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World File Search System光子能
评估Varian Clinac IX线性加速器的光子光束参数
*通讯作者：ysubaar@gmail.com摘要放射疗法的准确性和一致性对于癌症治疗至关重要。然而，诸如机器故障之类的技术问题会损害辐射输送，从而导致剂量分布，冷点或冷点，以及包括局部肿瘤复发在内的次优治疗结果。本研究评估了Komfo Anokye教学医院的Varian Clinac IX线性加速器的光子束参数，以确保机器的临床可靠性。梁曲线的6 mV和16 mV光子能量。在不同的深度进行10×10cm²和15×15cm²的场尺寸进行测量。对于10×10cm²的场尺寸，6 mV光子能的梁平整度和对称性分别为0.88％至2.22％和0.25％至0.25％至0.78％，分别为15×15cm²的场尺寸，分别为1.39％至2.39％至2.34％至2.34％至0.57％至0.57％至0.96％。16 mV光子能量的平坦度和对称性范围从1.98％到2.42％至2.42％和0.36％至1.04％的场尺寸，从15×15cm²的场地尺寸为1.25％至2.25％至2.55％至0.25％至0.25％至0.25％至0.67％。6 mV光子的测得的电荷为16.59 NC，而16 mV光子能量为19.28 NC。调查结果表明，线性加速器在临床使用方面处于良好状态。但是，建议进行定期的质量控制检查以保持其性能并确保一致，准确的癌症治疗。
辐射性不透明
最容易看到这一点，假设在实验室框架中，电子最初以速度V移动，并且光子最初具有能量e，并且正在直接向上移动到电子。在电子休息框架中，光子能是蓝光的，因此在电子休息框架中，光子能量为eγ（1 + v /c），其中γ=（1 -v 2 /c 2 /c 2）-1 /2是lorentz因子。说，光子在用电子散射后弹回180°，并且在电子休息框架中，光子的能量不会变化（因为它远小于电子静电量的能量m e c 2，其中m e是电子的质量）。然后，在散射后，在电子休息框架中，光子能量仍然为Eγ（1 + V/C）。但是多普勒转移回实验室框架，光子的能量现在为Eγ2（1 + v/c）2 = E（1 + v/c）/（1 -v/c），因此光子在实验室框架中获得了能量。现在，我们还应该理解，光子并不总是在实验室框架中获得能量。例如，如果我们要重做上面的分析，但假设光子撞击电子的尾声，我们会发现实验室框架中的最终能量为e（1-v/c）/（1+ v/c），因此，在这种情况下，光子将在实验室中看到的能量失去能量。当电子和光子都在各向同性热分布中时，当辐射和电子温度相等时就达到平衡（毫不奇怪）。
混凝土的辐射衰减特性与...
