Vincent BARBIER - CETIM / France Martine BLUM - EUROPEAN ACCREDITATION / France Oriano BOTTAUSCIO - INRIM / Italy Kate CHERNYSHEVA - VSL / The Netherlands Jennifer CLARKE - NPL / United Kingdom Cosimi CORLETO - STIL MARPOSS / France Dolores DEL CAMPO - CEM / Spain Miruna DOBRE - SPF ECONOMIE / Belgium Anthony DONNELLAN - OIML / France Sascha EICHSTAEDT - PTB / Germany Jean-Rémy FILTZ - LNE / France Eric GEORGIN - CETIAT / France Pierre GOURNAY - BIPM / International Stéphane GUEU - ESSILOR LUXOTTICA / France David HAMEL - RENAULT / France François HENNEBELLE - UNIVERSITE DE BOURGOGNE / France JT JANSSEN - NPL / United Kingdom Sebastien LABORDE - COFRAC / France Hugo LEHMANN - METAS / Switzerland Pete LOFTUS - EVALU8TION / 英国 Wolfgang LUBCKE - ENDRESS & HAUSSER / 德国 Anne TRUMPFHELLER - EURAMET / 德国 David VASTY & Franck TARENA - TRESCAL / 法国
Vincent BARBIER - CETIM / France Martine BLUM - EUROPEAN ACCREDITATION / France Oriano BOTTAUSCIO - INRIM / Italy Kate CHERNYSHEVA - VSL / The Netherlands Jennifer CLARKE - NPL / United Kingdom Cosimi CORLETO - STIL MARPOSS / France Dolores DEL CAMPO - CEM / Spain Miruna DOBRE - SPF ECONOMIE / Belgium Anthony DONNELLAN - OIML / France Sascha EICHSTAEDT - PTB / Germany Jean-Rémy FILTZ - LNE / France Eric GEORGIN - CETIAT / France Pierre GOURNAY - BIPM / International Stéphane GUEU - ESSILOR LUXOTTICA / France David HAMEL - RENAULT / France François HENNEBELLE - UNIVERSITE DE BOURGOGNE / France JT JANSSEN - NPL / United Kingdom Sebastien LABORDE - COFRAC / France Hugo LEHMANN - METAS / Switzerland Pete LOFTUS - EVALU8TION / 英国 Wolfgang LUBCKE - ENDRESS & HAUSSER / 德国 Anne TRUMPFHELLER - EURAMET / 德国 David VASTY & Franck TARENA - TRESCAL / 法国
Vincent BARBIER - CETIM / France Martine BLUM - EUROPEAN ACCREDITATION / France Oriano BOTTAUSCIO - INRIM / Italy Kate CHERNYSHEVA - VSL / The Netherlands Jennifer CLARKE - NPL / United Kingdom Cosimi CORLETO - STIL MARPOSS / France Dolores DEL CAMPO - CEM / Spain Miruna DOBRE - SPF ECONOMIE / Belgium Anthony DONNELLAN - OIML / France Sascha EICHSTAEDT - PTB / Germany Jean-Rémy FILTZ - LNE / France Eric GEORGIN - CETIAT / France Pierre GOURNAY - BIPM / International Stéphane GUEU - ESSILOR LUXOTTICA / France David HAMEL - RENAULT / France François HENNEBELLE - UNIVERSITE DE BOURGOGNE / France JT JANSSEN - NPL / United Kingdom Sebastien LABORDE - COFRAC / France Hugo LEHMANN - METAS / Switzerland Pete LOFTUS - EVALU8TION / 英国 Wolfgang LUBCKE - ENDRESS & HAUSSER / 德国 Anne TRUMPFHELLER - EURAMET / 德国 David VASTY & Franck TARENA - TRESCAL / 法国
