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b'porous [13]或树突[14]生长形态。[9]在基于TFSI的电解质中检测到具有不同形状的半球3D颗粒,这是施加电流密度的函数。[12]在Mg(TFSI)2盐电解质中,MGCL 2作为添加剂,连续的剥离和镀金导致SEI层的破裂和改革,从而在相应的断裂部位和不均匀的MG沉积中产生大量有效的电流密度。[13]通过这种机制,半球形沉积物进一步降解为多孔形态和被困的沉积物,这些沉积物是不可逆转地损失的。最极端的非均匀Mg生长形式是树突的形成,在mg阳极下发生的频率要小得多。到目前为止,仅在0.921 MACM 2的电流密度下仅针对MEMGCL的0.5 MOLDM 3溶液检测到树突。[14]'