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使用酶的化学合成的最新进展
生物催化剂赋予高区域和对映选择性酶特性，可以通过工程化蛋白质序列来调整工业应用。默克研究人员最近的工作解决了与-Ketoglutarate依赖性二氧酶（A -kGD）在制造量表上有关的挑战，包括较低的总周转次数（TTN），有氧反应条件，低稳定性，酶降低，酶灭活酶会因自我 - 羟基化和过度氧化的非氧化剂而灭绝。一个工程的-kGD用直接酶促羟基化取代了五个合成步骤，从而从1中使用1的1中产生手性中间体2，以高的映选择性和制备性产量（图2 a）[ *5]。与血红素依赖性的氧酶相比，A-kgd仅需要与-Ketogoglutarate组合铁，并且不需要复杂的共同因素或还原酶域的共表达。酶的高选择性还使它们能够针对特定的
OFC 2024 Moore Law＆Photonics
•晶圆规模的集成激光/SOA•性能 - 最小耦合损失•可靠性 - 可靠性 - <0.1拟合激光器•生产性 - 晶圆尺度到kgd•成本•成本 - 没有昂贵的激光后端•可伸缩性•可伸缩性•高通道计数 - 高频道计数，分配，柔韧性 - 灵活性 - 多级功能
18/PTEN 秀丽隐杆线虫突变体
摘要 兴奋和抑制 (E/I) 之间的精细平衡对于大脑正常功能至关重要。GABA 能系统的紊乱会改变这种平衡，是各种神经系统疾病的共同特征，包括自闭症谱系障碍 (ASD)。磷酸酶和张力蛋白同源物 (PTEN) 的突变与 ASD 密切相关，PTEN 是磷脂酰肌醇 3-磷酸激酶/Akt 通路的主要负调节剂。然而，尚不清楚 PTEN 缺陷是否会对抑制和兴奋信号产生不同的影响。利用秀丽隐杆线虫的神经肌肉系统，其中兴奋性 (胆碱能) 和抑制性 (GABA 能) 输入都调节肌肉活动，我们发现 daf- 18 / PTEN 突变会影响 GABA 能（但不影响胆碱能）神经发育和功能。这种选择性影响导致抑制信号传导不足。在 daf- 18/PTEN 突变体中观察到的 GABAergic 系统中的缺陷是由于发育过程中 DAF- 16/FOXO 活性降低所致。生酮饮食 (KGD) 已被证明对与 E/I 失衡相关的疾病有效。然而，其作用机制在很大程度上仍然难以捉摸。我们发现，在早期发育过程中富含酮体 β -羟基丁酸的饮食会诱导 DAF- 16/FOXO 活性，从而改善 daf- 18/PTEN 突变体的 GABAergic 神经发育和功能。我们的研究为 PTEN 突变与神经发育缺陷之间的联系提供了宝贵的见解，并深入探讨了 KGD 潜在治疗效果的潜在机制。
微电路标准的最新进展
• 注 1：太空标准 PEM (QMLP) 计划以 SAE AS6294 为基准。由 NASA 零件公告中的 PEM 支持。• 注 2：对于替代等级微电路，请遵循 13.2 TG 中的活动以避免重复工作。• 注 3：ATM = 先进技术微电路。由 NASA 零件公告中的 KGD 支持。• 注 4：VID = 供应商项目图纸。联系 DLA 获取最新信息。• 注 5：必须明确定义不同类别/等级之间的界限 — 这是未来的一项外展活动。
1 使用自动化测试多个高速通道...
使用自动测试设备 (ATE)、SOC 93K 并行测试多个高速通道 Ratan Bhimrao Umralkar、Li Kangrong。新加坡 A*STAR 微电子研究所 2 Fusionopolis Way, #11 Innovis Tower，新加坡 138634 ratan_bhimrao_umralkar@ime.a-star.edu.sg，li_kangrong@ime.a-star.edu.sg，摘要高带宽存储器 (HBM) 需要在安装在中介层上的 IO 芯片和 IO 到存储器堆栈之间进行高速数据传输。来自不同供应商的 KGD HBM 堆栈和 IO 芯片安装在高数据速率/带宽中介层上。在多芯片设备封装过程中，将测试从最终测试转移到晶圆级需要高昂的设备成本[4]，例如探测器、探测卡，但废品成本较低。就目前的封装技术（如 2.5D/3D 和 Chiplets）而言，较低的废料成本意味着更高的产量。一旦将 KGD 安装在中介层（和基板）上，如果中介层经测试有故障，则无法将其移除，从而浪费整个封装 [4]。本文讨论了在安装 KGD HBM、IO 芯片和其他芯片之前测试中介层上高速数据速率互连的测试方法（见下图 1）。高端 DSO（数字存储示波器）可以相对轻松地测试 1 到 4 个通道。但是，当通道数为 8、16 位总线等组时，使用 ATE 会变得更有优势。其中一个主要优势是，ATE 可以同时测试多个通道，因此使用 ATE 测试多个通道变得更加可行。不同通道的结果可以叠加在单个图上。最终的叠加图提供了有关哪个通道输出影响高速总线整体性能的重要信息。眼图 [2] 是一种重要的信号完整性测试，可用于了解数字系统中通信信道的质量，眼图提供有关传输线质量和信道带宽的信息。本文讨论了如何有效地使用 ATE 来构建眼图，使用 ATE 的 shmoo 图功能，恰当地称为眼图 shmoo 图。此外，由于 ATE 可以同时测试多个通道，因此可以加快大规模测试速度，例如测试整个晶圆。此处开发的测试方法是细间距高速通道项目的一部分，其中使用 24 个高速通道构建晶圆测试，以模拟具有 55um 凸块间距的 HBM（高带宽存储器）应用，以展示使用 ATE 的细间距 [3] 探测和功能。对于同时测试的 24 个通道，结果显示 2 条迹线的眼宽和眼高小于其余迹线，但本文的重点不是这些结果，而是如何在 ATE 级别测试中实现眼图。当前设置使用 Advantest 93K 测试仪和 12 英寸 Tel 探测器。ATE 包含 3 个 PS1600 卡，最大数据速率为 1.6Gbps。对于高达 9G 的更高数据速率，可以使用 PS9G 卡。使用 PS1600 卡，我们能够测试高达 1Gbps 的速度，并为所有 24 条迹线绘制眼图。构建了一个细间距、55um 的探针卡，具有 24 个 HBW 通道，用于测试 HBM 晶圆并验证测试方法。下图 1 显示了使用 shmoo 图为其中一个通道 P9 绘制的眼图。基本参数如
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