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可靠性驱动的PIN分配优化以改进...
摘要 - 电子产品越来越容易受到硅内能量颗粒相互作用的影响。为了在辐射效应下提高电路可靠性，在VLSI系统的设计流中采用了几种硬化技术。本文提出了逻辑门中的PIN分配优化，以减少单个事件瞬态（SET）横截面并提高轨内软率。信号概率传播用于通过重新交换或引脚交换将最低概率分配给电路最敏感的输入组合。细胞优化的软率最高可降低48％。对于分析的算术基准电路，优化的细胞网列在设置的横截面和轨内软校正速率上可以在电路设计区域内无需成本降低8％至28％。另外，由于引脚交换是一种布局友好的技术，因此优化不会影响细胞放置，并且可以与逻辑和物理合成中的其他硬化技术一起采用。
使用容错在线调度
在外太空中有超过21000个对象，并暴露于苛刻的空间环境中。空间对象的大小有很大变化。我们的研究集中于小型卫星，例如立方体，这些卫星必须尊重时间，空间和能量限制。为了解决此问题，本文介绍并评估了两个容忍在线调度算法算法：算法将所有任务安排为Aperiodic（称为OneOff），而将到达任务放置为Aperiodic或Quartiac ofic odic或周期性任务（称为Oneoff＆Cyclic）。基于几种情况，结果表明，订购策略的性能受到系统负载的影响以及与要执行的所有任务的简单和双重任务的比例。“最早的截止日期”和“最早到达时间”为Oneoff的订购政策，或“最小懈怠”订购策略，用于单一和周期性，拒绝所有测试的场景中最小任务。本文还介绍了评估订购策略实时性能的计划时间的分析，并表明Oneoff比OneOff＆Cyclic所需的时间更少。最后，发现所研究的算法在恶劣的环境中的性能也很好，并提供与基于三重模块化冗余的系统相同的可靠性水平，系统功耗较少。
多点贝叶斯主动学习可靠性分析
本手稿提出了一种新型的贝叶斯主动学习可靠性方法，该方法同时整合了贝叶斯故障概率估计和贝叶斯决策理论多点富集过程。首先，提出了一种称为综合边缘概率（IMP）的认知不确定性度量，以作为Kriging估计的失败概率的平均绝对偏差的上限。然后，遵守贝叶斯决策理论，定义了一种称为多点逐步减少（MSMR）的外观学习函数，以量化通过在预期中添加一批新样本来量化IMP的可能减少。基于MSMR的多点富集过程的成本效率实现由三个关键的解决方法进行：（a）由于内部积分的分析性障碍性，MSMR将其减少到单个积分。（b）MSMR中的其余单个积分是通过数值截断的数值计算的。（c）最大化MSMR的启发式治疗方法是根据迭代迅速选择最佳下一个点的一批最佳点，其中使用规定或自适应方案来指定批量大小。在两个基准示例和两个动态可靠性问题上测试了所提出的方法。结果表明，MSMR中的自适应方案在计算资源消耗和整体计算时间之间取得了良好的平衡。然后，根据故障概率估计的准确性，迭代次数以及性能函数评估的数量，尤其是在复杂的动态可靠性问题中，MSMR的表现相当优于现有的倾斜功能和并行化策略。
电力可靠性的价值：采用电池的证据
2024年9月23日，该研究项目在艾伯塔大学的未来能源系统研究计划下获得了加拿大加拿大政府第一研究卓越基金的支持。作者感谢编辑罗伯特·梅特卡夫（Robert Metcalfe）和两名匿名裁判的评论和建议。We also thank Reid Fortier, Bonnie Luo, and Zack Moline for their research assistance and Nicolas Astier, German Bet, Jenet Dooley, Naima Farah, Meredith Fowlie, Kristin Hayes, Jesse Jenkins, Ted Kury, Erin Mansur, Ignacia Mercadal, Mar Reguant, John Rust, David Sappington, Brandon Schaufele, Stefan Staubli，Frank Verboven，Frank Wolak，Joel Wood和研讨会的参与者在2022年ASSA年度会议，IAEE网络研讨会系列，落基山脉的电力营，联邦能源监管委员会，Rutgers的CRRI CRRI CRRI在法规和竞争方面的CRRI工作室，汤普森河大学，弗洛里达大学，以及佛罗里达大学，以提供帮助和建议。
SN54SC8T151-SEP生产流量和可靠性报告