本研究研究了混凝土的辐射屏蔽特性，该特性融合了稻壳灰（RHA），牡蛎壳粉（OSP）和铁粉（FEP）。四个混凝土混合样品ି一种标准混凝土（C -M25）和三个具有40％RHA（C -RHA），OSP（C -SOSP）和FEP（C -FEP）的混凝土样品，作为良好的聚集物替换率ି，以后进行了ASTM C31。通过Epixs软件的插值来计算样品的光子衰减参数。总原子交叉 - 段（σT）值按以下顺序排名：C- FEP> c -osp> c -M25> c -c -rha。c -fep具有最大的MAC值，除了662ି1332KEV的能量范围，其中C -OSP表现出较高的值。C -fep的HVL在整个光子能量上是最高的，其值分别为3.07、4.05、5.34和5.70 cm，分别为356、662、1173和1332 KEV。c -fep在整个光子能量范围内达到了最大的z eff值，这归功于其高浓度的高z元素ିfe和ca。虽然混凝土样品的值接近，但C -fep以40 mfp获得了最低的EABF和EBF因子。c -fep是三个样品中最好的混凝土混合物，在考虑的所有辐射屏蔽参数方面达到了较高的值。与利用其他废物副产品的其他屏蔽材料相比，研究中的混凝土样品显示了材料的MAC和HVL的可比值。
使用实验室（HAXPE）和飞行次级离子质谱（TOF-SIMS）
如今，“更多的摩尔”和“超过摩尔”设备体系结构已大大提高了新型材料的重要性，从而需要提供适当的表征和计量，以实现可靠的过程控制。 例如，在多通道场效应设备或升高来源中使用的SIGE或SIP化合物的引入导致需要确定所得膜的精确组成。 在这项工作中，已经使用主要无损haxpes和TOF-SIMS研究了二进制材料（例如SIP和SIGE）的定量。 的确，虽然使用RB的主要障碍是薄膜的表征，但具有适当定量功能（例如Atom探针断层扫描和传输电子显微镜）的技术既耗时又耗时，并且由于其高度局部的分析量而缺乏灵敏度。 对于定量表征，常规的X射线光电子光谱（XPS）是一个强大的工具。 然而，其低分析深度仍然是研究掩埋界面的主要限制因素，尤其是在本研究中，因为所获得的基于SI的层在环境条件下被氧化（或者应该受到一些纳米计的金属层保护）。 ，由于电子在二元材料表面的化学组成和SIO 2在层中的深入分布，因此使用了一种基于实验室的硬X射线源（HAXPE），这既要归功于层次的SIO 2的深度分布，这要归功于电子的非弹性平均自由路径随光子能量增加的增加（铬Kα，Hν= 5414.7 ev）[1] [1]。如今，“更多的摩尔”和“超过摩尔”设备体系结构已大大提高了新型材料的重要性，从而需要提供适当的表征和计量，以实现可靠的过程控制。例如，在多通道场效应设备或升高来源中使用的SIGE或SIP化合物的引入导致需要确定所得膜的精确组成。在这项工作中，已经使用主要无损haxpes和TOF-SIMS研究了二进制材料（例如SIP和SIGE）的定量。的确，虽然使用RB的主要障碍是薄膜的表征，但具有适当定量功能（例如Atom探针断层扫描和传输电子显微镜）的技术既耗时又耗时，并且由于其高度局部的分析量而缺乏灵敏度。对于定量表征，常规的X射线光电子光谱（XPS）是一个强大的工具。然而，其低分析深度仍然是研究掩埋界面的主要限制因素，尤其是在本研究中，因为所获得的基于SI的层在环境条件下被氧化（或者应该受到一些纳米计的金属层保护）。，由于电子在二元材料表面的化学组成和SIO 2在层中的深入分布，因此使用了一种基于实验室的硬X射线源（HAXPE），这既要归功于层次的SIO 2的深度分布，这要归功于电子的非弹性平均自由路径随光子能量增加的增加（铬Kα，Hν= 5414.7 ev）[1] [1]。确认通过HAXPES测量获得的感兴趣材料的组成并计算出适当的相对灵敏因子（RSF），相同的膜以TOF-SIMS为特征。但是，例如Haxpes，SIP/SIGE层的次级离子质谱法（SIMS）表征通常由于p/ge含量的电离产量的非线性变化而受到基质效应。通过分析参考样本，遵循MCS 2+辅助离子或使用完整的光谱协议[2]，可以通过分析参考样品来超越此限制。最后，计算了次级离子束的P和GE（Si）组成，并将其与X射线衍射确定的参考组成进行比较。还研究了测量值的可重复性和层氧化的影响。得出结论，通过将haxpes结果与TOF-SIM耦合，准确评估了层的深入组成和表面氧化物的厚度。
