需要使用多种分析方法对单克隆抗体等生物制药进行严格表征。必须表征和良好控制各种材料特性,以确保保持临床相关特性和关键质量属性。需要彻底了解分析方法性能指标,特别是旨在解决测量差距的新兴方法,以确保方法适合其预期用途,以确保药物安全性、稳定性和功能活性。为此,已经使用 NISTmAb(一种具有生物制药代表性和公开可用的单克隆抗体测试材料)进行了一系列实验室间研究,以报告最先进的方法性能,协调最佳实践,并告知分析测量基础设施中的潜在差距。本文报告了这些实验室间研究的设计、结果和未来前景的摘要,这些研究侧重于生物制药开发过程中目前采用的一级结构、翻译后修饰和高阶结构测量。
将氢(H 2)存储为能量载体,需要开发用于提高传统储存溶液的效率和安全性,例如压缩气体(350-700 bar)和低温液体(20-30 K)。[1]固态氢存储是开发的一种替代方法,可以通过金属 - 水流中的化学键或通过物理吸附(物理吸附)到达多孔材料表面的物理吸附(物理吸附),以达到涉及较低储存压力的技术储存密度。[2]在固态方法中,物理吸附显示了更快的动力学,用于充电和放电和完全可逆性。[3,4]使用吸附剂进行氢存储需要低温温度(冷冻吸附),通常在液氮的沸点周围,即77 K,以实现与高压或液态氢罐可比的实用重量和大量能力。[5–11]
将氢(H 2)存储为能量载体,需要开发用于提高传统储存溶液的效率和安全性,例如压缩气体(350-700 bar)和低温液体(20-30 K)。[1]固态氢存储是开发的一种替代方法,可以通过金属 - 水流中的化学键或通过物理吸附(物理吸附)到达多孔材料表面的物理吸附(物理吸附),以达到涉及较低储存压力的技术储存密度。[2]在固态方法中,物理吸附显示了更快的动力学,用于充电和放电和完全可逆性。[3,4]使用吸附剂进行氢存储需要低温温度(冷冻吸附),通常在液氮的沸点周围,即77 K,以实现与高压或液态氢罐可比的实用重量和大量能力。[5–11]
TobiasVölker,Gerd Wilsch,Igor B. Gornushkin,Lucie Kratochvilova,Pavel Porizka等。在具有激光器诱导的分解光谱的水泥糊状物中定量氯分析中的定量氯分析比较。Spectrochimica Acta B部分:原子光谱,2023,202,pp.106632。10.1016/j.sab.2023.106632。CEA-04466642
摘要:分散在液体和固体矩阵和发光粉末中的散射发光材料与基本研究和行业越来越相关。示例是各种矩阵中不同组合物的发光纳米和微粒以及磷酸盐,或在能量转换,固态照明,医学诊断和安全条形码的陶瓷中纳入陶瓷。表征这些材料性能的关键参数是光发光/荧光量子产率(φF),即每个吸收光子的发射光子的数量。为了识别和量化散射样品绝对测量的不确定性来源,通过以下相同的测量方案进行了实验室和行业的三个实验室的实验室间比较(ILC)。因此,使用两种类型的商业独立的集成球体设置,具有不同的照明和检测几何形状,用于测量透明和散射染料溶液和固体磷光剂的φf,即YAG:CE Optoceramics,用于不同的表面粗糙度,用作蓝光的转换材料,用作蓝光的转换材料。特别重点是测量几何形状的影响,用于确定样品吸收的入射激发光的光子数量以及样品特异性表面粗糙度的光子数量。虽然液体样品的φf值匹配仪器之间,但具有不同空白的光学辅酶的测量结果显示出实质性差异。■简介ILC结果强调了测量几何形状,样品位置和空白的重要性,以用于散射YAG的可靠数据:CE OptoCeramics,空白的光学特性占不确定性超过20%的不确定性。
Benjamen P. Reed* 1 , David J. H. Cant 1 , Steve J. Spencer 1 , Abraham Jorge Carmona-Carmona 2 , Adam Bushell 3 , Alberto Herrera-Gómez 2 , Akira Kurokawa 4 , Andreas Thissen 5 , Andrew G. Thomas 6 , Andrew J. Britton 7 , Andrzej Bernasik 8 , Anne Fuchs 9 , Arthur P. Baddorf 10 , Bernd Bock 11 , Bill Theilacker 12 , Bin Cheng 13 , David G. Castner 14 , David J. Morgan 15 , David Valley 16 , Elizabeth A. Willneff 17 , Emily F. Smith 18 , Emmanuel Nolot 19 , Fangyan Xie 20 , Gilad Zorn 21 , Graham C. Smith 22 , Hideyuki Yasufuku 23 , Jeffery Fenton 24 , Jian Chen 20 , Jonathan D. P. Counsell 25 , Jörg Radnik 26 , Karen J. Gaskell 27 , Kateryna Artyushkova 16 , Li Yang 28 , Lulu Zhang 4 , Makiho Eguchi 29 , Marc Walker 30 , Mariusz Hajdyła 8 , Mateusz M. Marzec 8 , Matthew R. Linford 31 , Naoyoshi Kubota 29 , Orlando Cortazar- Martínez2,Paul Dietrich 5,Riki Satoh 29,Sven L. M. Schroeder 7,Tahereh G. Avval 31,Takaharu Nagatomi 32,Vincent Fernandez 33,Wayne Lake 34,Wayne Lake 34,Yasushi Azuma 4,Yasushi Azuma 4,Yusuke Yusuke Yoshikawa 355,36,and Alexander G./alexander G.