TI资格测试是一种降低风险的过程，该过程旨在确保客户应用程序中的设备寿命。晶圆制造过程和包装级可靠性以多种方式评估，其中可能包括加速的环境测试条件，随后脱离了实际使用条件。评估设备的可制造性，以验证强大的组装流量并确保向客户供应的连续性。ti增强产品具有针对联合电子设备工程委员会（JEDEC）标准和程序的行业标准测试方法的资格。Texas Instruments增强产品符合Geia-STD-0002-1航空航天合格的电子组件。
通过直接数字合成
摘要 - 本文对各种设计辅助技术对本机RRAM对硅的固有性能和可靠性的影响进行了全面评估。设计和技术的协作优化在替换传统闪存作为领先解决方案方面起着至关重要的作用。我们展示了使用读取之前的读取，电流限制和写入终止技术导致编程操作期间的功耗分别减少了47％，56％和13％。通过与写入验证和误差校正代码机制的结合，这些增强能够统称能源消耗减少83％，访问时间降低了55％。通过引入一种新颖的智能写算法（SWA），使这些进步成为可能。利用130nm CMOS技术实施的代表性128KB RRAM宏，这项研究显着有助于RRAM在嵌入式应用中的可行整合。对硅的实验评估验证了可靠性的提高，在经历了100万个周期后，读取了28.1µA读取边缘，而不会遇到任何读取错误，从而保持低于10 -7的位错误率（BER）。索引术语 - 无挥发性内存，ECC，智能算法，自适应和可重新配置系统，变体耐受
RAP-G：使用遗传算法进行深度边缘计算的可靠性感知服务放置
摘要 - 为了确保较低的延迟，服务提供商越来越多地转向边缘计算，将服务和资源从云到网络的边缘，尽可能靠近用户。但是，由于视频和图像处理应用程序在计算上特别密集，因此它们的部署通常基于边缘和云之间的分布式配置，这在依靠不可靠的网络时可能会增加故障的风险。在这项工作中，我们提出了算法RAP-G（具有遗传学的可靠性意识服务放置），该算法使用遗传算法（GA）考虑了网络链接的可靠性并在云和边缘之间分发服务。我们还开发了一种称为RF2（可靠性意识的第一拟合）的第一拟合算法的新变体，该算法在合理的时间内考虑可靠性。评估了RAP-G算法的性能，并将其与RF2算法进行比较。实验结果表明，考虑在服务提供的可靠性和RAP-G的优势方面的重要性。索引术语 - 边缘计算，人工智能，超可靠的低潜伏期通信，服务编排
项目4.1：RMR协议或替代移动生成解决方案的初步退出策略 - 圣安东尼奥南部可靠性的加速ii t
关键要点：•根据协议，ERCOT应向董事会报告并在MIS安全区域发布可行的替代方案列表，这些替代方案在将来可能会比现有RMR协议的持续续订更具成本效益。•正在考虑加速圣安东尼奥南可靠性II项目以退出RMR协议或替代移动生成解决方案。•San Antonio South可靠性II项目也被确定为南德克萨斯州出口和进口GTC退出策略的一部分。
多层膜钝化提高功率半导体器件的可靠性
汽车对设备在高应力和恶劣工作条件下运行的要求越来越严格。在这种情况下，钝化层在确定电气性能和可靠性方面起着根本性的作用。本研究重点关注应用于最先进功率器件的一次和二次钝化层及其对可靠性的影响。使用标准模块封装中组装的功率二极管作为测试载体，并进行高压温度湿度偏置测试以对结构施加应力。完整的故障模式分析突出了钝化层退化背后的现象。通过应用特定的无机和有机层组合来评估不同的钝化方案。最后，总结了典型的退化机制和相互作用。
清洁能源过渡中的网格可靠性
作者要感谢并感谢以下审稿人对本报告的贡献和反馈：Michael Milligan博士。 （Milligan Grid Solutions）； Ric O'Connell和Priya Sreedharan（Gridlab）； Alison Silverstein（Alison Silverstein Consulting）； Derek Stenclik（Telos Energy，Inc。）;威尔逊·里克斯（Wilson Ricks）（普林斯顿大学零实验室）；以及埃里克·吉蒙（Eric Gimon），迈克尔·奥博伊尔（Michael O'Boyle）和布伦丹·皮尔彭（Brendan Pierpont）（能源创新）。本报告的内容仅是作者的责任，不一定代表审稿人的观点。作者还要感谢Greg Alvarez，Silvio Marcacci，Shannon Stirone和Cassady Craighill团队为准备这份报告提供帮助。此外，作者还要感谢Mina Lee在图形方面的贡献，Larry Pearl和Utility Dive发表了原始的“可靠性真实演讲”系列，这是本报告的基础。所有照片均在CC下由2.0许可。