使用锯齿折射透镜在高能 X 射线光束线上聚焦
1-ID X 射线光束线利用先进光子源 (APS) 储存环电子束的高能量 (7 GeV)、其低发射率、短周期波荡器源和针对高能 X 射线优化的光学系统，提供 40-140 keV 光子能量范围内的高亮度光束，用于材料散射研究。这种 X 射线与物质相互作用的特点是衰减低、散射角小、相互空间访问大，使其非常适合用作体探测器以及几何限制或极端样品环境。光束线范围的很大一部分涉及以高空间分辨率研究工程材料的微观结构和演变，例如获得多晶材料的三维晶粒图，给出位置、形状、晶体取向和应变状态，并通常跟踪在施加的刺激下发生微观机械变化的数千个晶粒的这些参数。高空间分辨率研究通常通过结合多种互补技术进行，即在同一样本上使用聚焦和非聚焦光束。聚焦光束技术包括近场高能衍射显微镜 (nf-HEDM；Suter 等人，2006 年)、衍射断层扫描 (Birkbak 等人，2017 年) 和相干衍射成像 (CDI)。非聚焦光束用于传统断层扫描和远场高能衍射显微镜 (ff-HEDM；Lienert 等人，2011 年)。实现这样一套技术使得同轴聚焦光学系统变得可取，从而使线 (1D) 聚焦、点 (2D) 聚焦和非聚焦配置的光束位置保持不变。主要出于这个原因，不使用 Kirkpatrick–Baez 反射光学器件，尽管它们是消色差的，因此很容易适应能量可调性（如果基于全外部反射，而不是多层）。此外，与同轴光学器件不同，小焦点位置容易受到反射光学器件的角度稳定性的影响。基于菲涅尔区的光学器件（例如区域板和多层劳厄透镜）以同轴方式运行，但具有其他衍射级晕，其消除
补充信息：BI 1 -x SB x拓扑绝缘子的表面状态的自旋和轨道电荷转换理论
光发射实验是在安装在Soleil存储环（法国圣奥宾）上的Cassiopee梁线上进行的。光束线托管两个端站。使用具有线性水平极化的20个EV入射光子，用于测量费米表面和带分散体的高分辨率ARPES端域。它配备了科学R4000电子分析仪。样品上的光子斑点大小为50×50 µm 2，总体动能分辨率（考虑到光子能和电子动能分辨率）的总分辨率为10 meV。第二个终端是一个自旋分辨的ARPES实验，其中梁的大小约为300×300 µm 2。它配备了MBS A1-Analyzer，并带有2D检测器进行ARPES测量。接近该2D检测器，一个1×1 mm 2孔收集具有明确定义的动能和动量的光电子。它们被发送到一个旋转操纵器中，能够沿Ferrum Vleed自旋检测器的磁化轴定位任何自旋组件，该轴是由Fe（100）-p（1×1）O表面[1，2]制成的，该旋转式旋转式探测器被沉积在W-靠基层上。沿选定方向的自旋极化与收集的两个信号的差成正比，以相反的氧化物靶标的磁化。为了减少仪器造成的测量不对称性，每个极化方向都采集了四个测量，从而逆转了Ferrum磁化强度和电子自旋方向。1×1 mm 2孔引入了动能和波矢量的整合。然后通过p = s -1（iσ + - iσ - ） /（Iσ + +iσ-）确定极化，其中我们估计检测器的Sherman功能在0.15和0.3之间[3]。对于动能，它对应于使用的通行能量的0.23％（在我们的情况下为10 eV），因此对应于23 MeV。与分析仪的能量分辨率（该通行能量为10 MEV，入口缝隙为400 µm），总体动能分辨率为25 MeV。对于波矢量，1 mM孔径对应于总（30°）角范围的4％的积分，这给出了1.2°。在20 eV光子能量时，对于费米水平的电子，这给出了k分辨率约为0.048°a -1。分析仪光学元件是可移动的，可以在大型2D（30°×30°）角范围内收集电子。为了在费米级别绘制自旋纹理，将分析仪设置为适当的动能，而光学器件则沿两个x和y垂直方向移动0.2◦。在每个步骤中测量两个面内旋转组件。