他于 1997 年在英国利兹大学获得材料科学与工程博士学位,并于 1983 年和 1986 年分别在华南理工大学获得工学学士和工学硕士学位。他的研究兴趣主要集中在智能材料和复合材料结构及其在航空航天中的应用。他的研究经历还包括在中国粉末冶金国家重点实验室工作六年(1986 年至 1992 年)和在英国曼彻斯特材料科学中心工作一年半。他曾获得多项重要奖项,包括 2011 年加拿大航天局发明奖(2011 年)、加拿大航天局原创研究主任奖(2006 年)、英国留学生奖(英国,1996 年)、Tetley-Lupton 奖学金(英国,1994-1996 年)。
徕卡测量系统,GIS 和测绘部门 2801 Buford Highway,亚特兰大,佐治亚州,美国 younian.wang@gis.leica-geosystems.com IC WG II/IV 关键词:数字、摄影测量、测绘、软件、软拷贝、自动化、算法、GIS。 摘要 经过大约 20 年的数字摄影测量系统研究和开发,商业软件系统变得越来越强大,能够解决大多数摄影测量测绘问题。另一方面,用户对数字摄影测量系统更高自动化和更大灵活性的需求不断增加,特别是随着各种新型高分辨率机载和星载相机的使用。为了满足市场需求和挑战,一种新的数字摄影测量系统应运而生。它被称为徕卡摄影测量套件。本文介绍了徕卡摄影测量套件的主要特点和功能。介绍了提高自动化和生产率的各种技术。阐述了易用性和高灵活性的设计理念和实施策略。介绍了传感器建模、DTM 提取和编辑以及制图要素收集的强大功能。演示了自动内部定位、自动点测量、自动 DTM 提取和自动图像镶嵌的算法。多个示例和独立测试结果表明,Leica 摄影测量套件是一款功能强大且可靠的数字摄影测量系统,适用于高级摄影测量师和 GIS 专业人员。1 简介
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