e5610是蒙版DR-SEM 1)用于审查和分类的摄影和空白中的超小缺陷。E5610继承了由最有价值的MVM-SEM®开发的高度稳定,完整的自动捕获技术,可轻松从蒙版检查系统中导入缺陷位置数据,并自动映像位置。 此外,它具有新开发的梁倾斜机制,可在倾斜角度进行扫描,而EDS 2)进行元素分析的模块。 具有高临界性,高通量缺陷审查能力,E5610有望有助于下一代照片生产质量改进和较短的制造业。E5610继承了由最有价值的MVM-SEM®开发的高度稳定,完整的自动捕获技术,可轻松从蒙版检查系统中导入缺陷位置数据,并自动映像位置。此外,它具有新开发的梁倾斜机制,可在倾斜角度进行扫描,而EDS 2)进行元素分析的模块。具有高临界性,高通量缺陷审查能力,E5610有望有助于下一代照片生产质量改进和较短的制造业。
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