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高中学生与NASA联合创建硬件
h igh学校的学生与N asa一起融合了A ardware或Hunch是一项基于创新的项目的学习计划，该计划将NASA中心与高中（*或小学，中学，中学和视频和媒体项目）合作。合作伙伴关系涉及学生在运用科学，技术，工程和数学技能的同时为NASA和国际空间站（ISS）制造真实世界产品，并学会在团队中工作并创造性地思考。
推荐引用 推荐引用 Wennagel, Robert, DARK SYSTEMS: 重新编程人工智能法规以促进公平和就业不歧视, 39 SANTA C LARA H IGH T ECH . LJ 1 (). 网址：https://digitalcommons.law.scu.edu/chtlj/vol39/iss1/1
自动决策系统（“ADM”），无论是采用人工智能、机器学习还是其他算法过程，在现代生活中都已无处不在，但它们的使用通常不为社会所注意或看不见。目前，没有联邦法律要求在使用 ADM 收集个人数据、评估个人数据或对其生活做出决定时向个人发出通知或披露信息。这对于雇佣关系来说尤其令人担忧，因为通知和透明度对于个人隐私至关重要，而秘密使用 ADM 系统会使申请人和雇员无法了解雇主的决策过程并根据适用的反歧视法寻求补救。一些州和地方政府已经认识到这种危险，并已采取初步措施保护申请人和雇员，而欧盟已提出一项全面的人工智能法规，将管理此类系统在那里开发的所有阶段。本文提出了一种基于通知和透明度的监管体系，该体系考虑到管理雇佣关系的现有法律并对这些法律进行补充，以建立一个促进申请人和雇员权利的法律框架，同时也允许灵活地开发有利于雇员、雇主和社会的 ADM 系统。
推荐引用 推荐引用 Schnader, Jonathan,《人工智能在社交媒体上软硬反恐努力中的应用》，36 SANTA C LARA H IGH T ECH. LJ 43 ()。网址：https://digitalcommons.law.scu.edu/chtlj/vol36/iss1/2
美国政府擅长采取军事行动、非动能信息行动和刑事起诉等硬性反恐措施。然而，在反恐方面，《第一修正案》阻碍了美国政府防止和遏制伊斯兰国等恐怖组织的招募工作，这些组织拥有专业级的社交媒体营销部门。但是，反恐工作并不一定只在政府内部进行。社交媒体平台可以用于较软的反恐方法，它们必须加紧努力，打击其平台上的恐怖分子招募。事实上，一些社交媒体平台在停用恐怖分子账户方面取得了巨大进步，但它们必须继续发展以打击和减少激进化。本文提出，人工智能可以帮助政府和私营部门打击恐怖分子和恐怖分子招募。最后，本文建议政府使用人工智能来进一步加强其硬反恐工作，社交媒体平台应该使用人工智能来增强其软反恐方法。
订单 – 分子病理学/免疫组织化学
NGS小组，FFPE融合分析（RNA），FFPE☐结肠（BRAF/KRAS/NRAS/PIK3CA）☐肺（ALK，ROS1和RET）☐CLL突变分析☐肺（BRAF/kras/kras/nras/nras/pik3ca/fuson and eff in nraver/exnaly nrative） IST（BRAF/KIT/PDGFRA- POSIGNA/PAM50☐igh☐黑色素瘤（BRAF/KIT/NRAS/HRAS）（子类别和风险得分）☐TCR☐MTC（BRAF/KRAS/HRAS/HRAS/RET） BRCA2/PIK3CA）☐LOH1P19Q （包括 IDH1/2- ☐ B-ALL ☐ 乳腺（PIK3CA）突变分析），诊断时的 FFPE 母细胞比例：NGS 面板，cfDNA/血浆 ☐ TERT 启动子突变分析 ☐ MRD 随访，☐ 肺（EGFR/KRAS/NRAS/BRAF）（c.1-124C>T / c.1-146C>T）天：
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL（高温工作寿命）测试 6 85/85（温度-湿度-偏差）测试（THB）7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估（在 150°C Tj 下）8 表 4。高温工作寿命测试 – CP1 工艺在 150°C Tj 下 10 表 5。高温工作寿命测试 – CB2 工艺在 150°C Tj 10 表 6。高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7。高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8。高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9。高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10。高温工作寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11。高温工作寿命测试 – MB1 工艺在 150°C Tj 15 表 12。85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13。高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14。温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15。高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
MAXIM 高速双极和 BiCMOS 工艺可靠性...
婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25
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婴儿死亡率评估 (IME) 6 HTOL (高温工作寿命) 测试 6 85/85 (温度-湿度-偏差) 测试 (THB) 7 压力罐测试 7 温度循环测试 7 高温存储测试 7 可靠性数据 8 表 3 Maxim 高频双极工艺的婴儿死亡率评估 (150°C Tj) 8 表 4. 高温工作寿命测试 – CP1 工艺，150°C Tj 10 表 5. 高温工作寿命测试 – CB2 工艺，150°C Tj 10 表6. 高温运行寿命测试 – CB3 工艺在 150°C Tj 11 表 7. 高温运行寿命测试 – GST1 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj 11 表 8. 高温运行寿命测试 – GST2 工艺在 150°C Tj（续）12 表 9. 高温运行寿命测试 – GST3 工艺在 150°C Tj 13 表 10. 高温运行寿命测试 – GST4 工艺在 150°C Tj 14 表 11. 高温运行寿命测试 – MB1 工艺在150 ° C Tj 15 表 12. 85/85 测试（高频双极和 BiCMOS 工艺） 16 表 13. 高压锅测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 18 表 14. 温度循环测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 21 表 15. 高温存储测试 适用于高频双极和 BiCMOS 工艺 25