我们广泛的高功率产品组合使广播发射机设计人员能够选择最佳解决方案,能够满足甚至超过任何所需功率水平、调制类型和频率范围内最严格的性能要求。卓越的效率和增益几乎涵盖了所有广播发射机应用,包括模拟电视、DVB-T、ISDB-T 和 ATSC 数字电视以及 AM、单边带、FM、HD 和 DAB 无线电应用。
• 利用现有的 True Lock 连接器 • 提供“F”母头和 3.5/12 F 接口 • 每种接口均提供 2 路、3 路和 4 路适配器
1.1 目的。本标准规定了为国防部活动和机构设计或采购的电子、电气和机电设备及子系统的电磁发射和敏感度特性控制的设计要求。此类设备和子系统可独立使用,也可作为其他子系统或系统的组成部分使用。还包括数据项要求。
确定事件权利(是利息金额或赎回金额的付款)所在的持股日期所在的日期。付款金额的付款是在关闭寄存器关闭的第一个日期之前的工作日的营业额,并且用于兑换金额的付款,这是在利息付款日期之前的工作日期的营业日
Thomas Joyce 亚利桑那大学天文系、物理系月球与行星实验室 Ryland Phipps 亚利桑那大学航空航天与机械工程系 Craig Jacobson 亚利桑那大学月球与行星实验室 Tanner Campbell 亚利桑那大学航空航天与机械工程系 / 月球与行星实验室 Adam Battle 亚利桑那大学月球与行星实验室 Daniel Estévez 博士 独立研究员,西班牙 Roberto Furfaro 教授 亚利桑那大学系统与工业工程系、航空航天与机械工程系 Vishnu Reddy 教授 亚利桑那大学月球与行星实验室
INID XS 读卡器系列 INID XS RF DistriFlex® 读卡器系列提供灵活的门禁读卡器,用于读取高频 13.56 MHz 和低频 125 kHz Prox 凭证。INID XS RF DistriFlex® 读卡器有两种型号:仅高频 SmartReader XS 以及组合低频和高频 MultiSmart XS。INID XS 读卡器带或不带 PIN 键盘,具有用于 Wiegand、时钟和数据、TTL 和 RS485 的软件控制接口。现场可编程功能可为您的投资提供面向未来的保障。INID XS 读卡器支持的技术:ISO14443-3A:MIFARE® Classic、MIFARE Ultralight®。ISO14443-4A:MIFARE® DESFire® EV1、EV2 和 V0.6、SmartMX。ISO14443-4B:Infineon、Atmel 和 ST microelectronics。NFC:点对点以及对被动凭证和设备的支持。 LF-Prox:EM4102 和为 HID®、AWID®、QuadraKey 和 GE/CASI® ProxLite® LF 近距离读卡器编程的凭证。输出协议 INID XS 读卡器可配置为 OSDP,包括安全通道或传统访问控制:Wiegand、时钟和数据、TTL。
摘要 为了开发可靠的高速封装,倒装芯片工艺中使用的底部填充材料的特性分析变得越来越重要。底部填充材料通常是一种环氧树脂基材料,可为封装上的集成电路 (IC) 提供热和结构优势。由于如此多的输入和输出 (IO) 彼此靠近,封装上的集成电路可能会出现意外的信号和电源完整性问题。此外,芯片封装只能支持最高频率的信号,在此频率下噪声耦合(例如串扰、开关噪声等)会导致系统故障。垂直互连(例如通孔和焊料凸块)是噪声耦合的主要来源。在每个信号网络之间插入接地参考是不切实际的。对于焊料凸块,噪声耦合取决于底部填充材料的介电常数。因此,表征底部填充材料的介电常数有助于预测信号和电源完整性问题。这种液体或半粘性材料通常通过浸入材料中的开端同轴探针的简单边缘电容模型来表征。但是,开口同轴方法不如基于谐振器的方法准确。需要一种方法来准确提取高频下液体或半粘性材料的介电常数。所提出的方法使用实壁腔体谐振器,其中谐振器用底部填充材料填充并固化。介电特性分析是一个复杂的过程,其中必须了解或准确测量腔体的物理特性。这包括导体的电导率、导体的粗糙度、腔体的尺寸和端口引脚位置。本文讨论了在使用腔体谐振器表征介电体时遇到的一些挑战。这种表征方法也可用于表征其他感兴趣的材料。关键词介电体、倒装芯片、介电常数、谐振器、底部填充。
三十多年来,Amphenol CIT 一直为航天应用(地球轨道及更远、载人和无人任务)提供高可靠性 RF 同轴电缆组件(柔性和半刚性)。凭借针对 Amphenol CIT 电缆量身定制的坚固的 Amphenol CIT 连接器设计,可打造优化的电缆组件,我们在提供微波传输线产品方面拥有丰富的经验,这意味着您可以与我们合作,为您提供经过验证的解决方案,以应对您最苛刻的航天技术挑战,包括 V 波段的工作频率、功率处理(CW、多路复用器、电离)、PIM、辐射、热真空和低温操作等。Amphenol CIT 产品已通过多项特定项目要求的认证,并可根据 NASA EEE-INST-0002 和 ESCC 3408 提供。
课程召集人:R. Ramer 教授,308 室,ror@unsw.edu.au 导师:如上所述 实验室联系人:Yunhao Fu,320 室,Yunhao.Fu@student.unsw.edu.au Sheng Huang,320 室,Sheng.Huang@unsw.edu.au 咨询:我们鼓励您在课程时间结束后就课程材料提问,而不是通过电子邮件提问。讲师咨询时间将在讲座期间告知。欢迎您给导师或实验室演示者发送电子邮件,他们可以回答您关于本课程的问题,也可以为您提供咨询时间。所有电子邮件咨询都应从您的学生电子邮件地址发送,主题行中注明 ELEC 4604;否则,将不会得到答复。讲师咨询时间:星期三,EE&T TBA。保持知情:通知可能会在课堂上、通过电子邮件(发送至您的学生电子邮件地址)和/或通过在线学习和教学平台发布 - 在本课程中,我们将使用 Moodle https://moodle.telt.unsw.edu.au/login/index.php 。请注意,您将被视为已收到此信息,因此您应仔细记下所有通知。