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异质集成光子集成电路的微转移打印
免责声明 - 本信息按“原样”提供，不作任何陈述或保证。Imec 是 imec International（IMEC International，根据比利时法律成立的法人实体，名称为“stichting van openbaar nut”）、imec Belgium（由弗兰德政府支持的 IMEC vzw）、imec the Dutch（Stichting IMEC Nederland）、imec China（IMEC Microelectronics (Shanghai) Co. Ltd.）、imec India（IMEC India Private Limited）、imec San Francisco（IMEC Inc.）和 imec Florida（IMEC USA Nanoelectronics Design Center Inc.）活动的注册商标。
用于 200V 和 650V 电源系统单片集成的 GaN-IC
免责声明 - 本信息按“原样”提供，不作任何陈述或保证。Imec 是 IMEC International（根据比利时法律成立的法人实体，名称为“stichting van openbaar nut”）、imec Belgium（由弗兰德政府支持的 IMEC vzw）、imec the Dutch（Stichting IMEC Nederland，由荷兰政府支持的 Holst Centre 的一部分）、imec Taiwan（IMEC Taiwan Co.）、imec China（IMEC Microelectronics (Shanghai) Co. Ltd.）、imec India（Imec India Private Limited）、imec Florida（IMEC USA 纳米电子设计中心）活动的注册商标。
快照 RGB+NIR 多光谱成像相机
免责声明 - 本信息按“原样”提供，不作任何陈述或保证。Imec 是 IMEC International（根据比利时法律成立的法人实体，名称为“stichting van openbaar nut”）、imec Belgium（由弗兰德政府支持的 IMEC vzw）、imec the Dutch（Stichting IMEC Nederland，由荷兰政府支持的 Holst Centre 的一部分）、imec Taiwan（IMEC Taiwan Co.）、imec China（IMEC Microelectronics (Shanghai) Co. Ltd.）、imec India（Imec India Private Limited）、imec Florida（IMEC USA 纳米电子设计中心）活动的注册商标。
用于太空的紧凑型片上光谱成像
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快照平铺高光谱图像传感器
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神经像素 1.0
法律免责声明 本文档的内容由 imec 按“原样”提供。Imec 对本出版物内容的准确性或完整性不作任何陈述或保证，并保留随时更改规格的权利，恕不另行通知。所有商标均为其各自所有者的财产。Neuropixels 1.0 探针仅根据“IMEC 销售 NEUROPIXELS 1.0 探针的一般条款和条件”分发给神经科学研究社区。 Imec 是 IMEC International（根据比利时法律以“stichting van openbaar nut”形式设立的法人实体）、imec Belgium（由弗兰德政府支持的 IMEC vzw）、imec the Dutch（Stichting IMEC Nederland，是 Holst Centre 的一部分，由荷兰政府支持）、imec Taiwan（IMEC Taiwan Co.）、imec China（IMEC Microelectronics (Shanghai) Co. Ltd.）、imec India（Imec India Private Limited）和 imec Florida（IMEC USA 纳米电子设计中心）活动的注册商标。
医疗保健和健康智能系统 - Catrene
工作组成员 W. De Raedt (imec) - 协调员 L. Dussopt (CEA-Leti) M. Funk (TUEindhoven) P. Galvin (Tyndall) A. Ionescu (EPFL) M. John (Fraunhofer FOKUS，柏林) E. Jung (FhG IZM) M. Op de Beeck (imec-CMST) S. Pollin (KULeuven) R. Vullers (Holst Centre/imec) - 协调员 F. Yazicioglu (imec) 其他贡献者： A. Corfa (CEA-Leti) M. Belleville (CEA Leti) A. Bertrand (KULeuven) V. Berg (CEA-Leti) Leti) E. Beine (图片) S. Bonnet (CEA Leti) S. Bories (CEA-Leti) F. Bossuyt (imec-CMST) F. Bottausci (Leti-CEA) R. Brederlow (德州仪器) M. Cauwe (imec-CMST) W. Chen (TU Eindhoven) C. Delaveaud (CEA-Leti) B. Denis ( CEA-Leti) R. D'Errico (CEA-Leti) G. Dolmans（霍尔斯特中心/Imec） M. Fleischer（西门子）L. Feijs（埃因霍温工业大学）O. Fuchs（CEA-Leti）J. Hierold（苏黎世联邦理工学院）J. Kallmeyer（FhG-IZM）
通过蓝牙实现安全高精度测距
由于室内环境中存在许多反射，基于 RSSI 的测距本质上是不准确的。通过结合基于相位的距离估计协议和先进的信号处理，imec 测距技术可以准确地将视线分量与多径分离。结果是一个具有亚米级精度的强大测距系统。与测向（也称为 AoA，到达角）不同，imec 距离测量仅使用两侧的单个天线进行。通过将多个天线与跟踪相结合，距离测量的精度甚至可以远远优于 10 厘米。它还可以与 AoA 技术相结合，为此，imec 的多径消除技术也提供了卓越的性能。
SNAPSCAN SWIR 范围高光谱成像相机。...
Imec 的 snapscan 系统是高光谱成像应用研究的重大突破。只需几百毫秒，即可创建具有无可比拟的信噪比和空间与光谱分辨率的高质量超立方体数据集。snapscan 演示套件可实现最高质量的应用研究，同时仍保持用户友好性。它集成了所需的所有关键组件：光谱图像传感器、相机、光学元件、压电扫描、主动冷却系统、照明、三脚架支架和 imec 最先进的高光谱成像软件：snapscan 软件，这是 imec 团队开发的一款先进的高光谱成像软件。