在具有kbr或nujol油的钻石砧座的外部施加的压力下进行的10个单晶体的磁电向传输测量值,作为压力介质产量的超导性特征,最大值的发作温度最大31 k。 磁化测量结果提供了超导性的佐证证据,其依赖性磁磁信号出现在发作温度以下,并且易感性的绝对值估计表明,在10%的订单上,超导体积分数。 我们观察到样本对样本的变化T C的大小和压力依赖性以及对给定样品上电气接触的构型的依赖。 这种行为的可能原因可能是压力介质引起的样品以及晶体本身的不均匀性的压力和/或损害的显着不均匀性。 结果表明,我们生长的PR 4 Ni 3 O 10单晶不是散装的超导体,而是晶体中存在少数群体结构确实是超导的。在具有kbr或nujol油的钻石砧座的外部施加的压力下进行的10个单晶体的磁电向传输测量值,作为压力介质产量的超导性特征,最大值的发作温度最大31 k。 磁化测量结果提供了超导性的佐证证据,其依赖性磁磁信号出现在发作温度以下,并且易感性的绝对值估计表明,在10%的订单上,超导体积分数。 我们观察到样本对样本的变化T C的大小和压力依赖性以及对给定样品上电气接触的构型的依赖。 这种行为的可能原因可能是压力介质引起的样品以及晶体本身的不均匀性的压力和/或损害的显着不均匀性。 结果表明,我们生长的PR 4 Ni 3 O 10单晶不是散装的超导体,而是晶体中存在少数群体结构确实是超导的。在具有kbr或nujol油的钻石砧座的外部施加的压力下进行的10个单晶体的磁电向传输测量值,作为压力介质产量的超导性特征,最大值的发作温度最大31 k。 磁化测量结果提供了超导性的佐证证据,其依赖性磁磁信号出现在发作温度以下,并且易感性的绝对值估计表明,在10%的订单上,超导体积分数。 我们观察到样本对样本的变化T C的大小和压力依赖性以及对给定样品上电气接触的构型的依赖。 这种行为的可能原因可能是压力介质引起的样品以及晶体本身的不均匀性的压力和/或损害的显着不均匀性。 结果表明,我们生长的PR 4 Ni 3 O 10单晶不是散装的超导体,而是晶体中存在少数群体结构确实是超导的。在具有kbr或nujol油的钻石砧座的外部施加的压力下进行的10个单晶体的磁电向传输测量值,作为压力介质产量的超导性特征,最大值的发作温度最大31 k。 磁化测量结果提供了超导性的佐证证据,其依赖性磁磁信号出现在发作温度以下,并且易感性的绝对值估计表明,在10%的订单上,超导体积分数。 我们观察到样本对样本的变化T C的大小和压力依赖性以及对给定样品上电气接触的构型的依赖。 这种行为的可能原因可能是压力介质引起的样品以及晶体本身的不均匀性的压力和/或损害的显着不均匀性。 结果表明,我们生长的PR 4 Ni 3 O 10单晶不是散装的超导体,而是晶体中存在少数群体结构确实是超导的。磁电向传输测量值,作为压力介质产量的超导性特征,最大值的发作温度最大31 k。磁化测量结果提供了超导性的佐证证据,其依赖性磁磁信号出现在发作温度以下,并且易感性的绝对值估计表明,在10%的订单上,超导体积分数。我们观察到样本对样本的变化T C的大小和压力依赖性以及对给定样品上电气接触的构型的依赖。这种行为的可能原因可能是压力介质引起的样品以及晶体本身的不均匀性的压力和/或损害的显着不均匀性。结果表明,我们生长的PR 4 Ni 3 O 10单晶不是散装的超导体,而是晶体中存在少数群体结构确实是超导的。
在快速 MRI 成像中,B 0 不均匀性会导致非线性图像失真(例如,对于 EPI)或图像模糊(例如,对于螺旋采集)。5 对于 CEST,B 0 不均匀性会引起频率偏移 6 ,这会导致量化中的系统误差。体内 MRI 检查对受试者的运动很敏感。那些具有长 MRI 序列或重复次数较多的 MRI 检查尤其容易受到受试者运动的影响。7,8 受试者位置的变化不仅经常通过 k 空间不同部分之间的不一致直接导致运动伪影,而且还会通过由位于磁化率差异很大的组织(例如脑组织、骨组织和空气)之间的磁化率界面处的源引起的局部场扰动的位置变化导致 B 0 场的均匀性降低而间接导致运动伪影。9,10
摘要:电铸层厚度不均匀性是制约电铸微金属器件发展的瓶颈问题。微齿轮是各类微器件的关键元件,本文提出了一种提高其厚度均匀性的新制备方法。通过仿真分析研究了光刻胶厚度对均匀性的影响,结果表明随着光刻胶厚度的增加,电流密度的边缘效应减小,电铸齿轮的厚度不均匀性会减小。与传统的一步正面光刻和电铸方法不同,该方法采用多步自对准光刻和电铸工艺制备微齿轮结构,在交替光刻和电铸过程中间歇地保持光刻胶厚度的降低。实验结果表明,该方法制备的微齿轮厚度均匀性比传统方法提高了45.7%。同时,齿轮结构中部区域的粗糙度降低了17.4%。