Vincent BARBIER - CETIM / 法国 Martine BLUM - 欧洲认证 / 法国 Oriano BOTTAUSCIO - INRIM / 意大利 Kate CHERNYSHEVA - VSL / 荷兰 Jennifer CLARKE - NPL / 英国 Cosimi CORLETO - STIL MARPOSS / 法国 Dolores DEL CAMPO - CEM / 西班牙Miruna DOBRE - SPF ECONOMY / 比利时 Anthony DONNELLAN - OIML / 法国 Sascha EICHSTAEDT - PTB / 德国 Jean-Rémy FILTZ - LNE / 法国 Eric GEORGIN - CETIAT / 法国 Pierre GOURNAY - BIPM / International Stéphane GUEU - ESSILOR LUXOTTICA / 法国 David HAMEL - RENAULT / 法国 François HENNEBELLE - UNIVERSITE DE BOURGOGNE / 法国 JT JANSSEN - NPL / 英国 Sebastien LABORDE - COFRAC /法国 Hugo LEHMANN - METAS / 瑞士 Pete LOFTUS - EVALU8TION / 英国 Wolfgang LUBCKE - ENDRESS & HAUSSER / 德国 Anne TRUMPFHELLER - EURAMET / 德国 David VASTY 和 Franck TARENA - TRESCAL / 法国
第 14 章:安装内存................................ 14-1 安装了多少内存? ......................... 14-1 内存芯片尺寸规格和功能 ................................ 14-3 系统板上的内存芯片布局 ........................ 14-4 奇偶校验 .............................................. 14-5 典型的内存芯片布局 ........................ 14-6 芯片位置号和错误代码 ........................ 14-10 如何查找损坏的内存芯片 ........................ 14-12 识别内存芯片的类型 ...................................... 14-13 内存芯片上印刷的信息 ................................ 14-13 单列直插式内存模块 (SIMMS) ........................ 14-15 系统板组件的编号方案 ................................ 14-15 处理和安装内存芯片 ...................................... 14-17 穿着合适的衣服并尽量减少静电放电 ........................ 14-17 小心处理芯片 ...................................... 14-18 移除芯片 ...................................... 14-18 安装芯片 ................................. 14-19 安装 SIMM ...................................... 14-21 内存扩展 ...................................... 14-21 常规内存 ...................................... 14-22 配置系统 ...................................... 14-24 配置 IBM PC 和 XT ........................ 14-24 配置 AT ...................................... 14-25 连接 PS/2 系统 ................................ 14-26
1 VSL,化学、质量、压力和粘度系,Thijsseweg 11, 2629 JA 代尔夫特,荷兰 2 国家物理实验室,数据科学系,Hampton Road, Teddington, Middlesex, 英国,TW11 0LW 3 LNEC,国家土木工程实验室,Av.do Brasil, 101, 1700-066 Lisbon, Bulgaria 4 IPQ, 葡萄牙质量研究所, Rua António Gião, 2, 2829-513 Caparica, 葡萄牙 5 INRIM, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, Strada delle Cacce 91, 10135 Torino, Italy 6 LNE, Laboratoire National de métrologie et d’essais, 29 avenue Roger Hennequin 78197 Trappes Cedex, France 7 PTB, Physikalisch-Technische Bundesanstalt, 不伦瑞克和柏林, 德国 8 IMBIH, 波斯尼亚和黑塞哥维那计量研究所, 萨拉热窝, 波斯尼亚和黑塞哥维那 9 LGC, 政府化学家实验室, Queens Road,特丁顿,TW11 0LY,英国 10 NMIJ,日本国家计量研究所,日本 11 UKAS,英国认证服务机构,2 Pine Trees, Chertsey Lane, Staines-upon-Thames TW18 3HR,英国
用于计量基础设施改进的工业传感器网络方法良好实践指南 Yuhui Luo、Peter Harris、Liam Wright 和 Kavya Jagan NPL 数据科学部,英国 Gertjan Kok VSL,荷兰 Loic Coquelin 和 Jabran Zaouali LNE,Frace Sascha Eichstädt PTB,德国 Tanja Dorst ZeMA,德国 Christos Tachtatzis、Ivan Andonovic 和 Gordon Gourlay 英国思克莱德大学 Bang Xiang Yong 英国剑桥大学 摘要 本指南介绍了一些具体方法,用于确定工业传感器网络中过程输出质量目标所需的测量覆盖率和准确度。它还介绍了一些用于工业过程优化的其他计量数据处理方法,重点关注受测量不确定性影响的数据的冗余、同步和特征选择等方面。本指南以英国思克莱德大学先进成型研究中心的径向锻造试验台为例。本指南是欧洲计量创新与研究计划 (EMPIR) 资助的 17IND12 Met4FoF“未来工厂计量”项目 (http://www.met4fof.eu) 的成果。