Benjamen P. Reed* 1 , David J. H. Cant 1 , Steve J. Spencer 1 , Abraham Jorge Carmona-Carmona 2 , Adam Bushell 3 , Alberto Herrera-Gómez 2 , Akira Kurokawa 4 , Andreas Thissen 5 , Andrew G. Thomas 6 , Andrew J. Britton 7 , Andrzej Bernasik 8 , Anne Fuchs 9 , Arthur P. Baddorf 10 , Bernd Bock 11 , Bill Theilacker 12 , Bin Cheng 13 , David G. Castner 14 , David J. Morgan 15 , David Valley 16 , Elizabeth A. Willneff 17 , Emily F. Smith 18 , Emmanuel Nolot 19 , Fangyan Xie 20 , Gilad Zorn 21 , Graham C. Smith 22 , Hideyuki Yasufuku 23 , Jeffery Fenton 24 , Jian Chen 20 , Jonathan D. P. Counsell 25 , Jörg Radnik 26 , Karen J. Gaskell 27 , Kateryna Artyushkova 16 , Li Yang 28 , Lulu Zhang 4 , Makiho Eguchi 29 , Marc Walker 30 , Mariusz Hajdyła 8 , Mateusz M. Marzec 8 , Matthew R. Linford 31 , Naoyoshi Kubota 29 , Orlando Cortazar- Martínez2,Paul Dietrich 5,Riki Satoh 29,Sven L. M. Schroeder 7,Tahereh G. Avval 31,Takaharu Nagatomi 32,Vincent Fernandez 33,Wayne Lake 34,Wayne Lake 34,Yasushi Azuma 4,Yasushi Azuma 4,Yusuke Yusuke Yoshikawa 355,36,and Alexander G./alexander G.
1 1技术创新中心国家市场法规,国家计量学研究所(NIM),北京,100029,中华民国2中,中国吉利安格大学,杭州大学,辛吉安,辛吉安吉安,310018材料科学,国家计量与测试国家实验室(LNE),29 Avenue Roger Hennequin,F-78197,F-78197,法国5号,5个国家测量研究所(NMIA),布拉德菲尔德路36号,新南威尔士州Lindfield,新南威尔士州2070年,澳大利亚2070年,澳大利亚6号研究中心,国民研究委员会(NRC),加拿大研究委员会(NRC)。 0R6, Canada 7 Bruno Kessler Foundation, Sensors and Devices Center, Micro Nano Facility Unit ( MNF ) , Trento I-38123, Italy 8 National Institute of Metrology ( Thailand ) ( NIMT ) , 3 / 4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand 9 Danmarks Nationale Metrologiinstitut ( DFM ) , Kogle Allé 5 D-2970 Hørsholm Danmark 10 National Institute of Metrology, Quality and Technology ( INMETRO ) , Duque de Caxias RJ, Brazil 11 Center for Measurement Standards, Industrial Technology Research Institute ( CMS / ITRI ) , Hsinchu 30011, Chinese TaiPei, People ' s Republic of China 12 Swinburne University of Technology, John Street, Hawthorn, VIC 3122 Australia1技术创新中心国家市场法规,国家计量学研究所(NIM),北京,100029,中华民国2中,中国吉利安格大学,杭州大学,辛吉安,辛吉安吉安,310018材料科学,国家计量与测试国家实验室(LNE),29 Avenue Roger Hennequin,F-78197,F-78197,法国5号,5个国家测量研究所(NMIA),布拉德菲尔德路36号,新南威尔士州Lindfield,新南威尔士州2070年,澳大利亚2070年,澳大利亚6号研究中心,国民研究委员会(NRC),加拿大研究委员会(NRC)。 0R6, Canada 7 Bruno Kessler Foundation, Sensors and Devices Center, Micro Nano Facility Unit ( MNF ) , Trento I-38123, Italy 8 National Institute of Metrology ( Thailand ) ( NIMT ) , 3 / 4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand 9 Danmarks Nationale Metrologiinstitut ( DFM ) , Kogle Allé 5 D-2970 Hørsholm Danmark 10 National Institute of Metrology, Quality and Technology ( INMETRO ) , Duque de Caxias RJ, Brazil 11 Center for Measurement Standards, Industrial Technology Research Institute ( CMS / ITRI ) , Hsinchu 30011, Chinese TaiPei, People ' s Republic of China 12 Swinburne University of Technology, John Street, Hawthorn, VIC 3122 Australia
本旗舰ASTM期刊是应用科学和工程的多学科论坛。测试和评估杂志介绍了新的技术信息,这些信息来自现场和实验室测试,有关材料的性能,定量表征和评估。论文提供了新的方法和数据以及关键评估;报告用户具有测试方法的经验以及实验室间测试和分析的结果;并在测试和评估领域刺激新想法。