研究了在100 mm硅基底上采用等离子体增强原子层沉积技术制备氮化铌薄膜,并研究了薄膜性质的异质性。直径为92mm时表面电阻分布的不均匀性为7%。使用X射线反射法测量板的中心部分和距离中心40毫米的四个位置的膜厚度分布的不均匀性为4%。在基板上的相同位置进行的 X 射线衍射没有显示反射有任何可见的变化。不同区域的晶格参数差异仅为0.06%。超导测量表明,在直径为80毫米时,超导转变温度的最大偏差为1.6%,临界电流密度的最大偏差为7%。
对Bogomolny-Prasad-Sommerfield(BPS)限制的不均匀的Abelian Higgs模型均针对相对论和非遗体主义制度研究了。尽管空间翻译的对称性因不均匀性而破坏,但延伸到N¼1超对称理论。四分之一的标量电势具有最小值,具体取决于杂质的强度,但在空间渐近线下具有破碎的相位。破碎相的真空构型既不是常数也不是标量电势的最小值,而是被发现是bogomolny方程的非平凡解。虽然其能量密度和磁场是由空间坐标的功能给出的,但能量和磁通量保持为零。磁杂质项的符号允许BPS扇区或抗BPS扇区,但不能同时进行。因此,所获得的溶液被确定为最小零能量的新型不均匀损坏的真空。在存在旋转对称的高斯类型不均匀性的情况下,还获得了拓扑涡流溶液,并且对杂质对涡流的影响进行了数值分析。
在快速 MRI 成像中,B 0 不均匀性会导致非线性图像失真(例如,对于 EPI)或图像模糊(例如,对于螺旋采集)。5 对于 CEST,B 0 不均匀性会引起频率偏移 6 ,这会导致量化中的系统误差。体内 MRI 检查对受试者的运动很敏感。那些具有长 MRI 序列或重复次数较多的 MRI 检查尤其容易受到受试者运动的影响。7,8 受试者位置的变化不仅经常通过 k 空间不同部分之间的不一致直接导致运动伪影,而且还会通过由位于磁化率差异很大的组织(例如脑组织、骨组织和空气)之间的磁化率界面处的源引起的局部场扰动的位置变化导致 B 0 场的均匀性降低而间接导致运动伪影。9,10
摘要。在医学成像中,通常需要获取多种模态(MRI、CT、PET 等)以突出不同的结构或病理。由于患者在扫描或扫描会话之间移动是不可避免的,因此配准通常是任何后续图像分析之前的必要步骤。在本文中,我们引入了一种基于联合总变分的成本函数,用于此类多模态图像配准。该成本函数的优点是可以对多个图像进行原则性、分组对齐,同时对强强度不均匀性不敏感。我们在严格对齐模拟和真实 3D 脑部扫描时评估了我们的算法。此验证表明,对于 CT/PET 到 MRI 对齐,该算法对强强度不均匀性和低配准误差具有鲁棒性。我们的实现在 https://github.com/brudfors/coregistration-njtv 上公开提供。
致谢。这项工作得到了俄罗斯科学基金会的支持(赠款号18-19-00255,https://rscf.ru/en/project/21-19-28039/)。引用:Ignateva EV,Krasnitckii SA,Sheinerman AG,Gutkin MY。复合陶瓷中裂纹耐受性的有限元分析。材料物理和力学。2023; 51(2):21-26。doi:10.18149/mpm.5122023_2。引言具有较少脆性的陶瓷材料的开发是材料科学研究的极大兴趣,尤其是在获得具有增强功能性能的有前途的复合材料的方式上,可在操作条件下提供耐用性和可靠性[1-4]。这些材料可以通过用高级化合物(例如石墨烯[5,6]烧结陶瓷粉末来制造。由于该过程的技术参数,生产的材料可能包含大部分界面不均匀性,主要位于晶界(GBS)[7]。在操作条件下,这些不均匀性是由外场的影响(热,电或磁性)引起的应力障碍的起源,可以引起弛豫过程,即脱位发射或裂纹成核[8-11]。第一种机制主要有助于塑性变形(屈服)现象,而第二种机制则是导致获得的陶瓷复合材料的脆性断裂。对任何一种松弛机制的发生分析被认为是一个重要的问题,可以通过对界面不均匀性附近的应力障碍进行彻底研究以及随后发展弛豫过程的理论模型的发展,以增加陶瓷材料的裂缝抗性。
•long blocks受轨迹接受限制的不均匀性•四分之一块的平均材料的增加最大•硅光子学可减少30%的材料•与长块相比•纤维跟踪器的长音轨预期受材料变化最大的影响(低𝜂)