1 1技术创新中心国家市场法规,国家计量学研究所(NIM),北京,100029,中华民国2中,中国吉利安格大学,杭州大学,辛吉安,辛吉安吉安,310018材料科学,国家计量与测试国家实验室(LNE),29 Avenue Roger Hennequin,F-78197,F-78197,法国5号,5个国家测量研究所(NMIA),布拉德菲尔德路36号,新南威尔士州Lindfield,新南威尔士州2070年,澳大利亚2070年,澳大利亚6号研究中心,国民研究委员会(NRC),加拿大研究委员会(NRC)。 0R6, Canada 7 Bruno Kessler Foundation, Sensors and Devices Center, Micro Nano Facility Unit ( MNF ) , Trento I-38123, Italy 8 National Institute of Metrology ( Thailand ) ( NIMT ) , 3 / 4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand 9 Danmarks Nationale Metrologiinstitut ( DFM ) , Kogle Allé 5 D-2970 Hørsholm Danmark 10 National Institute of Metrology, Quality and Technology ( INMETRO ) , Duque de Caxias RJ, Brazil 11 Center for Measurement Standards, Industrial Technology Research Institute ( CMS / ITRI ) , Hsinchu 30011, Chinese TaiPei, People ' s Republic of China 12 Swinburne University of Technology, John Street, Hawthorn, VIC 3122 Australia1技术创新中心国家市场法规,国家计量学研究所(NIM),北京,100029,中华民国2中,中国吉利安格大学,杭州大学,辛吉安,辛吉安吉安,310018材料科学,国家计量与测试国家实验室(LNE),29 Avenue Roger Hennequin,F-78197,F-78197,法国5号,5个国家测量研究所(NMIA),布拉德菲尔德路36号,新南威尔士州Lindfield,新南威尔士州2070年,澳大利亚2070年,澳大利亚6号研究中心,国民研究委员会(NRC),加拿大研究委员会(NRC)。 0R6, Canada 7 Bruno Kessler Foundation, Sensors and Devices Center, Micro Nano Facility Unit ( MNF ) , Trento I-38123, Italy 8 National Institute of Metrology ( Thailand ) ( NIMT ) , 3 / 4-5 Moo 3, Klong 5, Klong Luang, Pathumthani, Thailand 9 Danmarks Nationale Metrologiinstitut ( DFM ) , Kogle Allé 5 D-2970 Hørsholm Danmark 10 National Institute of Metrology, Quality and Technology ( INMETRO ) , Duque de Caxias RJ, Brazil 11 Center for Measurement Standards, Industrial Technology Research Institute ( CMS / ITRI ) , Hsinchu 30011, Chinese TaiPei, People ' s Republic of China 12 Swinburne University of Technology, John Street, Hawthorn, VIC 3122 Australia
本书介绍给尚未使用工具来支持学生计算机思维的发展的老师。本书旨在帮助教师了解什么是计算机思维,为什么重要以及如何与现有课程集成。本书基于对当前研究和最佳实践的文献综述,以支持学生学习燃烧思维,以及CTAPP项目的作者和合作伙伴的经验和见解。这本书包含许多实用的技巧和示例,这些技巧和示例适用于希望在其主题,使用常规教育工具以及特定于给定主题内容的方法中包括计算机思维的教师。
由欧盟资助。但是,所表达的观点和观点仅是作者的观点,不一定反映欧盟或欧盟航空安全局(EASA)的观点。欧洲联盟和EASA都不能对他们负责。这种可交付的外部组织已经为EASA实施了easa,并表达了组织可交付的组织的意见。是出于信息目的提供的。因此,不应将其作为陈述,作为任何形式的保修,代表,承诺,合同或其他对EASA具有约束力的承诺。本材料中所有版权和其他知识产权的所有权,包括任何文档,数据和技术信息,都归属于欧盟航空安全局。所有徽标,版权,商标和注册商标都可能包含在其各自所有者的财产中。对于不符合EASA版权的照片或其他材料的使用或再现,必须直接从版权所有者那里寻求许可。提供了不属于财团的所有图像,结果,模型和说明性示例,均提及专有公共资源。全部或部分地允许复制该可交付。可以在EASA MLEAP网页上下载完整报告。批准者:作者审稿人管理部可交付的号码和标题:MLEAP最终报告 - 执行摘要合同编号:EASA.2021.C38,MLEAP承包商 /作者:AirBus Protect,LNE,NUMALIS IPR所有者:欧盟航空安全机构分发:公开这是MLEAP最终报告的执行摘要。