图 8 – 样品的扫描电子显微镜图像:a) HSLA 成品;b) 含 0.66 wt.% SiC 的 HSLA;c) 和 d) 无 SiC 和 SiC 的能谱和化学成分
开发乙烯基共价有机框架V-COF-1与肿胀相互作用作为微型分散固相萃取吸附剂,用于通过气相色谱质谱法chih-ling yeh,fu jen天主教大学
3 设计可编程玻色子量子模拟器 22 3.1 玻色子概述. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ... . ... 48 3.3.2.3 最佳控制脉冲 . ...
2. 理论背景 3 2.1. 电路量子电动力学 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 2.1.4. 色散区域 . ...机电耦合………………………………………………………………………………………………………………10 2.2.3. 归一化应变场……………………………………………………………………………………………………………………12
摘要 — 我们通过实验证明了使用通常由具有色散反馈的激光器驱动的同步混沌激光器实时生成高速相关随机比特。来自啁啾光纤布拉格光栅的色散反馈会引起频率相关的反馈延迟,从而不再引起时间延迟特征,从而确保混沌激光器的信号随机性和安全性。在没有时间延迟特征的混沌信号的驱动下,两个响应激光器被路由到混沌状态并建立同步,相关性大于 0.97,同时它们与驱动信号保持较低的相关水平。通过使用一位差分比较器对同步激光混沌进行量化,通过实验获得了具有已验证随机性的实时 2.5 Gb/s 相关随机比特,比特误码率为 0.07。结合鲁棒采样方法,BER 可以进一步降低到 1×10 −4,对应的有效生成速率为 1.7 Gb/s。比特错误分析表明,由于响应相对于驱动的同步优势,在很宽的参数区域内,响应之间的比特错误率低于驱动与响应之间的比特错误率。
这项研究研究了通过定向能量沉积(DED)处理的基于Co-Ni-al-W-TA-TI-CRγ/γ'基于钴的凝固路径中出现的隔离和降水。观察结果揭示了添加剂制造过程中液体中划分的特征元素。由于这种微层次,发生复杂的多相沉淀,并且在由DED制造的基于钴的超合金中鉴定并表征了各种沉淀物。扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)用于研究在实用的显微组织中检测到的各个阶段的空间分布和性质。能量色散X射线光谱法(EDS),波长色散X射线光谱法(WDS)和电子能量损耗光谱(EEL)与衍射模式的精细分析相结合,以识别装饰互构成区域的不同阶段。这些特征允许鉴定不同的亚微音沉淀:Al 2 O 3,(Ta,ti)(n,c),HFO 2,Cr 3 B 2和(Ti,Ti,Zr,Hf)2 Sc。根据实验结果讨论凝固序列。这项工作提供了对固化隔离和在DED处理的基于钴的超合金中的第二相降水之间相互作用的首次了解。关键字γ/γ'Superaly合金;增材制造;第二相降水; tem
●具有低温和元素分析能力的透射电子显微镜(TEM):配备了Gatan Crotansfer持有者和牛津仪器能量色散X射线光谱仪(EDS)的JEOL JEEL JEM-2100(EDS)。●具有低温和元素分析能力的扫描电子显微镜(SEM):Zeiss Sigma-VP现场发射SEM配备了可变压力,次级电子,透镜和反向散射检测器,Gatan Alto Alto低温制备和加载模块,以及Oxford Encellorments Energy Instruments Energy Encellocts Energy Enstruments Energy Enstruments Energy Enstruments X-Ray Epperersive x-Ray Eppesermate(Eds)。●X射线衍射(XRD):Rigaku X射线衍射仪Ultima IV。●共聚焦拉曼显微镜(CRM):WITEC Alpha 300 R配备有电动XYZ阶段用于大面积摄入,两个激发激光波长(785和532 nm)和10倍至100倍的目标。●高意见筛选系统(HCS):Perkin Elmer Opera Phanix高通量共聚焦荧光显微镜。●傅立叶变换红外光谱仪和显微镜(FTIR):Shimadzu Irtracer-100 FTIR光谱仪,配备了固体和液体的衰减总反射(ATR),适用于传输和反射测量,并与Aimadzu AIM-9000 Microftir系统相结合。●X射线荧光(XRF):Shimadzu EDX-8100 XRF系统,用于粉末,散装和液体样品的元素分析。大气,真空和氦测量值低检测极限。