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干货：ZL6205 如何解决储能电容所致的缓慢掉电？
2.1 应用电路 ..................................................................................................... 1 2.2 某普通 LDO 掉电测试 ................................................................................. 1 3. 缓慢掉电对 MCU 的影响 ....................................................................................... 2 4. ZL6205 替换测试 ...................................................................................................... 3
puretemp®热储能材料
Puretemp 4通过10,000个热循环稳定，大约每天连续使用约27.4年。Peretemp，LLC。4232 Park Glen Road，Minneapolis，MN 55416电话： +1-952-941-0306查询：www.puretemp.com/contact网站：www.puretemp.com：www.puretemp.com©Entropy Solutions，LLC，LLC。 保留所有权利重要说明：前面的数据基于熵解决方案可靠的测试和经验，仅用于信息目的。 熵解决方案明确不承担任何损害或伤害的责任，这是由于使用上述数据而造成的，其中包含的任何内容均应构成保证，保证或代表性，或者通过熵解决方案（包括对数据，产品所描述的产品或适合任何特定用途）的熵解决方案，即使知道该目的是该目的，甚至已知。 个人要求可能会有所不同，并敦促每个购买者在使用本产品的使用时进行自己的测试，实验和调查。 有关这些产品的详细安全性和处理信息，请参阅各自的Puretemp安全数据表。4232 Park Glen Road，Minneapolis，MN 55416电话： +1-952-941-0306查询：www.puretemp.com/contact网站：www.puretemp.com：www.puretemp.com©Entropy Solutions，LLC，LLC。保留所有权利重要说明：前面的数据基于熵解决方案可靠的测试和经验，仅用于信息目的。熵解决方案明确不承担任何损害或伤害的责任，这是由于使用上述数据而造成的，其中包含的任何内容均应构成保证，保证或代表性，或者通过熵解决方案（包括对数据，产品所描述的产品或适合任何特定用途）的熵解决方案，即使知道该目的是该目的，甚至已知。个人要求可能会有所不同，并敦促每个购买者在使用本产品的使用时进行自己的测试，实验和调查。有关这些产品的详细安全性和处理信息，请参阅各自的Puretemp安全数据表。
基于分子动力学的氮化镓/石墨烯/ 金刚石界面热导研究*
设备，采用非平衡分子动力学方法来研究工作温度，界面大小，缺陷密度和缺陷类型对氮化碳/石墨烯/钻石异种结构的界面导热率的影响。此外，计算各种条件下的声子状态密度和声子参与率，以分析界面热传导机制。结果表明，界面热电导随温度升高而增加，突出了异质性固有的自我调节热量耗散能力。随着温度从100升的增加，单层石墨烯结构的界面热电导增加了2.1倍。这归因于随着温度升高的重叠因子的增加，从而增强了界面之间的声子耦合，从而导致界面导热率增加。此外，在研究中发现，增加氮化岩和石墨烯的层数会导致界面热电导量减少。当氮化壳层的数量从10增加到26时，界面的导热率降低了75％。随着层数增加而减小的重叠因子归因于接口之间的声子振动的匹配减少，从而导致较低的热传递效率。同样，当石墨烯层的数量从1增加到5时，界面热电导率降低了74％。石墨烯层的增加导致低频声子减少，从而降低了界面的导热率。此外，多层石墨烯可增强声子定位，加剧了界面导热的降低。发现引入四种类型的空缺缺陷会影响界面的导电电导。钻石碳原子缺陷导致其界面导热率增加，而镀凝剂，氮和石墨烯碳原子的缺陷导致其界面导热降低。随着缺陷浓度从0增加到10％，由于缺陷散射，钻石碳原子缺陷增加了界面热电导率，增加了40％，这增加了低频声子模式的数量，并扩大了界面热传递的通道，从而提高了界面热电导率。石墨烯中的缺陷加强了石墨烯声子定位的程度，因此导致界面导热率降低。胆汁和氮缺陷都加强了氮化炮的声子定位，阻碍了声子传输通道。此外，与氮缺陷相比，甘露缺陷会引起更严重的声子定位，因此导致界面的界面热电导率较低。这项研究提供了制造高度可靠的氮化炮设备以及广泛使用氮化壳异质结构的参考。
为什么要粒子热储能（TES）？
•经济有效地将冷和热能存储在颗粒中（35 $/吨，从<-100°C到> 1000°C）。•直接气体/颗粒接触避免传热表面，并最大程度地减少热损失和热交换器成本。•避免冷液体存储成本和低温遏制和火灾危害问题。
包装的床热储能
高温热能储藏越来越重要，它是集中太阳能发电厂的关键组成部分。包装的床储藏代表经济上可行的大规模存储解决方案。目前的工作涉及填充的床热储能的分析和优化。评估了准动态边界条件对存储热力学性能的影响。存储的级别成本是创新的，用于热量存储设计。提出了一种设计包装床热储能的完整方法。这样做，对工业规模填充床进行了全面的多客观优化。结果表明，准动态边界条件导致降低约5％的存储热效率。相反，研究的设计变量对TES LCO的优化的影响仅受准动力边界条件的影响略有影响。纵横比在0.75到0.9之间将最大化存储热效率，而低初步效率在0.47左右会最大程度地减少存储的水平成本。这项工作证明了在优化热能stor年龄时应考虑准动态边界条件。存储的级别成本也可以被视为填充床热能存储的更可靠的性能指标，因为它较少依赖于可变边界条件。
中文- 如何使用MDB-RS232® 测试纸币找零器
( 读取回来的数值标识哪种类型的纸币是在接收币后进入找零器 ) 这样我们知道哪种纸币在找零器中，能用于后续的找零 3703 回复 : 00 04 04 ( 这意味着类型 2 纸币是预设置进入找零器 : 00000000 00000100) 回复 : 00 01 01 ( 这意味着类型 0 纸币是预设置进入找零器 : 00000000 00000001) 如果回复的是其它数值，可以对应转换为 2 进制数值，对应货币通道去理解 3.使能找零器
基于有机光电突触晶体管的储池计算网络
图 1 有机光电突触器件 . (a) 人类视网膜和大脑系统示意图 ; (b) 储池计算结构 ; (c) 提拉法制备有机薄膜示意图 ; (d) C 8 -BTBT 薄膜的光学显微镜图像 ( 标尺 : 100 μm); (e) PDIF-CN 2 薄膜的光学显微镜图像 ( 标尺 : 100 μm); (f) C 8 -BTBT 薄膜的 AFM 图像 ( 标 尺 : 1.6 μm); (g) PDIF-CN 2 薄膜的 AFM 图像 ( 标尺 : 1.6 μm); (h) 具有非对称金属电极的有机光电突触晶体管器件结构 ; (i) 器件 配置为光感知型突触 ; (j) 器件配置为计算型晶体管 ( 网络版彩图 ) Figure 1 Organic optoelectronic synaptic devices. (a) The schematic diagram of human retina and brain system. (b) The architecture of a reservoir computing. (c) The preparation of organic thin films by dip coating method. (d) The optical microscope image of C 8 -BTBT film. Scale bar: 100 μm. (e) The optical microscope image of PDIF-CN 2 film. Scale bar: 100 μm. (f) The AFM image of C 8 -BTBT film. Scale bar: 1.6 μm. (g) The AFM image of PDIF-CN 2 film. Scale bar: 1.6 μm. (h) The schematic diagram of organic optoelectronic synaptic transistor with asymmetric metal electrodes. (i) The device is configured as a light-aware synapse. (j) The device is configured as a computational transistor (color online).