电子诱导的电子发射通常用二次电子产额 (SEY) 来量化,有时也称为总电子产额 (TEY)。低 SEY 材料或表面旨在减少航天器和卫星的表面充电 [1,2] 以及减轻粒子加速器中电子云的形成。[3–7] 几十年来,为了满足不断发展的技术需求,人们在元素材料表面和化合物中 [7–17] 深入研究了二次电子产额的一次电子能量依赖性以及发射电子的动能分布。对于许多应用,低于 1 的 SEY 最大值足以避免撞击电子的级联倍增。然而,对于其他解决方案而言,进一步降低 SEY 可能会有所帮助,以抑制可能产生背景噪声或使测量信号恶化的反射、背散射和二次电子,例如在电子收集器中,用于测量超高真空 (UHV) 中的低电子电流或用于基于电离的压力计。[18,19]