间分辨率极限推向纳米级，基于同步加速器的软 X 射线显微镜 (XRM) 实验需要向材料施加更高的辐射剂量。然而，相关的辐射损伤会影响精细生物样品的完整性。本文报道了软 X 射线辐射损伤在安装在 Si 3 N 4 膜上的常见薄冻干脑组织样本中的程度，如傅里叶变换红外显微镜 (FTIR) 所示。研究发现，冻干组织样本受到振动结构普遍退化的影响，尽管这些影响比文献中报道的石蜡包埋和水合系统中观察到的影响要弱。此外，在常规软 X 射线曝光中，首次可以识别出组织-Si 3 N 4 相互作用的弱、可逆和特定特征，进一步突出了生物样本、其制备方案和 X 射线探针之间的复杂相互作用。